熒光壽命可以在頻域或者時間域測量。時間域測量方法涉及用短光脈沖照射樣品（比色皿、細胞或組織），然后隨時間測量發射強度。FLT由衰減曲線的斜率確定。有幾種熒光檢測方法可用于壽命測量，其中時間相關單光子計數（TCSPC）可實現簡單的數據收集和增強的定量光子計數。頻域方法涉及高頻率入射光的正弦調制。在該方法中，發射發生在與入射光相同的頻率處，并且隨著激發光兼有相位延遲和振幅的變化（解調）。壽命測量不需要波長比率探針來提供眾多分析物的定量測定。壽命法通過使用光譜位移探針擴展了分析物濃度范圍的靈敏度。壽命測量可用于沒有直接探針的分析物。包括葡萄糖、抗原或基于熒光能量轉移轉導機制的任何親和力或免疫測定。在種類繁多的顯微技術中，熒光壽命顯微成像技術被普遍地應用于生物學研究及臨床診斷等領域。佛山三維熒光壽命成像訂購
在使用TCSPC測量熒光壽命的過程中，需要調節樣品的熒光強度，確保每次激發后較多只有一個熒光光子到達終止光電倍增管。TCSPC方法的突出優點是靈敏度高、測量結果準確、系統誤差小。采用該技術對樣品進行熒光壽命成像時，必須逐點測量樣品的熒光壽命，而每一點的測量時間又比較長，因此，通常認為該技術不太適合熒光壽命測量。不過，近年來，隨著TCSPC技術和固體超快激光技術的發展，TCSPC技術已具備快速測量熒光壽命的條件。通過與激光共聚焦顯微鏡的結合，可以對樣品進行熒光壽命成像的測量。佛山三維熒光壽命成像訂購熒光壽命(FLT)是熒光團在發射光子并返回基態之前花費在激發態的時間。
顯微熒光壽命成像應用：材料科學領域：寬禁帶半導體等體系的少子壽命mapping 測量；量子點等用作熒光壽命成像顯微鏡探針；鈣鈦礦電池/LED 薄膜的組分分析、缺陷檢測；銅銦鎵硒CIGS，銅鋅錫硫CZTS 薄膜太陽能電池的組分、缺陷檢測；鑭系上轉換納米顆粒；GaAs 或GaAsP 量子阱的載流子擴散研究；生命科學領域：細胞體自身熒光壽命分析；自身熒光相對熒光標記的有效區分；活細胞內水介質的PH 值測量；局部氧氣濃度測量；具有相同頻譜性質的不同熒光標記的區分；活細胞內鈣濃度測量；時間分辨共振能量轉移（FRET）：納米級尺度上的遠差測量，環境敏感的FRET 探針定量測量；代謝成像：NAD(P)H 和FAD 胞質體的熒光壽命成像。
熒光壽命是熒光團在發射熒光光子返回基態之前保持其激發態的平均時間長度。這取決于熒光團的分子組成和納米環境。熒光壽命成像將壽命測量與成像相結合：對每個圖像像素以測得的熒光壽命進行顏色編碼，產生額外的圖像反差。因此，熒光壽命成像可以提供關于熒光分子空間分布的信息和有關其生化狀態或納米環境的信息。有很多技術可以在顯微鏡環境中檢測熒光壽命。常見的的是基于供體（受體光漂白，FRET AB）或受體（敏化發射，FRET SE）熒光強度的技術。熒光壽命對依賴于熒光團結構的內部因素敏感。
熒光壽命成像裝置通常由激發光源、光電探測器、延遲儀器及圖像處理設備組成。門控儀器的光源通常為短脈沖的超快激光器，常見的成像設備是CCD，延遲儀器提供FLIM的控制信號。由于光電探測器和CCD等器件輸出的是光強度信息，熒光壽命圖像可以通過Rapid Lifetime Determination （RLD）和Weighted Nonlinear Least Square （WNLLS）兩種處理方法利用熒光強度圖像通過反演得出。熒光壽命成像（FLIM）有時域和頻域測量法，時域測量中主要有TCSPC技術、門控探測技術、條紋相機探測技術和頻閃技術；頻域測量法中主要是調制技術。每一種測量技術在測量樣品成像的過程中都有優勢和劣勢，在實際測量樣品的熒光壽命時，需要根據實際的樣品裝填而綜合考慮選擇合適的熒光壽命測量技術。熒光壽命成像可用于多種生物應用，包括組織表面掃描、組織類型繪圖、光動力治理、皮膚成像等。佛山三維熒光壽命成像訂購
熒光壽命成像能夠靈敏地反應熒光基團生化特性以及周圍微環境的變化情況。佛山三維熒光壽命成像訂購
熒光壽命成像顯微技術已在生命科學，臨床熒光壽命領域中得到了普遍的應用。成像，擴散光學層析成像，熒光相關光譜等等。使用我們專有的多維時間相關單光子計數技術（TCSPC），我們的FLIM和TCSPC系統具有超高光子效率的特點。因此，科學家，醫生，研究人員和其他用戶能夠進行TCSPC FLIM顯微鏡檢查，多波長FLIM，同時FLIM和快速獲取FLIM。生命科學是我們熒光壽命成像顯微（FLIM）設備的主要應用領域。我們的技術經常用于以下領域：分子影像學、代謝成像、FRET成像、同時進行NAD(P)H和pO2成像。佛山三維熒光壽命成像訂購
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