共聚焦顯微鏡掃描時用的是激光光源，激光的穿透力強，可對樣本進行一定深度的光學斷層，從而獲得高標準的連續光學切片，由此做Z軸光學切片后重組出3D效果就能立體地展示樣品里熒光的空間分布。配有高精度電動載物臺和圖像拼接軟件，能完美解決放大倍數和整體成像這一問題。可做時間序列拍攝，實時監測熒光變化，可以把熒光變化的過程以動態的形式展示出來。

共聚焦的應用很廣，像離體細胞、組織切片、物理材料、模式生物等熒光樣本都可以用共聚焦進行拍攝，除了常規的熒光圖片拍攝進行定性定位外，還可以進行熒光的半定量分析、共定位分析、熒光漂白恢復（FRAP）、熒光共振能量轉換(FRET)等，但也要注意一下，常規405-647nm之間的激發波長都可以支持。 共聚焦顯微鏡技術下一步的研究重點。光電流 顯微鏡推薦廠家

激光共聚焦顯微鏡可以將水平分辨率提高40%以上，其優勢可以達到120nm。激光共聚焦顯微鏡具有高度適應性，并且是非接觸式檢測。為了改善場景的深度，必須在高度方向上進行掃描以獲得一系列切片，然后重疊以獲得三維圖像。激光共聚焦顯微鏡不需要樣品制備和電導率處理，并且樣品沒有損壞(可以檢測粉末，軟樣品和透明樣品)。激光共聚焦顯微鏡具有豐富的測量結果，高分辨率的2D和3D攝影。各種2D和3D顯示結果的比較，大面積圖像樣條曲線，非接觸粗糙度測量，膜厚度測量，熒光分析等。操作和維護都很簡單。激光共聚焦顯微鏡不需要昂貴的材料，模塊設計，用戶友好的操作軟件以及自動校正程序。安徽體視 顯微鏡電子顯微鏡與光學顯微鏡；

透射電鏡的工作過程與光學顯微鏡類似。在光學顯微鏡中聚焦后的可見光射向樣品，穿過樣品的光經過物鏡、目鏡等光學系統聚焦后被眼睛接收。在電子顯微鏡中，可見光由電子槍發射出來的電子束所代替,在陽極加速電壓的作用下，電子經過2、3個電磁透鏡會聚為電子束，用來照明樣品薄片 (電子的穿透能力很弱，因此樣品必須很薄)，穿過樣品薄片的電子攜帶了樣品本身的結構信息，經物鏡、中間鏡和投影鏡所組成的成像系統的接力聚焦放大以圖像或衍射譜的形式顯示于熒光屏或感光材料上。

激光共聚焦顯微鏡的機械運動更少，特別是在光譜成像中，機械運動更穩定，可確保更快，間歇和令人信服的結果。通過將多個檢測器集成在一起，可以可靠地重現用戶的測量結果。并行光譜檢測允許在波長模式下同時讀取更多信號。另外，還有一種特殊的采集方法，可以有效提高光譜分辨率。

激光共聚焦顯微鏡可以顯示清晰的細節和高對比度的圖像，而不管表面形態和結構分析或表面輪廓如何。提高靈敏度和減少背景噪聲是激光共聚焦顯微鏡應用的先決條件。激光共聚焦顯微鏡具有出色的靈敏度，良好的降噪技術和激發激光技術，可確保良好的輸出功率。 四種類型的顯微鏡頭：單筒目鏡、雙筒目鏡、三目以及根據人體工程改造的。

掃描透射電子顯微鏡兼具掃描成像與透射分析的特點，其儀器結構可看作SEM與TEM的結合。STEM主要由電子槍、電子光學系統、樣品室、環形探測器與成像設備等組成。STEM與TEM的主要區別在于添加了掃描附件；與SEM的不同在于電子信號探測器安置在樣品下方。

優缺點：

優點：（1）成像質量高，受樣品厚度與儀器干涉小（2）可達到原子分辨率（3）結果分析簡單、直觀（4）能夠快速獲取樣品的綜合信息，成像效率高。

缺點：（1）制樣時間長，對樣品的要求高；（2）一些材料在高能電子束中不穩定；（3）測試成本高，儀器分布稀少。 光電流測試顯微鏡系統；FS70L顯微鏡供應商家

激光掃描共聚焦顯微鏡的掃描成像技術。光電流 顯微鏡推薦廠家

顯微鏡常見故障的排除：

四、視野出現明亮不均勻檢查顯微鏡使用前是否進行光路對中。

五、目鏡視野觀察全黑1、檢查物鏡是否轉入光路，視場光闌和孔徑光闌是否調節太小2、檢查光路是否對中。

六、視野亮度偏暗1、檢查視場光闌和孔徑光闌是否調的太小。2、檢查光路是否調節到位（聚光鏡、光闌、燈絲）。3、是否使用了偏光、相差部件。

七、目鏡視野內出現黑邊1、檢查是否視場光闌打得太小。2、光路是否對中（聚光鏡、光闌、燈絲）。3、物鏡轉換是否卡到位。4、目鏡筒與機身卡位是否準確。

八、同步性問題使用攝像頭觀察時，目鏡觀察清晰，但是電腦顯示圖像模糊。1、調節接口或接口透鏡高度以達到同步。2、調節接口無法完全同步的情況下，嘗試調節目鏡屈光度。 光電流 顯微鏡推薦廠家

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