當測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數據時，傳統人工清洗往往需耗費數小時核對字段、剔除重復記錄。YMS系統通過自動解析引擎識別各類數據結構，檢測重復性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數據統一歸入標準化數據庫，確保后續分析基于一致、干凈的數據源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數據清洗作為YMS的基礎能力，支撐客戶實現高效、可靠的良率管理。客戶可復用Mapping Over Ink處理結果進行跨批次對比分析，優化生產工藝。四川可視化Mapping Inkless解決方案

面對國產替代需求，選擇具備技術自主性和行業適配能力的良率管理系統廠商至關重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數據格式，實現從采集、解析到異常過濾的全流程自動化。其分析引擎支持時間序列追蹤、晶圓區域對比及WAT/CP/FT參數聯動，精確識別影響良率的關鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報表導出功能，進一步強化過程管控與決策支持。更重要的是，系統背后有完整的實施與服務體系支撐，確保從部署到優化的每個環節可靠落地。這種“軟硬協同”的能力，使YMS在國產軟件生態中具備強大競爭力。偉諾依托多年項目積累，持續驗證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業價值。湖南可視化PATMapping Over Ink處理助力國產軟件生態建設，推動技術自主可控。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數據流，傳統手工轉換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統采用智能解析與清洗技術，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結構完整。系統支持批量歷史數據導入與實時測試流同步處理，無論數據來自ASL1000還是TR6850，均能統一轉化為可用于分析的標準數據集。在此基礎上，異常值被自動過濾，重復記錄被精確剔除，明顯提升數據可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數據特征，構建了這一高效可靠的數據預處理體系。

為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環節中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統電性測試的盲區。一顆芯片可能電性參數測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續的封裝應力或終端應用中有極高早期失效的風險，是產品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關鍵問題：一是通過數據融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現從質量判定到生產執行的自動化，有效提升品質與效率。GDBC聚類結果支持根因快速定位，加速工藝問題解決效率。

當封測廠同時運行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時，不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數據往往難以統一處理。YMS系統通過內置的多協議解析引擎，自動識別并適配各類測試平臺的數據結構，將異構原始數據轉換為標準化內部格式，消除因設備差異導致的信息割裂。模塊化接口設計確保新增設備可快速接入，無需重構系統架構。這種“即插即用”的兼容能力，使企業能集中管理全產線測試數據，避免為不同平臺維護多套分析流程。數據采集的穩定性與實時性由此得到保障，為后續良率分析奠定一致基礎。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS的平臺兼容性，支撐客戶在復雜設備環境中實現高效數據治理。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。湖南可視化PAT

參數漂移趨勢在PAT分析中清晰呈現，實現早期風險預警。四川可視化Mapping Inkless解決方案

晶圓邊緣區域良率持續偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統在完成stdf、log等原始數據清洗后，依據晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現中心、過渡區與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區域的表現，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現象是偶發異常還是系統性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優化措施從“整體調整”轉向“精確干預”，明顯提升工藝調試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。四川可視化Mapping Inkless解決方案

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優秀人才，集企業奇思，創經濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區的數碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業的方向，質量是企業的生命，在公司有效方針的領導下，全體上下，團結一致，共同進退，**協力把各方面工作做得更好，努力開創工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結經驗，才能繼續上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！