“風華3號”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對模擬輸出精度、色彩一致性與時序穩(wěn)定性要求極為嚴苛。國磊GT600測試機支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號完整性與動態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進行精確測量，確保醫(yī)療顯示場景下的灰階過渡平滑與色彩還原準確。國磊GT600測試機的模塊化16插槽架構支持數(shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測試閉環(huán)。GM8800導電陽極絲測試系統(tǒng)，精確測量高達10^14Ω的絕緣電阻。高性能絕緣電阻測試設備研發(fā)中心

    測試數(shù)據(jù)閉環(huán)助力量子芯片協(xié)同優(yōu)化，杭州國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數(shù)據(jù)分析與圖形化顯示功能。這些測試數(shù)據(jù)可與量子芯片的設計仿真平臺聯(lián)動，形成“測試—反饋—優(yōu)化”閉環(huán)。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統(tǒng)相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全量子技術屬于國家戰(zhàn)略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。杭州國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統(tǒng)已實現(xiàn)對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。在量子科研機構或企業(yè)構建本土化測控生態(tài)時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然杭州國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態(tài)或操控量子比特，但作為支撐量子系統(tǒng)“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統(tǒng)”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊的SoC測試系統(tǒng)不僅是半導體產業(yè)的利器，也正在成為量子科技產業(yè)化進程中的一塊關鍵拼圖。 GEN3測試系統(tǒng)供應國磊GT600測試機搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于工程師深度定制測試邏輯。

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復雜算法流下穩(wěn)定運行。GT600每通道提供高達128M的向量存儲深度，遠超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進行回放測試。這種“場景級驗證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產品魯棒性，降低售后故障率，真正實現(xiàn)“測得準、用得穩(wěn)”。

在地緣***風險加劇的當下，芯片測試環(huán)節(jié)的自主可控關乎**。過去，**SoC測試嚴重依賴泰瑞達、愛德萬等國外設備，存在數(shù)據(jù)泄露、斷供禁運等隱患。GT600作為純國產**測試機，從FPGA控制邏輯到測試向量編譯器均實現(xiàn)自主開發(fā)，確保測試數(shù)據(jù)不出境、設備不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感領域部署的AI芯片，必須通過可信平臺驗證。GT600的出現(xiàn)，填補了國產測試設備在400MHz以上高頻段的空白，為國家關鍵信息基礎設施提供“***一道防線”，是構建安全、普惠、可信AI生態(tài)的基石。國磊GT600SoC測試機可編寫腳本實現(xiàn)電壓/頻率組合掃描，準驗證芯片在不同工作條件下的穩(wěn)定性與功耗表現(xiàn)。

天璣9000系列的成功，標志著國產手機SoC在AI賽道的**崛起。而其背后，離不開從設計、制造到測試驗證的完整產業(yè)鏈支撐。國磊GT600測試機憑借其高通道密度、高并行能力、混合信號支持與開放C++軟件架構，已成為**SoC測試的關鍵基礎設施。它不**支持STDF等標準數(shù)據(jù)格式輸出，便于良率分析與AI模型訓練反饋，還可通過GPIB/TTL接口與探針臺、分選機聯(lián)動，構建全自動CP/FT測試流程。選擇國磊GT600測試機，就是選擇一條高效、自主、面向AI時代的SoC測試之路。GM8800導電陽極絲測試系統(tǒng)，**檢測電路絕緣劣化，支持高達256通道并行測試。國產SIR測試系統(tǒng)行價

國磊GT600SoC測試機高精度浮動SMU板卡可實現(xiàn)HBM接口電源域的電壓裕量（VoltageMargining）與功耗測試。高性能絕緣電阻測試設備研發(fā)中心

高同測能力加速智能駕駛芯片量產進程。智能駕駛芯片往往需要大規(guī)模部署于整車廠供應鏈中，對測試效率和成本控制極為敏感。杭州國磊GT600支持比較高512 Sites的并行測試能力，意味著可在單次測試周期內同時驗證數(shù)百顆芯片，極大縮短測試時間、降低單位測試成本。這種高同測（High Parallel Test）特性對于滿足車規(guī)級芯片動輒百萬級出貨量的需求至關重要。此外，其開放式GTFY軟件平臺支持工程模式與量產模式無縫切換，便于在研發(fā)驗證與大規(guī)模生產之間靈活調配資源，確保智能駕駛芯片在嚴格的時間窗口內完成認證與交付。高性能絕緣電阻測試設備研發(fā)中心