影響靶中毒的因素主要是反應氣體和濺射氣體的比例，反應氣體過量就會導致靶中毒。反應濺射工藝進行過程中靶表面濺射溝道區(qū)域內出現(xiàn)被反應生成物覆蓋或反應生成物被剝離而重新暴露金屬表面此消彼長的過程。如果化合物的生成速率大于化合物被剝離的速率，化合物覆蓋面積增加。在一定功率的情況下，參與化合物生成的反應氣體量增加，化合物生成率增加。如果反應氣體量增加過度，化合物覆蓋面積增加，如果不能及時調整反應氣體流量，化合物覆蓋面積增加的速率得不到抑制，濺射溝道將進一步被化合物覆蓋，當濺射靶被化合物全部覆蓋的時候，靶完全中毒。真空蒸發(fā)鍍膜是在真空室中，加熱蒸發(fā)容器待形成薄膜的原材料，使原子或者分子從表面氣化逸出，形成蒸汽流。汕頭真空鍍膜工藝

電子束蒸發(fā)：將蒸發(fā)材料置于水冷坩堝中，利用電子束直接加熱使蒸發(fā)材料汽化并在襯底上凝結形成薄膜，是蒸度高熔點薄膜和高純薄膜的一種主要加熱方法。為了獲得性能良好的半導體電極Al膜，我們通過優(yōu)化工藝參數(shù)，制備了一系列性能優(yōu)越的Al薄膜。通過理論計算和性能測試，分析比較了電子束蒸發(fā)與磁控濺射兩種方法制備Al膜的特點。考慮Al膜的致密性就相當于考慮Al膜的晶粒的大小，密度以及能達到均勻化的程度，因為它也直接影響Al膜的其它性能，進而影響半導體嘩啦的性能。氣相沉積的多晶Al膜的晶粒尺寸隨著沉積過程中吸附原子或原子團在基片表面遷移率的增加而增加。由此可以看出Al膜的晶粒尺寸的大小將取決環(huán)于基片溫度、沉積速度、氣相原子在平行基片方面的速度分量、基片表面光潔度和化學活性等因素。寧波納米涂層真空鍍膜鍍膜層在真空條件下均勻附著于基材。

高頻淀積的薄膜，其均勻性明顯好于低頻，這時因為當射頻電源頻率較低時，靠近極板邊緣的電場較弱，其淀積速度會低于極板中心區(qū)域，而頻率高時則邊緣和中心區(qū)域的差別會變小。4.射頻功率，射頻的功率越大離子的轟擊能量就越大，有利于淀積膜質量的改善。因為功率的增加會增強氣體中自由基的濃度，使淀積速率隨功率直線上升，當功率增加到一定程度，反應氣體完全電離，自由基達到飽和，淀積速率則趨于穩(wěn)定。5.氣壓，形成等離子體時，氣體壓力過大，單位內的反應氣體增加，因此速率增大，但同時氣壓過高，平均自由程減少，不利于淀積膜對臺階的覆蓋。氣壓太低會影響薄膜的淀積機理，導致薄膜的致密度下降，容易形成針狀態(tài)缺陷；氣壓過高時，等離子體的聚合反應明顯增強，導致生長網(wǎng)絡規(guī)則度下降，缺陷也會增加；6.襯底溫度，襯底溫度對薄膜質量的影響主要在于局域態(tài)密度、電子遷移率以及膜的光學性能，襯底溫度的提高有利于薄膜表面懸掛鍵的補償，使薄膜的缺陷密度下降。襯底溫度對淀積速率的影響小，但對薄膜的質量影響很大。溫度越高，淀積膜的致密性越大，高溫增強了表面反應，改善了膜的成分

LPCVD加熱系統(tǒng)是用于提供反應所需的高溫的部分，通常由電阻絲或鹵素燈組成。溫度控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調節(jié)反應室內溫度的部分，通常由溫度傳感器和控制器組成。壓力控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調節(jié)反應室內壓力的部分，通常由壓力傳感器和控制器組成。流量控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測和調節(jié)氣體前驅體的流量的部分，通常由流量計和控制器組成。LPCVD設備的設備構造還需要考慮以下幾個方面的因素：（1）反應室的形狀和尺寸，影響了氣體在反應室內的流動和分布，從而影響了薄膜的均勻性和質量；（2）反應室的材料和表面處理，影響了反應室壁面上沉積的材料和顆粒污染，從而影響了薄膜的純度和清洗頻率；（3）襯底的放置方式和數(shù)量，影響了襯底之間的間距和方向，從而影響了薄膜的厚度和均勻性；（4）加熱方式和溫度分布，影響了襯底材料的熱損傷和熱預算，從而影響了薄膜的結構和性能。真空鍍膜過程中需使用品質高的鍍膜材料。

鍍膜機中的電子束加熱的方法與傳統(tǒng)的電阻加熱的方法相比較的話。電子束加熱會產生更高的通量密度，這樣的話對于高熔點的材料的蒸發(fā)比較有利，而且還可以使的蒸發(fā)的速率得到一定程度上的提高。蒸發(fā)鍍膜機在工作的時候會將需要被蒸發(fā)的原材料放入到水冷銅坩堝內，這樣就可以保證材料避免被污染，可以制造純度比較高的薄膜，電子束蒸發(fā)的粒子動能比較的大，這樣會有利于薄膜的精密性和結合力。電子束蒸發(fā)鍍膜機的整體的構造比較的復雜，價格相較于其他的鍍膜設備而言比較的偏高。鍍膜機在工作的時候，如果蒸發(fā)源附近的蒸汽的密度比較高的話，就會使得電子束流和蒸汽粒子之間發(fā)生一些相互的作用，將會對電子的通量產生影響，使得電子的通量散失或者偏移軌道。同時你還可能會引發(fā)蒸汽和殘余的氣體的激發(fā)和電離，以此影響到整個薄膜的質量。真空鍍膜在航空航天領域有重要應用。汕尾真空鍍膜工藝

鍍膜層能有效提升產品的抗疲勞性能。汕頭真空鍍膜工藝

器件尺寸按摩爾定律的要求不斷縮小，柵極介質的厚度不斷減薄，但柵極的漏電流也隨之增大。在5.0nm以下，SiO2作為柵極介質所產生的漏電流已無法接受，這是由電子的直接隧穿效應造成的。HfO2族的高k介質是目前比較好的替代SiO2/SiON的選擇。HfO2族的高k介質主要通過原子層沉積（ALD）或金屬有機物化學氣相沉積（MOCVD）等方法沉積。介質膜的主要作用有：1.改善半導體器件和集成電路參數(shù)；2.增強器件的穩(wěn)定性和可靠性，二次鈍化可強化器件的密封性，屏蔽外界雜質、離子電荷、水汽等對器件的有害影響；3.提高器件的封裝成品率，鈍化層為劃片、裝架、鍵合等后道工藝處理提供表面的機械保護；4.其它作用，鈍化膜及介質膜還可兼作表面及多層布線的絕緣層；汕頭真空鍍膜工藝