高精度模擬測試能力匹配MEMS信號鏈要求，MEMS傳感器輸出信號微弱（如微伏級電容變化或納安級電流），對測試系統的本底噪聲和分辨率要求極高。國磊（Guolei）GT600可選配的GT-AWGLP02 AWG板卡具備**-122dB THD**（總諧波失真）和110dB SNR（信噪比），能生成超純凈激勵信號；同時其Digitizer支持20~24位采樣，可精確捕獲微弱響應。這種能力對于測試MEMS麥克風的靈敏度、壓力傳感器的滿量程輸出或磁力計的偏置穩定性至關重要。支持低功耗與寬電壓范圍測試 許多MEMS器件用于可穿戴設備、物聯網節點等電池供電場景，對功耗極為敏感。國磊（Guolei）GT600的GT-DPSMV08電源板卡支持**-2.5V ~ +7V、1A**輸出，并具備每引腳**電源控制（PPMU），可精確測量待機/工作/休眠各模式下的電流（nA~mA級），驗證MEMS-SoC是否滿足ULP（**功耗）設計目標，這對通過終端產品能效認證（如Energy Star）具有直接價值。國磊GT600GT-TMUHA04時間測量單元支持0.1%讀數精度±10ps，可用于傳感器接口芯片的時序響應與延遲測量。GEN測試系統定制價格

可穿戴設備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機漏電超標，可能導致設備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態電流（Iddq），相當于每秒流過數億個電子的微小電流，能識別芯片內部的“隱形漏電點”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質”的芯片進入量產。同時，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產芯片的用戶體驗提供底層保障。廣州高阻測試系統供應國磊GT600支持循環執行睡眠-喚醒測試，實時采集功耗數據并自動生成報告，提升測試效率與可重復性。

國磊GT600搭載GTFY軟件系統，支持C++編程與VisualStudio開發環境，工程師可編寫腳本實現：自動化掃描電壓/頻率組合（DVFS驗證）；循環執行睡眠-喚醒-滿載測試序列；實時采集功耗數據并生成STDF/CSV報告；大幅提升測試效率與數據可追溯性，助力AI芯片從設計到量產的閉環優化。AI服務器市場的爆發，本質是算力與功耗的持續博弈。國磊GT600并未追逐“算力測試”的表層熱點，而是深入電源管理與功耗驗證這一關鍵底層環節，以nA級漏電檢測、多域電源控制、動態功耗分析與高并行量產能力，成為AI芯片可靠性與能效比驗證的**測試基礎設施。

推動測試設備產業鏈協同發展，國磊（Guolei）GT600的研發帶動了國內精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數字轉換器（TDC），這類**部件的國產化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產”的良性循環，有助于構建完整的國產半導體測試裝備產業鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續性。國磊（Guolei）SoC測試系統不僅是技術工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關鍵基礎設施。它通過實現**測試設備的國產替代、支撐國產芯片自主創新、保障敏感數據安全、促進上下游協同，構筑起一道抵御外部風險的“技術護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產業鏈不可或缺的戰略支點。國磊半導體，推動測試技術的進步與創新。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，杭州國磊（Guolei）SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。 國磊GT600的128M向量存儲深度，支持長時間采集模擬信號動態行為，適用于鎖相環（PLL）、振蕩器等測試。國磊GEN3測試系統價格

我們的系統能有效評估絕緣材料在電場下的性能變化。GEN測試系統定制價格

在“雙碳”目標與數據中心PUE限制日益嚴格的背景下，AI芯片的能效比（TOPS/W）已成為核心競爭力。GT600集成高精度PPMU（每引腳參數測量單元），支持從nA級靜態漏電到數安培動態電流的全范圍測量，并具備微秒級瞬態響應能力，可精細捕捉電壓塌陷、浪涌電流等關鍵電源事件。這一能力使芯片設計團隊能在測試階段繪制詳細的功耗-性能曲線，優化電源門控策略、時鐘門控邏輯及低功耗模式切換機制。對追求***能效的國產AI加速器而言，GT600不僅是驗證工具，更是“每瓦特算力”的精算師，助力中國AI芯片在全球綠色計算浪潮中占據先機。GEN測試系統定制價格