到手動探針臺，它的主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。它是陳本比較高的儀器，不光是要在使用時好好維護，不用時也需要好好保存。怎樣保存呢？1、儀器的運輸：儀器運輸時，請先拔掉電源線插頭。儀器運輸應使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺的任何運動部件。2、避免碰撞：在安裝，操作CS探針臺時應避免碰撞，機體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機器發生故障或異常異音。3、停電或長期不用、外出旅行時，請將電源線插頭拔掉以維護手動探針臺壽命。4、手動探針臺應放在穩定可靠的臺面上，比如具有防震裝置的工作臺上，避免在高溫，潮濕激烈震動，陽光直接照射和灰塵較多的環境下使用。5、使用完后需要注意保持清潔，盡量把灰塵吹干盡，以免灰塵將機械部件，光學部件，電學接觸面污染，導致儀器精度降低。探針臺機體清潔時，避免直接潑水清理，以無塵布輕輕擦拭并吹干即可。不可用硬物接觸機器，以免發生故障或危險。探針臺光學部件清潔時，可用鏡頭紙蘸無水酒精從中間向外輕輕的擦拭。無水酒精是易燃物，使用是要注意。低溫探針臺集成系統。成都 CV測試探針臺

探針臺操作步驟：1.將測試產品放入探針臺的臺盤上;2.打開顯微鏡光源燈（LED或光源機）;3.打開背光面板光源開關;4.調整Zaxis高度對焦，使能清楚看到樣品圖象為OK;5.調整目鏡和Zoom倍率，使影像清晰;二.點針操作步驟：1.通過移動鏡頭組部分找到Sample要下針的地方;2.調整針座位置，將三軸歸零;3.調整針座仰角機構，使針尖位于顯微鏡射出光斑**上方1-2mm處;4.利用低倍鏡頭找到針尖，將針尖移至視野**位置并通過調整焦距使針尖達到*清晰;6.切換至高倍鏡頭，找到針尖;7.利用針座的X-Y-Z軸微調下針;8.量測完畢后，逆時針旋轉鈕針座的仰角機構的旋鈕取出快速將針往上抬起，針尖即可移開針Sample;移動座平臺或者顯微鏡相關移動機構時，請注意小心避免與鏡頭或被測品碰撞9.移開針座，取出背光面板光源和光源燈等電源.山東低阻測試探針臺如何維護和保養高溫探針臺呢？

探針臺應用手動探針臺廣泛應用于，科研單位研發測試、院校教學操作、企業實驗室芯片失效分析等領域。一般使用于研發測試階段 ，批量不是很大的情況，大批量的重復測試推薦使用探卡。主要功能：搭配外接測試測半導體參數測試儀、示波器、網分等測試源表，量測半導體器件IV CV脈沖/動態IV等參數。用途：以往如果需要測試電子元器件或系統的基本電性能（如電流、電壓、阻抗等）或工作狀態，測試人員一般會采用表筆去點測。隨著電子技術的不斷發展，對于精密微小（納米級）的微電子器件（如IC、晶圓、芯片、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector），表筆點到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應運而生,利用高精度微探針將被測原件的內部訊號引導出來，便于其電性測試設備（不屬于本機器）對此測試、分析。

    微納探針臺可在納米尺度上對樣品和測試設備進行電學表特征：1、快速、精確、穩定微納探針臺包含4個壓電三軸探針臂，每個三軸配備1個可拆卸式電學探針接口，可在毫米級尺度上進行宏觀運動并實現納米尺度上的微觀運動。2、使用場景多樣化微納探針臺結構緊湊，占用空間小，運動行程大，可匹配各種顯微鏡樣品臺，真空室，光學試驗臺等工作條件。3、完善的技術解決方案微納探針臺與尼康金相顯微鏡/SR-Scopel集成形成的探針臺電學測量系統，為宏觀行程上進行的微觀尺度電學及表征測量提供了具體的解決方案。4、直觀、方便微納探針臺通過手柄控制，具有多級宏觀調速，脈沖運動，以及位移微調功能，宏觀運動速度跨度在5um/s~2mm/s，單點脈沖步進可達300nm以下，微調運動分辨率小于1nm，在顯微鏡下操作更直觀，方便，精細。5、高度集成微納探針臺電學測量系統，配備完善的光學顯微鏡模塊，配備亮度調節，增益和變焦等功能，與電腦連接后，可實現圖像快照，尺寸測量和標注，視頻記錄等常規功能。 探針測試臺x-y工作臺。

探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器/半導體測試系統配合來測試芯片/半導體器件。這些測試可以很簡單，例如連續性或隔離檢查，也可以很復雜，包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓級別的測試允許制造商在生產過程中多次測試芯片器件，這可以提供有關哪些工藝步驟將缺陷引入產品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯，這在封裝成本相對于器件成本高的應用中很重要。探針臺還可以用于研發、產品開發和故障分析應用。給大家普及一下探針臺是干什么用的。上海直流探針臺

探針臺是半導體(包含集成電路、分立器材、光電器材、傳感器)行業的檢測標配。成都 CV測試探針臺

高低溫探針臺優勢1.滿足各種溫度的需求：可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求，因為晶圓在低溫大氣環境測試時，空氣中的水汽會凝結在晶圓上，會導致漏電過大而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時，氧化現象會越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差，物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因為熱脹冷縮現象，定位好的探針與器件間會有相對位移，這時需要針座的重新定位，我們針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置。2、體積小，穩定性高：與傳統探針臺相比，高低溫真空探針臺的穩定性更高，采用先進的技術工藝，讓探針臺在工作過程中流暢性更高，平穩性更高，從而保證每次實驗數據的穩定性，這樣實驗得出的結果就會更加準確。3、成本更低，可兼容直流跟射頻測試的運用：與傳統探針臺相比，這種探針臺采用先進的合成材料，成本方面比傳統探針臺更低，但是功能性都更加強大。成都 CV測試探針臺

上海波銘科學儀器有限公司是我國拉曼光譜儀，電動位移臺，激光器，光電探測器專業化較早的有限責任公司（自然）之一，公司成立于2013-06-03，旗下愛特蒙特，已經具有一定的業內水平。公司主要提供上海波銘科學儀器有限公司是一家實力的光學儀器生產廠家,同時也是愛特蒙特正式代理商,主要提供光學儀器如光柵光譜儀,熒光光譜儀,膜厚測量儀,探測器響應分析儀等科研光學儀器.并且提供光學機械,電子測量解決方案,制造工藝精良,質量可靠,性能穩定,報價合理,售后無憂,值得信賴.等領域內的業務，產品滿意，服務可高，能夠滿足多方位人群或公司的需要。波銘科儀將以精良的技術、優異的產品性能和完善的售后服務，滿足國內外廣大客戶的需求。