每周一上午趕制良率周報曾是質量團隊的固定負擔：手動匯總Excel、調整圖表、統(tǒng)一格式，耗時且易出錯。YMS內置報表模板可按日、周、月自動生成結構化報告，內容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對比、時間趨勢等關鍵指標，并支持一鍵導出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經營會議，客戶審計接收標準化PDF文檔，工程師則調取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑，避免信息互相影響。報表制作時間從數(shù)小時降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表功能，推動企業(yè)決策從“經驗驅動”向“數(shù)據(jù)驅動”轉型。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，可以將測試后處理的芯片做降檔處理，降低測試Cost。江西半導體Mapping Inkless工具

當多臺測試設備同時產出異構數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設備的spd、jdf、zip等格式數(shù)據(jù)統(tǒng)一解析、清洗并結構化存儲，構建一致的數(shù)據(jù)底座。在此基礎上，結合WAT、CP、FT等關鍵測試階段的參數(shù)變化，系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關聯(lián)，輔助工程師精確調整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應周期。報表功能支持按需定制并導出多種辦公格式，提升跨部門協(xié)同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預防批量性質量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質取勝”的宗旨，致力于打造適配國產半導體生態(tài)的智能良率管理工具。四川可視化Mapping Inkless服務GDBC算法識別的聚類區(qū)域常指向設備或掩模問題，反饋工藝優(yōu)化方向。

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產生的特定區(qū)域內的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關鍵任務。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠將質量管控的關口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規(guī)、工規(guī)等產品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導致的批次性可靠性風險，為客戶構建起一道應對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。

良率波動若不能及時干預，可能造成數(shù)百萬級的產能損失。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，即時采集并清洗來自多種測試平臺的異構數(shù)據(jù)，構建高可信度分析基礎。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產品月度良率下降與特定封裝線關聯(lián)，并結合FT參數(shù)驗證是否為打線偏移導致。SYL/SBL卡控機制設置動態(tài)閾值，在指標異常時自動預警，實現(xiàn)前置質量管控。多周期報表自動生成并支持多格式導出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種“實時感知—智能歸因—主動干預”的能力，將良率管理從經驗驅動升級為數(shù)據(jù)驅動。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續(xù)打磨YMS的可靠性與實用性。Mapping Over Ink處理支持結果回溯，確保數(shù)據(jù)在供應鏈中無縫傳遞。

當CP良率驟降而FT失敗模式復雜時，只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架，建立跨階段關聯(lián)模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時CP漏電流異常升高，YMS可自動關聯(lián)兩者趨勢，提示前道氧化工藝可能存在波動。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化，快速鎖定關鍵影響因子，避免在封裝或測試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時，減少試產浪費。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數(shù)據(jù)，使YMS成為良率攻關的關鍵工具。Mapping Over Ink處理技術適用于消費類至車規(guī)級全品類芯片，覆蓋廣泛應用場景。四川可視化Mapping Inkless服務

Mapping Over Ink處理支持txt與原始Probe格式雙向轉換，滿足多樣化數(shù)據(jù)需求。江西半導體Mapping Inkless工具

面對國產半導體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實現(xiàn)質量閉環(huán)的關鍵工具。系統(tǒng)自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數(shù)據(jù)，通過內置算法識別重復項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標準化數(shù)據(jù)庫支撐下，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域對比缺陷分布，快速定位工藝波動點。結合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注打造適配本土需求的YMS系統(tǒng)，助力構建中國半導體軟件生態(tài)。江西半導體Mapping Inkless工具

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領域的發(fā)展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！