科研創新的“開放平臺” 在高校與科研院所,芯片研發需要高度靈活的測試環境。杭州國磊GT600的開放式GTFY系統支持C++/Python編程,研究人員可自由開發測試算法,驗證新型架構(如存算一體、類腦芯片)。其16個通用插槽可接入自研測試板卡,實現定制化測量。128M向量深度支持復雜實驗程序運行,避免頻繁加載。杭州國磊GT600還支持探針臺接口,便于對晶圓上裸片進行特性表征。在國產芯片從“模仿”到“創新”的轉型中,杭州國磊GT600不僅是量產工具,更是科研探索的“開放實驗臺”,為下一代半導體技術的突破提供關鍵支持。國磊GT600SoC測試機512Sites高并行測試架構,提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。江蘇導電陽極絲測試系統工藝

高通道密度(512~2048數字通道)——適配復雜AISoC引腳規模,現代AI芯片引腳數常超2000(如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域),傳統測試設備通道不足。支持**多2048個數字通道,可一次性完成全引腳并行測試,避免分時復用導致的測試盲區。滿足寒武紀、壁仞、華為昇騰等國產AI芯片的高集成度測試需求,助力其快速進入數據中心與邊緣計算市場。超大向量深度(**高128M/通道)——實現真實AI負載場景回放,AI推理/訓練涉及復雜算法流(如Transformer、CNN),需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負載測試向量,捕獲邊界條件下的功能異常或功耗峰值。不僅驗證邏輯功能,更能模擬實際應用場景,提升芯片可靠性,加速客戶產品上市周期。 國磊高阻測試系統精選廠家國磊GT600提供測試向量轉換工具,支持從傳統模擬測試平臺遷移測試程序,降低工程師學習成本與導入周期。

環境應力測試兼容性,部分工業或車規級MEMS需在高低溫、高濕等環境下工作。國磊(Guolei)GT600支持與溫控探針臺/分選機聯動,通過GPIB/TTL接口實現自動化環境應力篩選(ESS)。其小型化、低功耗設計也便于集成到溫箱內部,確保在-40℃~125℃范圍內穩定運行,滿足AEC-Q100等車規認證要求。國產替代保障MEMS產業鏈安全 中國是全球比較大的MEMS消費市場,但**MEMS芯片及測試設備長期依賴進口。國磊(Guolei)GT600作為國產高性能ATE,已在部分國內MEMS廠商中部署,用于替代Teradyne J750或Advantest T2000等平臺。這不僅降低采購與維護成本,更避免因國際供應鏈波動影響產能,助力構建“MEMS設計—制造—封裝—測試”全鏈條自主可控生態。雖然國磊SoC測試機不直接測試MEMS的機械結構(如諧振頻率、Q值等需**激光多普勒或阻抗分析儀),但它精細覆蓋了MEMS產品中占比70%以上的電子功能測試環節。隨著MEMS向智能化、集成化、高精度方向發展,其配套SoC/ASIC的復雜度將持續提升,對測試設備的要求也將水漲船高。國磊(Guolei)GT600憑借高精度、高靈活性與國產化優勢,正成為支撐中國MEMS產業高質量發展的關鍵測試基礎設施。
集成PPMU與動態電流監測——賦能“每瓦特算力”優化 背景:AI芯片能效比(Performance per Watt)成為核心競爭力,尤其在數據中心“雙碳”目標下。每通道集成PPMU,支持nA級靜態電流與A級動態電流測量; 可捕獲微秒級浪涌電流(Inrush Current)與電壓塌陷(Voltage Droop); 支持FVMI/FIMV等模式,繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設計團隊優化電源完整性(PI)與低功耗策略(如電源門控),打造高能效國產AI芯片。512 Sites并行測試架構——降低量產成本,搶占市場先機。AI芯片年出貨量動輒百萬級,測試成本直接影響產品競爭力。512站點并行測試能力,使單顆芯片測試成本降低70%以上,測試效率呈指數級提升。為國產AI芯片大規模量產提供“超級測試流水線”,實現“測得快、賣得起、用得穩”。開放軟件生態(GTFY + C++ + Visual Studio)——加速AI芯片創新迭代 背景:AI架構快速演進(如存算一體、類腦計算),需高度靈活的測試平臺。開放編程環境支持自定義測試邏輯,高校與企業可快速開發新型測試方案。不僅是量產工具,更是科研創新的“開放實驗臺”,推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。國磊GT600SoC測試機尤其適用于高引腳數、高集成度、混合信號特征明顯的先進芯片。

1.高邊沿精度保障高速接口時序合規性?,F代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口,用于連接傳感器與**計算單元。這些接口對信號邊沿時序要求極為嚴苛。杭州國磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度,能夠精確模擬高速信號的上升/下降沿,并配合Digitizer板卡捕獲實際輸出波形,驗證眼圖、抖動與建立/保持時間是否符合協議規范。這種高精度時序控制能力,是確保車載高速通信鏈路穩定性的關鍵測試手段。開放式軟件生態賦能定制化測試開發。杭州國磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開放式GTFY編程環境,允許客戶根據自身芯片特性開發定制化測試流程。對于智能駕駛芯片廠商而言,這意味著可將內部驗證方法論(如ISO26262功能安全測試用例)直接嵌入測試程序,實現自動化安全機制驗證。同時,圖形化數據顯示與用戶管理界面便于測試工程師快速定位故障引腳或模塊,大幅提升調試效率,縮短芯片迭代周期。 電壓上升速度快,100V只需2毫秒!高阻測試設備生產廠家
超寬的電阻測試范圍,從10^4Ω至10^14Ω全覆蓋。江蘇導電陽極絲測試系統工藝
在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時,采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險,加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然國磊(Guolei)GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特,但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施,它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來,隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升,高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此,杭州國磊(Guolei)的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器,也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。江蘇導電陽極絲測試系統工藝