硅光芯片耦合測試系統應用到硅光芯片,我們一起來了解硅光芯片的重要性。為什么未來需要硅光芯片,這是由于隨著5G時代的到來,芯片對傳輸速率和穩定性要求更高,硅光芯片相比傳統硅芯的性能更好,在通信器件的高級市場上,硅光芯片的作用更加明顯。未來人們對流量的速度要求比較...
光纖耦合系統的耦合過程:(1)將粘接后的芯片裝夾固定在調整架底座上;(2)將FA分別裝夾固定在左右兩側的高精度六維微調架上;(3)在CCD圖像監控系統下,依據屏幕上的十字交叉線,將光纖FA與芯片調節平行;(4)將兩端FA分別接上紅光源,將FA與芯片波導初步對準...
兩個具有相近相通,又相差相異的系統,不僅有靜態的相似性,也有動態的互動性。兩者就具有耦合關系。人們應該采取措施對具有耦合關系的系統進行引導、強化,促進兩者良性的、正向的相互作用,相互影響,激發兩者內在潛能,從而實現兩者優勢互補和共同提升。非直接耦合:兩個模塊之...
如果想使用幾何光線來模擬多模光纖耦合系統,那么光纖的纖芯直徑至少要比波長大10倍以上,這樣纖芯可以支持比較多比較多的橫模。如果光纖是可以傳播二階或三階模的少模光纖,那我們必須使用物理光學來進行光纖耦合分析。在這篇文章中,“多模”定義為光纖支持太多種橫模了,以至...
在爆轟與沖擊波實驗中,瞬態速度的測量將為實驗提供極為重要的參數。采用全光纖位移干涉技術的激光干涉測速系統由于高精度,結構緊湊、體積小、重量輕等諸多優勢,成為沖擊波與爆轟試驗中速度測量系統的重要發展方向。而其中全光纖激光干涉測速儀器中的多-單模光纖耦合成為影響數...
光纖耦合系統分為以下幾種:1、外部耦合:一組模塊都訪問同一全局簡單變量而不是同一全局數據結構,而且不是通過參數表傳遞該全局變量的信息,則稱之為外部耦合。2、公共耦合:若一組模塊都訪問同一個公共數據環境,則它們之間的耦合就稱為公共耦合。公共的數據環境可以是全局數...
光子晶體光纖耦合系統與普通單模光纖的低損耗熔接是影響光子晶體光纖耦合系統實用化的重要技術。針對自行設計的光子晶體光纖耦合系統,對其與普通單模光纖的熔接損耗機制進行了理論和實驗研究。首先分析了影響熔接損耗的主要因素,然后理論計算了光子晶體光纖耦合系統與普通單模光...
硅光芯片耦合測試系統系統的測試設備主要是包括可調激光器、偏振控制器和多通道光功率計,通過光矩陣的光路切換,每一時刻在程序控制下都可以形成一個單獨的測試環路。光源出光包含兩個設備,調光過程使用ASE寬光源,以保證光路通過光芯片后總是出光,ASE光源輸出端接入1*...
光纖端面之間的直接耦合光纖端面間的擴束耦合要制作具有某些特定功能的纖維光路器件,就需要在被藕合的光纖端面之間插入必要的微小光學元件。耗合損耗隨著纖維端面軸向分離距離線性地增加。為了解決這一問題,人們索性把光纖端面地拉開,在其間加入透鏡,讓發射和接收纖維的芯為一...
實驗中我們經常使用硅光芯片耦合測試系統獲得了超過50%的耦合效率測試以及低于-20dB的偏振串擾。我們還對一個基于硅條形波導的超小型偏振旋轉器進行了理論分析,該器件能夠實現100%的偏轉轉化效率,并擁有較大的制造容差。在這里,我們還對利用側向外延生長硅光芯片耦...
硅光芯片耦合測試系統系統的服務器為完成設備控制及自動測試應包含有自動化硅光芯片耦合測試系統服務端程序,可以使用于根據測試站請求信息分配測試設備,并自動切換光矩陣進行自動測試。服務器連接N個測試站、測試設備、光矩陣。其中N個測試站連接由于非占用式特性采用網口連接...
在光芯片領域,芯片耦合封裝問題是硅光芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是尤其重要的一個步驟,現有的硅光芯片耦合測試系統是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調光,并依靠對輸出光的光功率進行監控,再反饋到微調架端進行調試。芯...
測試是硅光芯片耦合測試系統的主要作用,硅光芯片耦合測試系統主要是用整機模擬一個實際使用的環境,測試設備在無線環境下的射頻性能,重點集中在天線附近一塊,即檢測天線與主板之間的匹配性。因為在天線硅光芯片耦合測試系統之前(SMT段)已經做過相應的測試,所以可認為主板...
硅光芯片耦合測試系統主要工作可以分為四個部分:1、利用開發出的耦合封裝工藝,對硅光芯片調制器進行耦合封裝并進行性能測試。分析并聯MZI型硅光芯片調制器的調制特性,針對調制過程,建立數學模型,從數學的角度出發,總結出調制器的直流偏置電壓的快速測試方法。并通過調制...
