不同封測廠的設備組合、工藝路線和管理重點差異明顯，標準化系統難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產良率管理方案，可根據客戶實際接入的Tester設備（如T861、STS8107、MS7000等）和數據結構，調整解析邏輯、分析維度與報表模板。例如，針對高頻返工場景，可定制缺陷聚類規則；針對客戶審計需求，可開發合規性報告模塊。系統底層保持統一數據治理規范，上層應用則靈活適配業務流程，確保數據質量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動計算與多格式報表導出功能，進一步提升質量閉環速度。這種“量體裁衣”式的服務模式，使系統真正融入客戶日常運營。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發視為價值共創過程，以技術靈活性支撐客戶業務獨特性。Mapping Over Ink處理實現測試通過率與長期可靠性雙重保障，平衡質量與產出效率。吉林自動化PAT工具

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數據流，傳統手工轉換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統采用智能解析與清洗技術，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記，確保每條記錄結構完整。系統支持批量歷史數據導入與實時測試流同步處理，無論數據來自ASL1000還是TR6850，均能統一轉化為可用于分析的標準數據集。在此基礎上，異常值被自動過濾，重復記錄被精確剔除，明顯提升數據可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際數據特征，構建了這一高效可靠的數據預處理體系。甘肅自動化MappingOverInk處理解決方案Mapping Over Ink處理系統與MES、SPC平臺實現數據聯動，構建智能化質量管理閉環。

良率波動若只憑單點數據判斷，容易誤判趨勢。YMS系統將每日、每周、每月的測試結果按時間序列歸檔，生成連續良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現變化規律。當某產品線周良率從98%驟降至95%時，系統不僅高亮異常區間，還可聯動同期WAT參數漂移或設備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監控關鍵產品，工程師則可深入分析小時級波動以優化機臺參數。這種動態追蹤能力，使質量干預從事后追溯轉向事中預警。結合靈活報表工具，時間維度分析結果可一鍵導出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現精細化過程管控。

半導體制造過程中，良率數據的時效性與準確性直接決定工藝優化的效率。YMS系統通過自動采集ASL1000、SineTest、MS7000等測試平臺生成的多源數據，完成端到端的數據治理，消除因格式混亂或信息缺失導致的分析盲區。系統建立的標準化數據庫，使生產團隊能夠從時間軸觀察良率波動規律，或聚焦特定晶圓區域識別系統性缺陷，從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數的自動計算與閾值卡控，為過程質量提供前置預警。同時，系統內置的報表引擎可一鍵生成周期性分析簡報，并以PPT、Excel或PDF形式輸出，便于管理層掌握產線健康狀態。這種數據驅動的管理模式，明顯提升了制造穩定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專注半導體行業系統開發，其YMS產品正助力制造企業邁向精細化運營。Mapping數據經解析后與Bin信息精確對齊，確保測試結果可追溯。

芯片制造過程中，良率波動若不能及時識別，可能導致整批產品報廢。YMS系統通過自動采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測試數據，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。標準化數據庫支持從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常點。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，可區分是設計問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節點，實現預防性質量干預。靈活報表工具按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續優化YMS系統，助力芯片制造企業構建自主可控的質量管理能力。Mapping Over Ink處理嚴格遵循AECQ標準進行風險判定，確保車規級芯片可靠性。甘肅可視化Mapping Inkless

Mapping Over Ink處理減少人工復核負擔，提升質量控制效率。吉林自動化PAT工具

為提升晶圓測試（CP測試）的質量與可靠性，行業的關注點已從單一的電性性能測試，擴展到電性與物理外觀并重的綜合質量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環節中，引入外觀檢測設備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統電性測試的盲區。一顆芯片可能電性參數測試“通過”，但其物理結構已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續的封裝應力或終端應用中有極高早期失效的風險，是產品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關鍵問題：一是通過數據融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現從質量判定到生產執行的自動化，有效提升品質與效率。吉林自動化PAT工具

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！