醫(yī)療成像芯片 CT、MRI、內(nèi)窺鏡等設(shè)備的圖像傳感器（CIS）和圖像信號(hào)處理器（ISP）對(duì)圖像質(zhì)量要求極高。國(guó)磊GT600可通過(guò)高速數(shù)字通道測(cè)試ISP的圖像處理算法（如降噪、邊緣增強(qiáng)），并通過(guò)AWG注入模擬圖像信號(hào)，驗(yàn)證成像鏈路的完整性與色彩還原度。 4. 植入式醫(yī)療設(shè)備芯片 心臟起搏器、神經(jīng)刺激器等植入設(shè)備的芯片必須**功耗、超高可靠。國(guó)磊GT600的FVMI模式可精確測(cè)量uA級(jí)靜態(tài)電流，篩選出“省電體質(zhì)”芯片；其支持長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試，可模擬10年以上使用壽命，確保植入后萬(wàn)無(wú)一失。 綜上，國(guó)磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”測(cè)試能力，為國(guó)產(chǎn)**醫(yī)療芯片的上市提供了堅(jiān)實(shí)的質(zhì)量保障。內(nèi)置多重報(bào)警功能，為您的測(cè)試安全保駕護(hù)航。高性能CAF測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

“風(fēng)華3號(hào)”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流圖形生態(tài)，其圖形管線包含頂點(diǎn)處理、光柵化、著色器執(zhí)行等復(fù)雜階段，測(cè)試需覆蓋多種渲染模式與狀態(tài)轉(zhuǎn)換。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于實(shí)現(xiàn)定制化圖形功能測(cè)試算法，如Shader指令序列驗(yàn)證、Z-Buffer精度測(cè)試、紋理映射完整性檢查等。其128M向量響應(yīng)存儲(chǔ)深度可捕獲長(zhǎng)周期圖形輸出行為，支持對(duì)幀率穩(wěn)定性、畫面撕裂等異常進(jìn)行回溯分析。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)還支持STDF、CSV等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式輸出，便于良率追蹤與測(cè)試數(shù)據(jù)與EDA仿真結(jié)果的對(duì)比驗(yàn)證。廣州SIR測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)選擇國(guó)磊，就是選擇了超預(yù)期的測(cè)試技術(shù)與成本控制。

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的“量產(chǎn)引擎” 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)（IIoT）設(shè)備對(duì)芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國(guó)磊GT600的512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，可一次測(cè)試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測(cè)試吞吐量，***降低單顆測(cè)試成本。據(jù)行業(yè)測(cè)算，同測(cè)數(shù)每翻一倍，測(cè)試成本可下降30%以上。杭州國(guó)磊GT600支持長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試，篩選出能在高溫、高濕、強(qiáng)電磁干擾環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行的“工業(yè)級(jí)”芯片。其GTFY系統(tǒng)支持STDF數(shù)據(jù)導(dǎo)出，可無(wú)縫對(duì)接工廠MES系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)良率分析與智能制造。杭州國(guó)磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優(yōu)勢(shì)，為國(guó)產(chǎn)IIoT芯片的大規(guī)模量產(chǎn)提供強(qiáng)大引擎，助力中國(guó)智造走向全球。

高同測(cè)能力加速智能駕駛芯片量產(chǎn)進(jìn)程。智能駕駛芯片往往需要大規(guī)模部署于整車廠供應(yīng)鏈中，對(duì)測(cè)試效率和成本控制極為敏感。杭州國(guó)磊GT600支持比較高512 Sites的并行測(cè)試能力，意味著可在單次測(cè)試周期內(nèi)同時(shí)驗(yàn)證數(shù)百顆芯片，極大縮短測(cè)試時(shí)間、降低單位測(cè)試成本。這種高同測(cè)（High Parallel Test）特性對(duì)于滿足車規(guī)級(jí)芯片動(dòng)輒百萬(wàn)級(jí)出貨量的需求至關(guān)重要。此外，其開放式GTFY軟件平臺(tái)支持工程模式與量產(chǎn)模式無(wú)縫切換，便于在研發(fā)驗(yàn)證與大規(guī)模生產(chǎn)之間靈活調(diào)配資源，確保智能駕駛芯片在嚴(yán)格的時(shí)間窗口內(nèi)完成認(rèn)證與交付。國(guó)磊GT600可用于測(cè)量電源上電時(shí)序（PowerSequencing），確保多域電源按正確順序激發(fā)，避免閂鎖效應(yīng)。

AI眼鏡作為下一代可穿戴計(jì)算終端，正面臨“功能豐富度、續(xù)航時(shí)長(zhǎng)、設(shè)備重量”三者難以兼得的工程難題。為實(shí)現(xiàn)語(yǔ)音交互、實(shí)時(shí)翻譯、環(huán)境感知與輕量化設(shè)計(jì)，其**SoC必須在極小面積內(nèi)集成CPU、NPU、DSP、藍(lán)牙/Wi-Fi射頻、傳感器接口與電源管理模塊，同時(shí)在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)下實(shí)現(xiàn)**靜態(tài)功耗。這類高度集成的異構(gòu)SoC對(duì)測(cè)試設(shè)備提出了嚴(yán)苛要求：不**需驗(yàn)證復(fù)雜功能邏輯，更要精確測(cè)量nA級(jí)漏電流、微瓦級(jí)動(dòng)態(tài)功耗及多電源域切換時(shí)序。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持每通道PPMU，可實(shí)現(xiàn)nA級(jí)IDDQ測(cè)量，**識(shí)別SoC在睡眠模式下的漏電異常，確保續(xù)航能力不受“隱形功耗”拖累。國(guó)磊GT600支持可配高精度浮動(dòng)SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內(nèi)施加電壓，并監(jiān)測(cè)各電源域的動(dòng)態(tài)與靜態(tài)電流。國(guó)產(chǎn)GEN測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

國(guó)磊GT600提供測(cè)試向量轉(zhuǎn)換工具，支持從傳統(tǒng)模擬測(cè)試平臺(tái)遷移測(cè)試程序，降低工程師學(xué)習(xí)成本與導(dǎo)入周期。高性能CAF測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

可穿戴設(shè)備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設(shè)備依賴電池供電，對(duì)SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機(jī)漏電超標(biāo)，可能導(dǎo)致設(shè)備“一天三充”。杭州國(guó)磊GT600的PPMU可精確測(cè)量nA級(jí)靜態(tài)電流（Iddq），相當(dāng)于每秒流過(guò)數(shù)億個(gè)電子的微小電流，能識(shí)別芯片內(nèi)部的“隱形漏電點(diǎn)”。通過(guò)FVMI模式，杭州國(guó)磊GT600可在不同電壓下測(cè)試芯片功耗，驗(yàn)證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機(jī)制是否有效。其高精度測(cè)量能力確保只有“省電體質(zhì)”的芯片進(jìn)入量產(chǎn)。同時(shí)，杭州國(guó)磊GT600支持混合信號(hào)測(cè)試，可驗(yàn)證傳感器融合、語(yǔ)音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長(zhǎng)續(xù)航”的可穿戴市場(chǎng)，杭州國(guó)磊GT600以“微電流級(jí)”檢測(cè)能力，為國(guó)產(chǎn)芯片的用戶體驗(yàn)提供底層保障。高性能CAF測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商