HBM接口動輒上千個高速信號引腳，數據速率高達Gbps級別，對測試設備的通道密度、測試速率與時序精度提出極限挑戰。國磊GT600測試機以400MHz測試速率和**2048個數字通道的強大配置，從容應對HBM接口的高并發、高速邏輯測試需求。其128M向量存儲深度可完整運行復雜協議測試Pattern，確保功能覆蓋無遺漏。更關鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，大幅提升測試吞吐量，**降低AI芯片的單顆測試成本。在HBM驅動的算力**中，GT600不**是測試工具，更是提升國產AI芯片量產效率與市場競爭力的**引擎。國磊GT600每通道集成PPMU支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV多種模式，滿足運放、比較器等模擬器件特性測試需求。紹興導電陽極絲測試系統哪家好

杭州國磊GT600提供512個數字通道，并可擴展至2048通道，配合16個通用插槽，構建了高度靈活的硬件架構。在測試一顆引腳數超500的手機SoC時，512通道可完全覆蓋其I/O需求，無需復用或分時測試，確保信號同步性。16個插槽支持自由組合數字板卡、模擬板卡（AWG/TMU）、電源板卡（DPS/SMU），實現“數字+模擬+混合信號”一體化測試。例如，測試智能座艙芯片時，部分插槽配置為高速數字通道測試CPU邏輯，另一部分接入AWG生成音頻信號測試DAC，再通過TMU測量顯示接口時序。這種模塊化設計讓GT600能像“變形金剛”一樣適配不同芯片需求，從低引腳MCU到高集成SoC，一機通測，大幅降低企業設備采購與維護成本。GEN測試系統定制價格支持定制化線纜長度，適應各種測試環境需求。

杭州國磊SOC測試機：開啟全場景智能測試新紀元在半導體測試領域，杭州國磊SOC測試機憑借***性能與創新技術脫穎而出，成為行業焦點。作為杭州國磊半導體設備有限公司的**產品，它專為系統級芯片（SoC）測試量身打造，以“彈性擴展+國產自研+全棧覆蓋”三大**優勢，為芯片測試提供一站式解決方案。 杭州國磊SOC測試機采用模塊化彈性架構，擁有GC-36旗艦型、GC-18性能型、GC-8經濟型三階主機箱，靈活適配不同規模產線與實驗室驗證需求。其***“硬對接+線纜雙模式”，支持機柜、桌面、機端部署，極大提升了設備部署的便捷性與靈活性。 在性能方面，杭州國磊SOC測試機實現多項突破。數字信號速率高達800Mbps，向量存儲深度達128M，支持多站點并行測試，單機可同步運行32個測試單元，測試吞吐量提升300%，***縮短測試周期。同時，其高壓測試范圍覆蓋-10V至+1000V，時間測量精度達1ps分辨率，滿足**AD/DA芯片、MCU微控制單元等復雜芯片的嚴苛測試需求。 作為國產自研的典范，更在服務響應速度與定制化能力上**一步。其全流程測試覆蓋能力，涵蓋數字、電源、高壓、大功率、射頻分析等六大核心板卡矩陣，為芯片從研發到量產的全生命周期提供堅實保障。

    對國產車而言，其自研車規級MCU（微控制器）與功率半導體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業**嚴苛的可靠性認證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強振動、長期高負載等惡劣環境下仍能穩定運行十年以上。國磊GT600SoC測試機正是這一“車規級體檢”的關鍵設備。其每通道PPMU（精密參數測量單元）可精細測量nA級靜態漏電流（Iddq），識別芯片內部微小缺陷或工藝波動導致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質虛弱”的芯片；同時支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統，驗證MCU在電壓波動、負載突變等真實工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產車構建從研發到量產的高可靠測試閉環，守護每一程出行安全。 國磊GT600可以通過喚醒延遲測試即測量從低功耗模式到激發狀態的響應時間，適用于可穿戴、IoT芯片。

AISoC的NPU模塊不**需要功能驗證，更需精確的參數測試與功耗評估。國磊GT600測試機配備每通道PPMU，可實現nA級靜態電流（IDDQ）測量，**識別AI芯片在待機、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡，支持多電源域**供電與電流監測，用于驗證DVFS（動態電壓頻率調節）和電源門控（PowerGating）策略的有效性。此外，國磊GT600測試機的GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率，可精確測量NPU喚醒延遲、中斷響應時間等關鍵時序參數，確保AI任務的實時性與響應速度。國磊GT600的16個通用插槽支持數字、模擬、混合信號板卡混插，實現電源管理IC、傳感器信號調理芯片的測試。高性能CAF測試系統精選廠家

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GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關閉后，測量該模塊的靜態電流（IDDQ）。若電流**高于設計預期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關未完全關斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網絡控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關斷電流，可暴露常溫下難以發現的微小漏電。通過GTFY軟件系統編寫C++腳本，可自動化執行：施加正常工作電壓；發送指令進入低功耗模式并觸發電源門控；延時穩定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。紹興導電陽極絲測試系統哪家好