科研創(chuàng)新的“開放平臺(tái)” 在高校與科研院所，芯片研發(fā)需要高度靈活的測試環(huán)境。杭州國磊GT600的開放式GTFY系統(tǒng)支持C++/Python編程，研究人員可自由開發(fā)測試算法，驗(yàn)證新型架構(gòu)（如存算一體、類腦芯片）。其16個(gè)通用插槽可接入自研測試板卡，實(shí)現(xiàn)定制化測量。128M向量深度支持復(fù)雜實(shí)驗(yàn)程序運(yùn)行，避免頻繁加載。杭州國磊GT600還支持探針臺(tái)接口，便于對(duì)晶圓上裸片進(jìn)行特性表征。在國產(chǎn)芯片從“模仿”到“創(chuàng)新”的轉(zhuǎn)型中，杭州國磊GT600不僅是量產(chǎn)工具，更是科研探索的“開放實(shí)驗(yàn)臺(tái)”，為下一代半導(dǎo)體技術(shù)的突破提供關(guān)鍵支持。國磊GT600SoC測試機(jī)高密度集成設(shè)計(jì)降低系統(tǒng)體積與功耗，適配高通道數(shù)HBM測試的緊湊型測試臺(tái)架部署。廣東絕緣電阻測試系統(tǒng)供應(yīng)

    低溫CMOS芯片的常溫預(yù)篩與參數(shù)表征許多用于量子計(jì)算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機(jī)前，必須通過常溫下的嚴(yán)格電性測試進(jìn)行預(yù)篩選。杭州國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測量單元）和可編程浮動(dòng)電源（），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關(guān)鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費(fèi)。量子測控SoC的量產(chǎn)驗(yàn)證平臺(tái)隨著量子計(jì)算機(jī)向百比特以上規(guī)模演進(jìn)，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的HorseRidge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號(hào)調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能，結(jié)構(gòu)復(fù)雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗(yàn)證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。 廣東PCB測試系統(tǒng)研發(fā)AI邊緣計(jì)算SoC用于機(jī)器人、穿戴設(shè)備MCU+AI架構(gòu)芯片，GT600通過nA級(jí)PPMU、TMU支持端側(cè)AI低功耗可靠性測試。

醫(yī)療成像芯片 CT、MRI、內(nèi)窺鏡等設(shè)備的圖像傳感器（CIS）和圖像信號(hào)處理器（ISP）對(duì)圖像質(zhì)量要求極高。國磊GT600可通過高速數(shù)字通道測試ISP的圖像處理算法（如降噪、邊緣增強(qiáng)），并通過AWG注入模擬圖像信號(hào)，驗(yàn)證成像鏈路的完整性與色彩還原度。 4. 植入式醫(yī)療設(shè)備芯片 心臟起搏器、神經(jīng)刺激器等植入設(shè)備的芯片必須**功耗、超高可靠。國磊GT600的FVMI模式可精確測量uA級(jí)靜態(tài)電流，篩選出“省電體質(zhì)”芯片；其支持長時(shí)間老化測試，可模擬10年以上使用壽命，確保植入后萬無一失。 綜上，國磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”測試能力，為國產(chǎn)**醫(yī)療芯片的上市提供了堅(jiān)實(shí)的質(zhì)量保障。

杭州國磊GT600支持比較高400MHz測試速率，意味著每秒可執(zhí)行4億次信號(hào)激勵(lì)與采樣，這是驗(yàn)證現(xiàn)代高速SoC的基石。在智能手機(jī)場景中，麒麟芯片的LPDDR5內(nèi)存接口、PCIe 4.0存儲(chǔ)總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級(jí)頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運(yùn)行在接口全速，但足以覆蓋其協(xié)議層的功能測試與時(shí)序驗(yàn)證。通過“降頻測試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號(hào)邊沿、驗(yàn)證數(shù)據(jù)完整性。在AI芯片測試中，該速率可驅(qū)動(dòng)NPU**進(jìn)行高吞吐矩陣運(yùn)算測試，確保算力達(dá)標(biāo)。400MHz還支持復(fù)雜狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)、多模塊協(xié)同仿真，避免因測試速率不足導(dǎo)致功能覆蓋缺失。這一參數(shù)使GT600能勝任從5G通信到邊緣計(jì)算的各類高速芯片驗(yàn)證，成為國產(chǎn)**SoC量產(chǎn)的“***道高速關(guān)卡”。完善的售后服務(wù)，解決您的后顧之憂。

