技術實現要素：本發明提供了一種閃存htol測試方法，以解決閃存htol測試中讀點失效的問題。本發明提供的閃存htol測試方法，包括：提供待測閃存，所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元；所述閃存參考單元中捕獲有空穴；對所述閃存參考單元循環進行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對所述閃存進行htol測試，所述引入電子在所述htol測試過程中部分丟失，以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。進一步的，所述閃存參考單元包括襯底、位于所述襯底中的導電溝道、位于所述導電溝道兩側的源極和漏極，位于所述導電溝道上方的柵極單元，所述柵極單元從下到上依次包括隧穿氧化層、浮柵、柵間介質層以及控制柵，所述柵極單元的兩側分布有側墻。 TH801智能老化系統，實時監測并記錄每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據。寶山區HTOL測試機私人定做
芯片ATE程序開發及FT測試FT（FinalTest）是芯片在封裝完成以后進行的*終的功能和性能測試，是產品質量控制*后環節，通過ATE+Handler+loadboard檢測并剔除封裝工藝和制造缺陷等生產環節問題的芯片。測試程序覆蓋功能和全pin性能參數，并補充CP未覆蓋的功能。服務內容：老化方案開發測試硬件設計ATE開發調試可靠性試驗在要求點(如0、168、500、1000 hr)進行 ATE 測試，確定芯片是否OK, 記錄每顆芯片的關鍵參數，并分析老化過程中的變化。靜安區HTOL測試機排行榜上海頂策科技有限公司可靠性測試服務，涵蓋模擬，數字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設計。
芯片HTOL測試如何做到省力省心？上海頂策科技有限公司，提供可靠性測試整體解決方案：可靠性設備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬，數字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設計，原理圖設計，PCBlayout加工制作，老化程序開發調試，可靠性測試試驗，出具可靠性報告等全方面服務。自有發明專利的智能HTOL系統，自主研發在線實時單顆監測技術，可靈活配置芯片工作狀態，并施加信號，非常方便HTOLSetup，實時監測并記錄環境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據，確保芯片處于正常HTOL狀態。
提供可靠性測試整體解決方案：可靠性設備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。自主研發在線實時單顆監測技術，通過監測數據，可實時發現問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。可靠性測試事業部提供可靠性測試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設備，以及測試方案制定，PCB設計制作，測試實驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。上海頂策科技有限公司可靠性測試部，提供芯片可靠性測試整體解決方案。
上海頂策科技有限公司（Topictest）推出的TH801智能在線監控動態老化設備，擁有多項發明專利及軟件著作權，可實時發現問題并介入分析，大幅提高HTOL效率。可靠性測試事業部提供可靠性測試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設備，以及測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，可以滿足各類芯片可靠性測試需求。自主研發在線實時單顆監測技術，大幅度提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本，全程數據記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL數據記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。集成電路動態老化設備，上海頂策科技有限公司自主研發TH801智能一體化HTOL測試機。寶山區HTOL測試機私人定做
上海頂策科技智能HTOL系統，全程數據記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性。寶山區HTOL測試機私人定做
在每個時間點讀點過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由讀出放大器進行比對判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。與現有技術相比，本發明具有如下有益效果：本發明所提供的閃存htol測試方法，對所述閃存參考單元循環進行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對所述閃存進行htol測試，所述引入電子在所述htol測試過程中存在丟失，以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。降低了閃存參考單元的輸出電流iref的偏移量，從而使閃存htol讀“0”通過，解決了閃存htol測試中讀點失效的問題，提高閃存質量。附圖說明圖1為本發明實施例的閃存htol測試方法流程圖；圖2為本發明實施例的閃存參考單元的結構示意圖；圖3為本發明實施例的對閃存參考單元進行編譯示意圖；圖4為本發明實施例的對閃存參考單元進行擦除示意圖；圖5為本發明實施例的閃存參考單元未經過編譯和擦除直接進行htol測試的輸出電流iref分布圖；寶山區HTOL測試機私人定做
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