杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統本質上是一款面向高性能系統級芯片（SoC）量產與工程驗證的自動測試設備（ATE），其**能力聚焦于高精度數字、模擬及混合信號測試。雖然該設備本身并非為量子計算設計，但在當前科技融合加速發展的背景下，杭州國磊（Guolei）SoC測試系統確實可以在特定環節與量子科技產生間接但重要的聯系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求目前實用化的量子處理器（如超導量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經典控制電子學模塊——包括高速任意波形發生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數模/模數轉換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進行功能與參數驗證。GT600配備的高精度AWG板卡（THD達-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統的穩定運行。 國磊GT600支持電壓/電流源同步掃描功能，可用于BGR（帶隙基準）溫度特性與電源抑制比（PSRR）自動化測試。國產替代GEN3測試系統行價

適配多元化國產芯片架構 中國芯片產業呈現百花齊放態勢：RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構層出不窮。這些芯片往往具有非標I/O、特殊電源域或混合信號需求。國磊（Guolei）GT600的16個通用插槽、多種VI浮動電源板卡（如-2.5V~7V）、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡，使其能靈活適配各類異構芯片的測試需求，避免因測試平臺僵化而制約創新芯片的發展，從而維護技術路線的多樣性與供應鏈的抗風險能力。保障關鍵領域芯片供應安全 在**、航空航天、智能電網、軌道交通、新能源汽車等關乎國計民生的關鍵領域，芯片供應鏈安全直接關系**。國磊（Guolei）GT600已應用于**AD/DA、顯示驅動、MCU等芯片測試，未來可進一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等領域。通過部署國產測試設備，這些敏感芯片的測試數據、良率信息、失效模式等**知識產權得以保留在境內，杜絕信息泄露風險。鹽城CAF測試系統生產廠家先進節點（如28nm及以下）漏電更敏感，國磊GT600的PPMU可測nA級電流，滿足FinFET等工藝的低功耗驗證需求。

杭州國磊GT600 SoC測試機在車規芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛士”的關鍵角色，其應用貫穿從研發驗證到量產的全過程，精細滿足AEC-Q100等嚴苛標準。 首先，國磊GT600的**優勢在于其高精度參數測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數測量單元）可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），這是車規芯片的**指標。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變為功能失效，國磊GT600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內“零漏電”，大幅提升產品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續運行1000小時以上，驗證其長期穩定性。其浮動SMU電源板卡能精細模擬車載12V/24V供電系統，驗證電源管理單元（PMU）在電壓波動、負載突變下的響應能力，防止“掉電重啟”。

集成PPMU與動態電流監測——賦能“每瓦特算力”優化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數據中心“雙碳”目標下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態電流與A級動態電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設計團隊優化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產AI芯片。512 Sites并行測試架構——降低量產成本，搶占市場先機。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產品競爭力。512站點并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數級提升。為國產AI芯片大規模量產提供“超級測試流水線”，實現“測得快、賣得起、用得穩”。開放軟件生態（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創新迭代 背景：AI架構快速演進（如存算一體、類腦計算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環境支持自定義測試邏輯，高校與企業可快速開發新型測試方案。不僅是量產工具，更是科研創新的“開放實驗臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。從實驗室驗證到量產測試，我們提供全流程支持。

    杭州國磊GT600SoC測試機之所以特別適用于高校科研場景，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價比，完美契合高校在芯片教學、科研探索與原型驗證中的獨特需求。首先，高度開放的軟件生態是科研創新的基礎。GT600搭載GTFY軟件系統，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發環境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調試和優化測試程序，靈活實現各類新型芯片架構（如RISC-V、存算一體、類腦計算）的功能驗證。這種開放性極大激發了學生的工程實踐能力與教師的科研創造力。其次，模塊化硬件架構支持多樣化實驗需求。GT600提供16個通用插槽，可自由混插數字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構建從純數字邏輯到混合信號的完整測試平臺。無論是驗證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進工藝下的漏電特性，GT600都能“一機多用”，避免高校重復采購多臺**設備，***提升設備利用率。第三，高精度測量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測nA級電流，TMU時間分辨率達10ps，適用于FinFET、GAA等先進工藝下低功耗器件的特性表征。 **適用于PCB、電子組件絕緣性能評估與品質管控。吉安PCB測試系統研發

國磊半導體，您值得信賴的測試伙伴。國產替代GEN3測試系統行價

科研創新的“開放平臺” 在高校與科研院所，芯片研發需要高度靈活的測試環境。杭州國磊GT600的開放式GTFY系統支持C++/Python編程，研究人員可自由開發測試算法，驗證新型架構（如存算一體、類腦芯片）。其16個通用插槽可接入自研測試板卡，實現定制化測量。128M向量深度支持復雜實驗程序運行，避免頻繁加載。杭州國磊GT600還支持探針臺接口，便于對晶圓上裸片進行特性表征。在國產芯片從“模仿”到“創新”的轉型中，杭州國磊GT600不僅是量產工具，更是科研探索的“開放實驗臺”，為下一代半導體技術的突破提供關鍵支持。國產替代GEN3測試系統行價