MEMS射頻開關與濾波器（RFMEMS）用于5G通信前端模塊，具有低插損、高隔離度優勢。雖MEMS本體為無源器件，但常集成驅動/控制CMOS電路。杭州國磊（Guolei）支持點：測試驅動IC的開關時序（TMU精度達10ps）；驗證控制邏輯與使能信號的數字功能；測量驅動電壓（可達7V）與靜態/動態功耗；雖不直接測S參數，但可確保控制電路可靠性，間接保障RF性能。光學MEMS（如微鏡、光開關）應用于激光雷達（LiDAR）、投影顯示（DLP替代）、光通信。其驅動ASIC需提供高精度PWM或模擬電壓控制微鏡偏轉角度。杭州國磊（Guolei）支持點：AWG輸出多通道模擬控制波形，驗證微鏡響應一致性；TMU測量開關建立時間與穩定時間；數字通道驗證SPI配置寄存器功能；支持多通道同步測試，適配陣列式MEMS微鏡模組。 國磊GT600SoC測試機作為一款通用型高jiATE，其設計目標是支持廣類型的復雜SoC芯片的測試驗證。GEN測試系統供應

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關閉后，測量該模塊的靜態電流（IDDQ）。若電流**高于設計預期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關未完全關斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網絡控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關斷電流，可暴露常溫下難以發現的微小漏電。通過GTFY軟件系統編寫C++腳本，可自動化執行：施加正常工作電壓；發送指令進入低功耗模式并觸發電源門控；延時穩定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。精密電阻測試國磊GT600在400MHz速率下測試SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能驗證。

杭州國磊GT600 SoC測試機在車規芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛士”的關鍵角色，其應用貫穿從研發驗證到量產的全過程，精細滿足AEC-Q100等嚴苛標準。 首先，國磊GT600的**優勢在于其高精度參數測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數測量單元）可精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），這是車規芯片的**指標。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變為功能失效，國磊GT600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內“零漏電”，大幅提升產品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續運行1000小時以上，驗證其長期穩定性。其浮動SMU電源板卡能精細模擬車載12V/24V供電系統，驗證電源管理單元（PMU）在電壓波動、負載突變下的響應能力，防止“掉電重啟”。

傳統測試設備面向通用CPU/GPU設計，難以應對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯等新架構。GT600針對此類需求優化了測試向量調度機制與并行激勵生成能力，支持對非規則數據流、動態稀疏***、混合精度運算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構系統的工作狀態。這種“為AI而生”的設計理念，使GT600不僅兼容現有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創新。在杭州打造“中國算力之城”的進程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進，**國產測試技術范式升級。國磊GT600SoC測試機可選配GT-TMUHA04板卡，提供10ps時間分辨率與0.1%測量精度，用于HBM接口時序對齊測試。

每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強制電壓測電流）模式下，精確測量nA級靜態漏電流（Iddq），相當于檢測每秒流過數億個電子的微小電流。在手機芯片測試中，這能識別因工藝缺陷導致的“待機耗電”問題，確保續航達標。在FIMV（強制電流測電壓）模式下，可驗證電源調整率，防止芯片在高負載下電壓跌落導致死機。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。國磊GT600SoC測試機400MHz測試速率可覆蓋HBM2e/HBM3接口邏輯層的高速功能驗證。湖州PCB測試系統廠家供應

國磊GT600每通道集成PPMU支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV多種模式，滿足運放、比較器等模擬器件特性測試需求。GEN測試系統供應

在量子科研機構或企業構建本土化測控生態時，采用國產測試平臺可降低技術封鎖風險，加速從實驗室原型到工程化產品的轉化。雖然國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態或操控量子比特，但作為支撐量子系統“經典側”電子學的**測試基礎設施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產、供應鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經典混合系統”復雜度提升，高性能SoC測試設備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊（Guolei）的SoC測試系統不僅是半導體產業的利器，也正在成為量子科技產業化進程中的一塊關鍵拼圖。GEN測試系統供應