“耦合”一詞被普遍運用在通信、軟件、機械等許多領域。其實就是用以描述偶數以上多體系的相互作用/彼此影響/互相聯合的現象。在軟件工程中,耦合指模塊之間相互依賴對方的一個度量。模塊間聯系越緊密,其耦合性就越強,模塊的單獨性則越差,維護成本也就越高,為了便于維護,自...
硅光芯片耦合測試系統組件裝夾完成后,主要是通過校正X,Y和Z方向的偏差來進行的初始光功率進行耦合測試的,圖像處理軟件能自動測量出各項偏差,然后軟件驅動運動控制系統和運動平臺來補償偏差,以及給出提示,繼續手動調整角度滑臺。當三個器件完成初始定位,同時確認其在Z軸...
此在確認硅光芯片耦合測試系統耦合不過的前提下,可依次排除B殼天線、KB板和同軸線等內部結構的故障進行維修。若以上一一排除,則是主板參數校準的問題,或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統系...
光子晶體光纖耦合系統與普通單模光纖的低損耗熔接是影響光子晶體光纖耦合系統實用化的重要技術。針對自行設計的光子晶體光纖耦合系統,對其與普通單模光纖的熔接損耗機制進行了理論和實驗研究。首先分析了影響熔接損耗的主要因素,然后理論計算了光子晶體光纖耦合系統與普通單模光...
針對不同的硅光芯片結構,我們提出并且實驗驗證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合器,在實驗中,我們得到了超過60%的光纖-波導耦合效率。此外,我們還開發了一款用以實現硅條形波導和狹縫波導之間高效耦合的新型耦合器應用的系統主要是...
硅光芯片耦合測試系統是比較關鍵的,我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性,硅光芯片耦合測試系統主要控制“信號弱”,“易掉話”,“找網慢或不找網”,“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環境對設備EMC干擾的方法與實際使用環境存在較大差異,所以“信號類”返修量...
硅光芯片耦合測試系統應用到硅光芯片,我們一起來了解硅光芯片的重要性。為什么未來需要硅光芯片,這是由于隨著5G時代的到來,芯片對傳輸速率和穩定性要求更高,硅光芯片相比傳統硅芯的性能更好,在通信器件的高級市場上,硅光芯片的作用更加明顯。未來人們對流量的速度要求比較...
硅光芯片耦合測試系統硅光陣列微調設備,微調設備包括有垂直設置的第1角度調節機構與第二角度調節機構,微調設備可帶動設置于微調設備上的硅光陣列在垂直的兩個方向實現角度微調。本發明還提供一種光子芯片測試系統硅光陣列耦合設備,包括有微調設備以及與微調設備固定連接的位移...
硅光芯片耦合測試系統應用到硅光芯片,我們一起來了解硅光芯片的市場定位:光芯片作為光通信系統中的中心器件,它承擔著將電信號轉換成光信號或將光信號轉換成電信號的重任,除了外加能源驅動工作,光器件的轉換能力和效率決定著通信速度。為什么未來需要硅光芯片,這是由于隨著5...
硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:1、使用微調架將光纖端面與模斑變換器區域精確對準,調節至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;2、將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具...
在光芯片領域,芯片耦合封裝問題是光子芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是至關重要的一步驟,現有的硅光芯片耦合測試系統系統是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調光,并依靠對輸出光的光功率進行監控,再反饋到微調架端進行調試。...
硅光芯片耦合測試系統這些有視覺輔助地初始光耦合的步驟是耦合工藝的一部分。在此工藝過程中,輸入及輸出光纖陣列和波導輸入及輸出端面的距離大約是100~200微米,以便通過使用機器視覺精密地校準預粘接間隙的測量,為后面必要的旋轉耦合留出安全的空間。旋轉耦合技術的原理...
硅光芯片耦合測試系統是由激光器與硅光芯片集成結構,結構包括:激光器芯片,激光器芯片包括第1波導;硅光芯片,硅光芯片包括第二波導,第二波導及第1波導將激光器芯片發出的光耦合至硅光芯片內;第1波導包括依次一體連接的第1倒錐形波導部,矩形波導部及第二倒錐形波導部;第...
硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路,主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成,將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點,因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底,所以能集成更多的光器件;在光模塊里面...
為了消除硅基無源器件明顯的偏振相關性,我們首先利用一種特殊的三明治結構波導,通過優化多層結構,成功消除了一個超小型微環諧振器中心波長的偏振相關性。針對不同的硅光芯片結構,我們提出并且實驗驗證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合...
硅硅光芯片耦合測試系統中硅光耦合結構需要具備:硅光半導體元件,在其上表面具有發硅光受硅光部,且在下表面側被安裝于基板;硅光傳輸路,其具有以規定的角度與硅光半導體元件的硅光軸交叉的硅光軸,且與基板的安裝面分離配置;以及硅光耦合部,其變換硅光半導體元件與硅光傳輸路...