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導致偏移量發生的原因是在htol可靠性驗證過程中閃存參考單元會有空穴丟失，而丟失的空穴是在制作閃存的生產工藝過程中捕獲(引入)的，短期內無法消除。而閃存產品從工程樣品(es，engineeringsample)到客戶樣品(cs，customersample)的時間不容延期。從測試端找出解決方案非常迫在眉睫。本發明實施例的閃存htol測試方法對所述閃存參考單元循環進行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對所述閃存進行htol測試，所述引入電子在所述htol測試過程中存在丟失，以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。TH801智能老化系統，全程HTOL數據記錄，讓質量報告更有說服力，下游客戶更放心。

可靠性測試整體解決方案：可靠性設備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬，數字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設計，原理圖設計，PCBlayout加工制作，老化程序開發調試，可靠性測試試驗，出具可靠性報告等全方面服務。上海頂策科技有限公司，擁有20年以上的豐富測試技術積累及運營經驗，以及多項發明專利及軟件著作權，自成立以來已經為超過500家半導體公司提供高質量，高效率，低成本，一條龍測試解決方案！上海頂策科技TH801智能老化系統，芯片狀態實時參數正態分布圖，散點圖等顯示，多維度分析芯片狀態。有哪些HTOL測試機推薦

TH801智能老化系統，監測數據異常自動報警，實時發現問題并介入分析，可以整體降低30~50%的成本。普陀區一體化HTOL測試機

    芯片可靠性測試（HTOL）HTOL(HighTemperatureOperatingLife)是芯片可靠性的一項關鍵性的基礎測試，用應力（電壓、溫度等拉偏）加速的方式模擬芯片的長期運行，評估芯片壽命和長期上電運行的可靠性。廣電計量服務內容：老化方案開發測試硬件設計ATE開發調試可靠性試驗HTOL試驗方案：在要求點(如0、168、500、1000hr)進行ATE測試，確定芯片是否OK,記錄每顆芯片的關鍵參數，并分析老化過程中的變化。對芯片覆蓋率要求如：CPU/DSP/MCU/logic：ATPG的stuck-atfaultcoverage＞70％。MemoryBIST:覆蓋所有memory。3、模擬電路：覆蓋PLL/AD/DA/SERDES等關鍵IP。 普陀區一體化HTOL測試機