AI大模型芯片的“算力守門人” 在AI大模型驅動算力**的***，國產AI芯片（如寒武紀、壁仞）正加速替代英偉達GPU。然而，這些芯片內部集成了數千個AI**與高速互聯總線，其功能復雜度與功耗控制要求極高。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借400MHz測試速率與128M向量深度，可完整運行復雜的AI推理算法測試向量，驗證NPU在真實負載下的計算精度與吞吐能力。其高精度PPMU能精確測量芯片在待機、輕載、滿載等多場景下的動態電流，確保“每瓦特算力”達標。同時，杭州國磊GT600支持512站點并行測試，大幅提升量產效率，降低單顆芯片測試成本，為AI芯片大規模部署數據中心提供堅實支撐。可以說，杭州國磊GT600不僅是AI芯片的“質檢員”，更是其從實驗室走向萬卡集群的“量產加速器”。國磊半導體，推動測試技術的進步與創新。東莞SIR測試系統供應商

支撐國產芯片全流程自主驗證 從設計到量產，芯片必須經過嚴格的功能與參數測試。若測試設備受制于人，不僅存在數據安全風險（如測試程序、芯片特性被第三方獲取），還可能因設備兼容性問題拖慢研發節奏。國磊（Guolei）GT600采用開放式GTFY軟件架構，支持C++編程、自定義測試流程，并兼容STDF、CSV等標準格式，使國產CPU、GPU、AI加速器、車規MCU等關鍵芯片可在完全自主可控的平臺上完成工程驗證與量產測試，確保“設計—制造—測試”全鏈條安全閉環。加速國產芯片生態成熟與迭代 供應鏈安全不僅在于“有無”，更在于“效率”與“響應速度”。國磊作為本土企業，可提供快速的技術支持、定制化開發和本地化服務。例如，某智能駕駛芯片廠商在流片后發現高速接口時序異常，國磊工程師可在48小時內協同優化TMU測試程序，而依賴國外設備則可能需數周等待遠程支持。這種敏捷響應能力極大縮短了國產芯片的調試周期，加速產品上市，提升整個生態的競爭力與韌性。紹興導電陽極絲測試系統哪家好高達256通道的并行測試能力，GM8800極大提升您的檢測效率。

    低溫CMOS芯片的常溫預篩與參數表征許多用于量子計算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標準CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機前，必須通過常溫下的嚴格電性測試進行預篩選。杭州國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數測量單元）和可編程浮動電源（），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關鍵參數，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費。量子測控SoC的量產驗證平臺隨著量子計算機向百比特以上規模演進，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的HorseRidge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號調制、頻率合成、反饋控制等功能，結構復雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗證與小批量量產階段的功能覆蓋與性能分bin需求。

國磊（Guolei）SoC測試系統，特別是其GT600高性能測試平臺，在當前全球半導體產業鏈高度競爭與地緣***風險加劇的背景下，對保障中國半導體及**制造領域的供應鏈安全具有戰略意義。打破**ATE設備進口依賴 自動測試設備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規芯片測試領域，國產設備幾乎空白。國磊GT600實現了400MHz測試速率、2048通道擴展、高精度AWG/TMU等關鍵技術指標的突破，具備替代進口設備的能力。這***降低了國內晶圓廠、封測廠和芯片設計公司在**測試環節對國外設備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術封鎖導致產線停擺。強大的軟件系統，提供實時數據采集和深度分析功能。

醫療成像芯片 CT、MRI、內窺鏡等設備的圖像傳感器（CIS）和圖像信號處理器（ISP）對圖像質量要求極高。國磊GT600可通過高速數字通道測試ISP的圖像處理算法（如降噪、邊緣增強），并通過AWG注入模擬圖像信號，驗證成像鏈路的完整性與色彩還原度。 4. 植入式醫療設備芯片 心臟起搏器、神經刺激器等植入設備的芯片必須**功耗、超高可靠。國磊GT600的FVMI模式可精確測量uA級靜態電流，篩選出“省電體質”芯片；其支持長時間老化測試，可模擬10年以上使用壽命，確保植入后萬無一失。 綜上，國磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”測試能力，為國產**醫療芯片的上市提供了堅實的質量保障。國磊GT600SoC測試機支持Real-time與Pattern-triggered頻率測試模式，適用于HBM時鐘網絡穩定性分析。PCB測試系統精選廠家

國磊GT600支持循環執行睡眠-喚醒測試，實時采集功耗數據并自動生成報告，提升測試效率與可重復性。東莞SIR測試系統供應商

杭州國磊GT600提供512個數字通道，并可擴展至2048通道，配合16個通用插槽，構建了高度靈活的硬件架構。在測試一顆引腳數超500的手機SoC時，512通道可完全覆蓋其I/O需求，無需復用或分時測試，確保信號同步性。16個插槽支持自由組合數字板卡、模擬板卡（AWG/TMU）、電源板卡（DPS/SMU），實現“數字+模擬+混合信號”一體化測試。例如，測試智能座艙芯片時，部分插槽配置為高速數字通道測試CPU邏輯，另一部分接入AWG生成音頻信號測試DAC，再通過TMU測量顯示接口時序。這種模塊化設計讓GT600能像“變形金剛”一樣適配不同芯片需求，從低引腳MCU到高集成SoC，一機通測，大幅降低企業設備采購與維護成本。東莞SIR測試系統供應商