手機SoC的“全能考官” 現代手機SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超級計算機”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基帶等數十個模塊。杭州國磊GT600憑借512通道與16個通用插槽，可靈活配置數字、模擬、混合信號測試資源，實現“一機通測”。其高速數字通道驗證CPU/GPU邏輯功能；可選AWG板卡生成圖像信號，測試ISP的色彩還原與降噪能力；TMU精確測量基帶信號時序，保障5G通信穩定。PPMU則檢測NPU待機功耗，確保AI功能“強勁且省電”。128M向量深度支持長周期AI算法驗證，避免測試中斷。杭州國磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的測試能力，為國產手機SoC從研發到量產保駕護航，讓中國芯在**手機市場更具競爭力。監測參數齊全，包括電阻、電流、電壓、溫濕度等，一目了然。GEN3測試系統供應

    1.高邊沿精度保障高速接口時序合規性。現代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口，用于連接傳感器與**計算單元。這些接口對信號邊沿時序要求極為嚴苛。杭州國磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度，能夠精確模擬高速信號的上升/下降沿，并配合Digitizer板卡捕獲實際輸出波形，驗證眼圖、抖動與建立/保持時間是否符合協議規范。這種高精度時序控制能力，是確保車載高速通信鏈路穩定性的關鍵測試手段。開放式軟件生態賦能定制化測試開發。杭州國磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開放式GTFY編程環境，允許客戶根據自身芯片特性開發定制化測試流程。對于智能駕駛芯片廠商而言，這意味著可將內部驗證方法論（如ISO26262功能安全測試用例）直接嵌入測試程序，實現自動化安全機制驗證。同時，圖形化數據顯示與用戶管理界面便于測試工程師快速定位故障引腳或模塊，大幅提升調試效率，縮短芯片迭代周期。 江蘇PCB測試系統批發長時間穩定運行，支持1–1000小時持續測試，可靠性高。

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關閉后，測量該模塊的靜態電流（IDDQ）。若電流**高于設計預期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關未完全關斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網絡控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關斷電流，可暴露常溫下難以發現的微小漏電。通過GTFY軟件系統編寫C++腳本，可自動化執行：施加正常工作電壓；發送指令進入低功耗模式并觸發電源門控；延時穩定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。

AI眼鏡作為下一代可穿戴計算終端，正面臨“功能豐富度、續航時長、設備重量”三者難以兼得的工程難題。為實現語音交互、實時翻譯、環境感知與輕量化設計，其**SoC必須在極小面積內集成CPU、NPU、DSP、藍牙/Wi-Fi射頻、傳感器接口與電源管理模塊，同時在先進工藝節點下實現**靜態功耗。這類高度集成的異構SoC對測試設備提出了嚴苛要求：不**需驗證復雜功能邏輯，更要精確測量nA級漏電流、微瓦級動態功耗及多電源域切換時序。國磊GT600測試機支持每通道PPMU，可實現nA級IDDQ測量，**識別SoC在睡眠模式下的漏電異常，確保續航能力不受“隱形功耗”拖累。立即聯系我們，獲取專屬的產品演示與報價。

AI眼鏡SoC普遍采用40nm以下工藝，集成高精度ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊，用于麥克風陣列信號采集、骨傳導音頻輸出與電源穩壓。國磊GT600測試機支持可選配GT-AWGLP02任意波形發生器（THD-122dB，SNR110dB）與20/24bit分辨率Digitizer，可用于語音前端信號鏈的INL、DNL、THD、SNR等參數測試，確保AI語音識別輸入的準確性。其高精度浮動SMU板卡支持寬電壓范圍輸出，可用于LDO負載調整率、PSRR及上電時序驗證，保障音頻與傳感模塊的電源穩定性。GT600的模塊化16插槽架構支持數字、模擬、混合信號板卡混插，實現從NPU到傳感器接口的一站式測試，避免多設備切換帶來的數據割裂。國磊GT600每通道集成PPMU，支持nA級電流分辨率，可精確測量SoC在睡眠、深度睡眠或關斷模式下的靜態漏電流。杭州國磊導電陽極絲測試系統

國磊GT600SoC測試機高精度浮動SMU板卡可實現HBM接口電源域的電壓裕量（VoltageMargining）與功耗測試。GEN3測試系統供應

    測試數據閉環助力量子芯片協同優化，杭州國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數據分析與圖形化顯示功能。這些測試數據可與量子芯片的設計仿真平臺聯動，形成“測試—反饋—優化”閉環。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標，可反向指導量子比特布局或濾波器設計，提升整體系統相干時間。國產化替代保障量子科技供應鏈安全量子技術屬于國家戰略科技力量，其**裝備的自主可控至關重要。杭州國磊（Guolei）作為國產**ATE廠商，其GT600系統已實現對國際同類設備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然杭州國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特，但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器，也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。 GEN3測試系統供應