高通道密度（512~2048數字通道）——適配復雜AISoC引腳規模，現代AI芯片引腳數常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統測試設備通道不足。支持**多2048個數字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時復用導致的測試盲區。滿足寒武紀、壁仞、華為昇騰等國產AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進入數據中心與邊緣計算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實現真實AI負載場景回放，AI推理/訓練涉及復雜算法流（如Transformer、CNN），需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能，更能模擬實際應用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產品上市周期。 國磊GT600SoC測試機通過加載Pattern，驗證SoC邏輯（如CPU、NPU、DSP）的功能正確性與邏輯測試及向量測試。南京CAF測試系統生產廠家

智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動駕駛技術的快速演進，車載計算平臺對SoC（系統級芯片）的性能、可靠性與實時性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規劃與決策控制等復雜任務。然而，如此復雜的芯片架構對測試環節構成了巨大挑戰。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借高達400 MHz的測試速率、512至2048個數字通道以及每通道高達128M的向量存儲深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗證階段所需的高并發、高精度測試場景，為芯片從設計到量產提供堅實保障。國磊PCB測試系統研發公司堅持創新，持續為客戶創造價值是我們的價值觀。

傳統測試設備面向通用CPU/GPU設計，難以應對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯等新架構。GT600針對此類需求優化了測試向量調度機制與并行激勵生成能力，支持對非規則數據流、動態稀疏***、混合精度運算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構系統的工作狀態。這種“為AI而生”的設計理念，使GT600不僅兼容現有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創新。在杭州打造“中國算力之城”的進程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進，**國產測試技術范式升級。

    1.高邊沿精度保障高速接口時序合規性。現代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口，用于連接傳感器與**計算單元。這些接口對信號邊沿時序要求極為嚴苛。杭州國磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度，能夠精確模擬高速信號的上升/下降沿，并配合Digitizer板卡捕獲實際輸出波形，驗證眼圖、抖動與建立/保持時間是否符合協議規范。這種高精度時序控制能力，是確保車載高速通信鏈路穩定性的關鍵測試手段。開放式軟件生態賦能定制化測試開發。杭州國磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開放式GTFY編程環境，允許客戶根據自身芯片特性開發定制化測試流程。對于智能駕駛芯片廠商而言，這意味著可將內部驗證方法論（如ISO26262功能安全測試用例）直接嵌入測試程序，實現自動化安全機制驗證。同時，圖形化數據顯示與用戶管理界面便于測試工程師快速定位故障引腳或模塊，大幅提升調試效率，縮短芯片迭代周期。 國磊GT600SoC測試機可驗證電源門控（PowerGating）開關的漏電控制效果。

 PPMU功能實現每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個電源域，以實現動態功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對于驗證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關重要。例如，在模擬車輛啟動瞬間電源波動時，GT600可精確監測各電源域的電流響應，確保SoC不會因電源異常導致功能失效或安全風險。國磊GT600測試系統只需通過“配置升級”和“方案打包”，就能快速適配Chiplet的復雜測試需求。揚州CAF測試系統生產廠家

GM8800高阻測試系統可長時間穩定運行1-9999小時。南京CAF測試系統生產廠家

    測試數據閉環助力量子芯片協同優化，杭州國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數據分析與圖形化顯示功能。這些測試數據可與量子芯片的設計仿真平臺聯動，形成“測試—反饋—優化”閉環。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全量子技術屬于國家戰略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。杭州國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統已實現對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然杭州國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特，但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器，也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。 南京CAF測試系統生產廠家