    車規(guī)級(jí)MEMS傳感器包括用于ESP車身穩(wěn)定系統(tǒng)的高g加速度計(jì)、發(fā)動(dòng)機(jī)歧管壓力傳感器等，需滿足AEC-Q100認(rèn)證。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：支持-40℃~125℃環(huán)境應(yīng)力測試（通過GPIB/TTL對(duì)接溫箱）；高可靠性測試流程（如HAST、HTOL前后的參數(shù)對(duì)比）；數(shù)據(jù)自動(dòng)記錄為STDF格式，便于車廠追溯與良率分析；每引腳PPMU檢測早期失效（如漏電流異常）。生物醫(yī)療MEMS如植入式壓力傳感器、微流控芯片控制器，對(duì)低功耗與長期穩(wěn)定性要求極高。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：nA級(jí)靜態(tài)電流測量（PPMU）；**噪聲激勵(lì)與采集，避免干擾生物信號(hào)；支持長期老化測試中的周期性參數(shù)回讀。杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不直接測試MEMS的機(jī)械或物理特性（如諧振頻率、Q值、位移等），但***覆蓋MEMS產(chǎn)品中不可或缺的電子控制與信號(hào)處理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能與可靠性驗(yàn)證。在消費(fèi)電子、汽車電子、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)和新興智能硬件領(lǐng)域，杭州國磊（Guolei）GT600已成為國產(chǎn)MEMS廠商實(shí)現(xiàn)高精度、高效率、低成本、自主可控測試的重要平臺(tái)，有力支撐中國MEMS產(chǎn)業(yè)鏈從“制造”向“智造”升級(jí)。 國磊GT600SoC測試機(jī)支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于實(shí)現(xiàn)HBM協(xié)議定制化測試算法。東莞PCB測試系統(tǒng)定制價(jià)格

國磊GT600支持可配高精度浮動(dòng)SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內(nèi)施加電壓，并監(jiān)測各電源域的動(dòng)態(tài)與靜態(tài)電流。廣東絕緣電阻測試系統(tǒng)供應(yīng)

推動(dòng)測試設(shè)備產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展，國磊（Guolei）GT600的研發(fā)帶動(dòng)了國內(nèi)精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進(jìn)本土供應(yīng)鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動(dòng)時(shí)鐘源和皮秒級(jí)時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器（TDC），這類**部件的國產(chǎn)化也在同步推進(jìn)。這種“以用促研、以研帶產(chǎn)”的良性循環(huán)，有助于構(gòu)建完整的國產(chǎn)半導(dǎo)體測試裝備產(chǎn)業(yè)鏈，從根本上提升供應(yīng)鏈的自主性和可持續(xù)性。國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不僅是技術(shù)工具，更是國家半導(dǎo)體供應(yīng)鏈安全體系中的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它通過實(shí)現(xiàn)**測試設(shè)備的國產(chǎn)替代、支撐國產(chǎn)芯片自主創(chuàng)新、保障敏感數(shù)據(jù)安全、促進(jìn)上下游協(xié)同，構(gòu)筑起一道抵御外部風(fēng)險(xiǎn)的“技術(shù)護(hù)城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產(chǎn)**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈不可或缺的戰(zhàn)略支點(diǎn)。廣東絕緣電阻測試系統(tǒng)供應(yīng)