上海偉諾信息科技有限公司是專注于半導體制造領域的良率解決方案提供商。我們致力于為客戶提供專業(yè)的良率分析與管控系統(tǒng)，通過整合制造端、測試端與品控端的多源數(shù)據(jù)，構(gòu)建從數(shù)據(jù)到洞察、從洞察到?jīng)Q策的完整閉環(huán)。我們的系統(tǒng)賦能用戶精確定位工藝缺陷、優(yōu)化制程參數(shù)，從產(chǎn)品設計、生產(chǎn)工藝到設備效能等多個維度實現(xiàn)良率的系統(tǒng)化改善與持續(xù)提升。 通過參數(shù)聯(lián)動分析，YMS精確鎖定影響良率的關鍵工藝節(jié)點，優(yōu)化更有的放矢。廣西芯片良率管理系統(tǒng)

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。新疆芯片YMS開發(fā)方案YMS自動化完成數(shù)據(jù)采集清洗分析，減少人工投入，數(shù)據(jù)處理效率提升超七成。

當多臺測試設備同時產(chǎn)出異構(gòu)數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設備的spd、jdf、zip等格式數(shù)據(jù)統(tǒng)一解析、清洗并結(jié)構(gòu)化存儲，構(gòu)建一致的數(shù)據(jù)底座。在此基礎上，結(jié)合WAT、CP、FT等關鍵測試階段的參數(shù)變化，系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關聯(lián)，輔助工程師精確調(diào)整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應周期。報表功能支持按需定制并導出多種辦公格式，提升跨部門協(xié)同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預防批量性質(zhì)量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質(zhì)取勝”的宗旨，致力于打造適配國產(chǎn)半導體生態(tài)的智能良率管理工具。

芯片設計公司在多輪流片迭代中，亟需快速獲取準確的測試反饋以指導下一版優(yōu)化。YMS自動采集來自ASL1000、TR6850、MS7000等平臺的stdf、txt、zip等格式數(shù)據(jù)，完成清洗整合后，以圖表形式直觀呈現(xiàn)各版本間的良率差異與缺陷分布變化。設計工程師可對比V1.0與V1.1在相同測試條件下的FT失效模式，判斷修改是否有效。歷史數(shù)據(jù)按項目與版本歸檔，支持一鍵調(diào)取過往記錄用于評審會議。自動生成的PPT或PDF報告更簡化了跨部門溝通流程。這種閉環(huán)反饋機制大幅縮短設計驗證周期。上海偉諾信息科技有限公司針對設計公司敏捷開發(fā)特點，強化YMS的數(shù)據(jù)追溯與對比能力。圖形化界面+智能標簽，YMS讓非專業(yè)人員也能快速看懂良率趨勢與缺陷分布。

傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設定固定閾值，難以適應產(chǎn)品迭代或工藝波動。YMS系統(tǒng)基于歷史測試數(shù)據(jù)自動計算SYL（良率下限）與SBL（良率控制線），并根據(jù)統(tǒng)計規(guī)律動態(tài)調(diào)整控制邊界。當某批次實際良率跌破SBL時，系統(tǒng)立即觸發(fā)告警，通知質(zhì)量人員介入；若連續(xù)多批接近SYL，則提示需啟動工藝評審。該機制將質(zhì)量防線前置，防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié)，有效控制報廢成本。自動計算替代經(jīng)驗估算，確保卡控標準客觀、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動卡控作為YMS的關鍵功能，支撐客戶實現(xiàn)過程質(zhì)量的主動管理。基于歷史數(shù)據(jù)，YMS自動計算SYL/SBL，還支持按產(chǎn)品特性動態(tài)調(diào)整卡控閾值。中國香港半導體工廠良率管理系統(tǒng)解決方案

YMS沉淀產(chǎn)線真實測試數(shù)據(jù)，清洗后反哺分析模型，讓良率預測更準、優(yōu)化更有據(jù)。廣西芯片良率管理系統(tǒng)

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實生產(chǎn)場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎上，系統(tǒng)構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調(diào)用。分析層面，方案強調(diào)時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關鍵控制點，實現(xiàn)預防性質(zhì)量管理。同時，報表引擎支持按需生成周期報告，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費習慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累，將YMS方案打造為兼具實用性與擴展性的國產(chǎn)選擇。廣西芯片良率管理系統(tǒng)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發(fā)展理念，先進的管理經(jīng)驗，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時刻準備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結(jié)果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強、一往無前的進取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！