良率管理服務(wù)的價(jià)值體現(xiàn)在全生命周期的技術(shù)陪伴與問(wèn)題解決能力。YMS系統(tǒng)不僅提供數(shù)據(jù)采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺(tái)，更通過(guò)售前技術(shù)咨詢、售中合理化方案定制與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，確保系統(tǒng)與客戶實(shí)際流程深度契合。當(dāng)客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設(shè)備后，系統(tǒng)自動(dòng)處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數(shù)據(jù)，完成異常檢測(cè)與結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ)。管理者可通過(guò)圖表直觀掌握良率趨勢(shì)、區(qū)域缺陷分布及WAT/CP/FT參數(shù)關(guān)聯(lián)性，快速制定改進(jìn)措施。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與閾值監(jiān)控，進(jìn)一步提升過(guò)程穩(wěn)定性。靈活的報(bào)表工具支持多格式導(dǎo)出，打通從車間到?jīng)Q策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完善的服務(wù)體系支撐YMS落地，持續(xù)助力半導(dǎo)體企業(yè)邁向高質(zhì)量發(fā)展。上海偉諾信息科技Stacked Map功能，通過(guò)堆疊多片Wafer結(jié)合算法與卡控規(guī)則檢測(cè)mapping上存在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。廣西晶圓GDBC解決方案

在半導(dǎo)體制造的后段工藝流程中，對(duì)晶圓測(cè)試（CP）階段生成的Mapping圖進(jìn)行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項(xiàng)常規(guī)且至關(guān)重要的質(zhì)量管控手段。該技術(shù)的價(jià)值在于運(yùn)用統(tǒng)計(jì)方法，識(shí)別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進(jìn)質(zhì)量理念的踐行者。該方案嚴(yán)格遵循AEC-Q100等車規(guī)級(jí)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，不僅提供標(biāo)準(zhǔn)PAT功能，更針對(duì)高可靠性應(yīng)用的嚴(yán)苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過(guò)對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提升CP測(cè)試的缺陷檢出率，將早期失效風(fēng)險(xiǎn)遏制在封裝之前。這直接帶來(lái)了測(cè)試質(zhì)量的飛躍與測(cè)試成本的優(yōu)化，助力客戶輕松滿足車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品對(duì)質(zhì)量與可靠性的不懈追求。云南半導(dǎo)體GDBC平臺(tái)PAT模塊與GDBC算法協(xié)同減少誤剔除良品風(fēng)險(xiǎn)，平衡質(zhì)量與成本。

在高頻測(cè)試場(chǎng)景下，重復(fù)提交或設(shè)備通信中斷常導(dǎo)致數(shù)據(jù)冗余或缺失，直接影響良率計(jì)算準(zhǔn)確性。YMS系統(tǒng)通過(guò)時(shí)間戳、測(cè)試編號(hào)、晶圓ID等關(guān)鍵字段自動(dòng)掃描數(shù)據(jù)集，識(shí)別完全重復(fù)或部分重疊的記錄，并予以合并或剔除；同時(shí)檢測(cè)關(guān)鍵參數(shù)字段是否為空，快速定位缺失節(jié)點(diǎn)并提示修正。該機(jī)制嵌入數(shù)據(jù)清洗流程，與異常值過(guò)濾協(xié)同工作，確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)集完整、干凈、無(wú)偏。例如，當(dāng)某批次CP測(cè)試因機(jī)臺(tái)故障中斷后重跑，系統(tǒng)可自動(dòng)識(shí)別并保留有效片段，避免重復(fù)計(jì)數(shù)拉低整體良率。這種自動(dòng)化質(zhì)量控制大幅降低人工核查負(fù)擔(dān)，提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)完整性視為YMS的關(guān)鍵能力之一，持續(xù)強(qiáng)化其在復(fù)雜生產(chǎn)環(huán)境中的魯棒性。

良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí)，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具，時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)YMS的時(shí)間序列分析功能，助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過(guò)程管控。SPAT模塊用于靜態(tài)參數(shù)偏離的篩查，固定測(cè)試限保障CP/FT環(huán)節(jié)穩(wěn)定性。

當(dāng)封測(cè)廠同時(shí)運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí)，不同平臺(tái)輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過(guò)內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎，自動(dòng)識(shí)別并適配各類測(cè)試平臺(tái)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部格式，消除因設(shè)備差異導(dǎo)致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計(jì)確保新增設(shè)備可快速接入，無(wú)需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力，使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線測(cè)試數(shù)據(jù)，避免為不同平臺(tái)維護(hù)多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實(shí)時(shí)性由此得到保障，為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái)，持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺(tái)兼容性，支撐客戶在復(fù)雜設(shè)備環(huán)境中實(shí)現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)持續(xù)優(yōu)化以適配先進(jìn)制程需求，保持技術(shù)優(yōu)勢(shì)。江蘇晶圓Mapping Inkless工具

Mapping Over Ink處理通過(guò)失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導(dǎo)工藝改進(jìn)方向。廣西晶圓GDBC解決方案

在晶圓測(cè)試（CP）過(guò)程中，ProbeMapping（探針測(cè)試圖譜）作為記錄每一顆芯片測(cè)試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實(shí)際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問(wèn)題時(shí)有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會(huì)導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測(cè)試結(jié)果無(wú)法被正確解析，更會(huì)中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對(duì)整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對(duì)這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實(shí)際測(cè)試場(chǎng)景出發(fā)，開(kāi)發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無(wú)縫銜接。該功能支持將CP測(cè)試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺(tái)可直接識(shí)別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過(guò)這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問(wèn)題而“失效”的測(cè)試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測(cè)試帶來(lái)的成本與時(shí)間損失，更能構(gòu)建起一條從測(cè)試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動(dòng)化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基石。 廣西晶圓GDBC解決方案

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡，一群有夢(mèng)想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開(kāi)創(chuàng)新天地，繪畫新藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù)，信奉著“爭(zhēng)取每一個(gè)客戶不容易，失去每一個(gè)用戶很簡(jiǎn)單”的理念，市場(chǎng)是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團(tuán)結(jié)一致，共同進(jìn)退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開(kāi)創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來(lái)和您一起奔向更美好的未來(lái)，即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績(jī)，也不足以驕傲，過(guò)去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點(diǎn)燃新的希望，放飛新的夢(mèng)想！