Mapping Over Ink是一套在晶圓測試(CP)后,對電性測試圖譜進行智能分析、處理,并直接驅動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統。它將各種分析算法(如ZPAT, GDBN)得出的“失效判定”轉化為物理世界中的行動——將不良品標記出來,使其在后續封裝中被剔除。其重點是預見性地剔除所有潛在缺陷芯片,而不僅是那些已經明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。
上海偉諾信息科技有限公司作為半導體測試領域的解決方案供應商,致力于為國內外半導體設計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業界前沿、專業的數據分析與處理模塊,旨在通過多重維度的智能篩選,構筑起一道安全的質量防線,有效地提升用戶的晶圓測試質量與產品可靠性。 GDBC算法利用聚類分析檢測空間聚類型失效模式,精確定位斑點劃痕類缺陷。廣西晶圓PAT

國產良率管理系統的價值在于將碎片化測試數據轉化為可執行的工藝洞察。YMS系統自動對接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設備,處理十余種格式原始數據,確保從晶圓到芯片級的數據鏈完整可靠。系統不僅清洗異常記錄,還通過圖表直觀展示良率在不同時間段或晶圓象限的差異。這有助于工程師判斷是否為光刻對準偏差或刻蝕不均所致。結合WAT、CP與FT參數聯動分析,可區分設計缺陷與制造變異,縮短問題排查周期。這種從“看見異常”到“理解根因”的能力,推動質量改進從被動響應轉向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解,推動YMS成為國產替代的關鍵支撐。中國臺灣半導體MappingOverInk處理Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常,指導工藝改進方向。

良率管理系統的價值不僅在于技術實現,更在于對半導體企業關鍵痛點的精確回應。當設計公司或制造工廠面臨測試數據分散、格式混亂、分析滯后等問題時,YMS系統通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備,自動完成從數據采集到異常過濾的全流程治理。標準化數據庫為多維度分析奠定基礎,使時間趨勢、區域對比、參數關聯等洞察成為可能。例如,通過對比同一晶圓邊緣與中心區域的良率差異,可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題;結合FT與CP數據偏差,可追溯封裝環節的潛在風險。SYL與SBL的自動計算功能,則為良率目標達成提供量化依據。報表系統支持靈活配置與多格式導出,明顯降低管理溝通成本。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本,以質取勝”為準則,推動YMS成為國產半導體提質增效的可靠伙伴。
每日晨會前臨時整理良率報表,常因數據口徑不一引發爭議。YMS系統按預設模板自動生成日報、周報、月報,內容涵蓋良率趨勢、區域缺陷分布、WAT/CP/FT關聯分析等關鍵指標,并支持一鍵導出為PPT、Excel或PDF格式。生產主管可用PPT版直接匯報,質量工程師調取Excel原始數據深入挖掘,客戶審計則接收標準化PDF文檔。自動化流程消除手工匯總誤差,確保全公司使用同一套可靠數據。報告生成時間從數小時壓縮至分鐘級,大幅提升跨部門協同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表工具,讓數據真正服務于決策閉環。Mapping Over Ink處理嚴格遵循AECQ標準進行風險判定,確保車規級芯片可靠性。
在半導體設計與制造流程中,良率管理系統的價值體現在對復雜測試數據的高效整合與深度挖掘。系統自動對接多種測試設備輸出的異構數據,完成清洗、去重與結構化處理,構建可靠的數據基礎。通過對WAT、CP、FT等關鍵工藝節點參數的聯動分析,系統能夠揭示潛在的工藝偏差或設計缺陷,為研發和制造團隊提供可執行的優化建議。多維度圖表直觀呈現良率波動與缺陷分布,支持從批次到晶圓級別的精細追溯。報表功能滿足不同管理層級對數據呈現的多樣化需求,實現從現場到決策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本,以質取勝”的理念,持續打磨YMS產品,推動國產半導體軟件生態建設。Mapping Over Ink處理技術適用于消費類至車規級全品類芯片,覆蓋廣泛應用場景。陜西MappingOverInk處理軟件
上海偉諾信息科技Mapping Bin 轉換功能,可以將Wafer Map上指定坐標的芯片進行Ink。廣西晶圓PAT
半導體制造過程中,良率數據的時效性與準確性直接決定工藝優化的效率。YMS系統通過自動采集ASL1000、SineTest、MS7000等測試平臺生成的多源數據,完成端到端的數據治理,消除因格式混亂或信息缺失導致的分析盲區。系統建立的標準化數據庫,使生產團隊能夠從時間軸觀察良率波動規律,或聚焦特定晶圓區域識別系統性缺陷,從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數的自動計算與閾值卡控,為過程質量提供前置預警。同時,系統內置的報表引擎可一鍵生成周期性分析簡報,并以PPT、Excel或PDF形式輸出,便于管理層掌握產線健康狀態。這種數據驅動的管理模式,明顯提升了制造穩定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專注半導體行業系統開發,其YMS產品正助力制造企業邁向精細化運營。廣西晶圓PAT
上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念,先進的管理經驗,在發展過程中不斷完善自己,要求自己,不斷創新,時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司,在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**,在業界也收獲了很多良好的評價,這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果,這些評價對我們而言是比較好的前進動力,也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神,努力把公司發展戰略推向一個新高度,在全體員工共同努力之下,全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來,創造更有價值的產品,我們將以更好的狀態,更認真的態度,更飽滿的精力去創造,去拼搏,去努力,讓我們一起更好更快的成長!