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    htonl()簡述：將主機的無符號長整形數轉換成網絡字節順序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong：主機字節順序表達的32位數。注釋：本函數將一個32位數從主機字節順序轉換成網絡字節順序。返回值：htonl()返回一個網絡字節順序的值。參見：htons(),ntohl(),ntohs().在Linux系統下：#include<arpa/(uint32_thostlong);相關函數：uint16_thtons(uint16_thostshort);uint32_tntohl(uint32_tnetlong);uint16_tntohs(uint16_tnetshort);網際協議在處理這些多字節整數時，使用大端字節序。在主機本身就使用大端字節序時，這些函數通常被定義為空宏。————————————————版權聲明：本文為CSDN博主「gocpplua」的原創文章，遵循，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。 有哪些HTOL測試機推薦上海頂策科技有限公司自主研發智能HTOL測試機TH801實時監測確保芯片處于正常狀態，保證HTOL測試質量。

本發明實施例的閃存參考單元未經過編譯和擦除的電荷分布示意圖；發明實施例的閃存參考單元經過編譯和擦除后的電荷分布示意圖。圖8為本發明實施例的閃存參考單元經過編譯和擦除循環后再進行htol測試的輸出電流iref分布圖。其中，具體標號如下：100-襯底；101-源極；102-漏極；103-隧穿氧化層；104-浮柵；105-柵間介質層；106-控制柵；107-側墻；具體實施方式本發明提供一種閃存htol測試方法，以下結合附圖和具體實施例作進一步詳細說明。根據下面說明，本發明的優點和特征將更清楚。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精細的比例，*用以方便、明晰地輔助說明本發明實施例的目的。圖1為本發明實施例的閃存htol測試方法流程圖，

發明人檢查失效的原因，發現讀點失效為讀“0”失效，并且進一步研究發現閃存參考單元的輸出電流iref在48小時的測試值iref1與在初始的測試值iref0之間有偏移，具體偏移量經測試統計在4μa以內，而且iref1＜iref0，即48小時后iref往電流變小的方向偏移。閃存測試中，若iref＞i，則讀出“0”(即閃存讀“0”操作時，iref＞i)。閃存判斷讀“0”的具體操作過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由讀出放大器進行比對判斷。當差值變弱到由讀出放大器無法進行識別時，讀“0”失效。當htol可靠性驗證經過***時間點例如48小時后，由于閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移即iref變小，如此一來，閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值變小，超出讀出放大器識別范圍，于是讀“0”失效。測試發現經48小時閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移后，進一步做htol測試，閃存參考單元的輸出電流iref在第三時間點例如168小時,第四時間點例如500小時,第五時間點例如1000小時測試均不會進一步偏移。上海頂策科技TH801智能老化系統，芯片狀態實時參數正態分布圖，散點圖等顯示，多維度分析芯片狀態。

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