國磊GT600支持可選配高精度浮動SMU板卡，每塊SMU可**輸出電壓與監測電流。對于具有多個電源域（如VDD_CORE、VDD_IO、VDD_SRAM、VDD_PG）的SoC，GT600可為每個域分配**SMU通道，實現各電源域**上電/斷電、不同電壓值（如1.8V、1.2V、0.9V）同時施加、防止電源域間相互干擾。現代SoC要求多個電源域按特定順序上電（如先VDD_IO，后VDD_CORE）以避免閂鎖效應。國磊GT600通過GTFY軟件系統編程控制各SMU的開啟時間，精確設置各域電壓的上升延遲（精度達ms級），驗證SoC在正確與錯誤時序下的行為，確保設計符合規范。國磊GT600的SMU和PPMU支持實時監測每個電源域的電流消耗，可用于識別某電源域的異常功耗（如漏電、短路）、分析不同工作模式（運行、睡眠、喚醒）下的域級功耗分布、驗證電源門控模塊是否有效切斷目標域供電。國磊GT600可編程調節各電源域電壓（如±5%波動），測試SoC在電壓偏移條件下的功能穩定性，評估電源完整性設計余量。對于國磊GT600SMU電壓范圍外的電源（如高壓模擬域），可通過GPIB/TTL接口控制外部源表或電源模塊，實現與GT600內部SMU的同步操作，構建完整的多電源域測試系統。國磊GT600SoC測試機有靈活的硬件配置和開放的軟件平臺，適配多種工藝節點、封裝形式和功能架構的SoC。高性能SIR測試系統供應商

國磊半導體GM8800導電陽極絲測試系統是國產**儀器替代進口的典范。該系統支持比較高256個測試點的同步監測，電阻測量范圍覆蓋10^4~10^14Ω，精度依據不同區間控制在±3%至±10%，性能指標對標國際前列產品。GM8800提供從1V到3000V的寬范圍可編程偏置電壓，內置電源精度優異（±0.05V within 100VDC），外接高壓穩定可靠，電壓上升速度快，并可設置1~600秒的測試電壓穩定時間，確保測試條件的精確性與可重復性。系統具備***的數據采集能力，實時監測并記錄電阻、電流、電壓、溫度、濕度等所有關鍵參數，采用完全屏蔽線纜以保障信號 integrity。其軟件平臺功能強大，提供測試控制、實時顯示、歷史數據分析、報警管理、報告生成及遠程訪問等功能。在系統保護方面，GM8800設計了完善的報警機制（涵蓋低阻、測試狀態、環境條件、電源、軟件健康度）和UPS斷電保護選項。相較于價格高昂的英國GEN3設備，GM8800在提供同等***性能的同時，***降低了用戶的初始投資和長期持有成本，并且憑借公司本地化的優勢，能夠提供更及時、更有效的技術支持和定制化服務，完美滿足新能源汽車、儲能系統、5G通信、航空航天等領域對高性能絕緣可靠性測試設備的迫切需求，加速了產業鏈的自主可控進程。杭州國磊CAF測試系統市場價格國磊GT600的16個通用插槽支持數字、模擬、混合信號板卡混插，實現電源管理IC、傳感器信號調理芯片的測試。

“風華3號”的推出標志著國產全功能GPU在大模型訓練、科學計算與重度渲染領域實現從0到1的突破。其集成RISC-VCPU與CUDA兼容GPU架構，支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生態，對芯片功能復雜度、接口帶寬與時序精度提出了極高要求。此類高性能GPU通常具備數千個邏輯引腳、多電源域、高速SerDes接口及復雜狀態機，傳統測試設備難以完成**驗證。國磊GT600測試機支持**2048個數字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋“風華3號”類GPU的高引腳數、高速功能測試需求。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜計算指令序列的Pattern加載，確保GPU**、NPU單元及RISC-V子系統的功能正確性。

“風華3號”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫療顯示的GPU，對模擬輸出精度、色彩一致性與時序穩定性要求極為嚴苛。國磊GT600測試機支持可選配GT-AWGLP02任意波形發生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號完整性與動態性能。其20/24bit分辨率支持對ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數進行精確測量，確保醫療顯示場景下的灰階過渡平滑與色彩還原準確。國磊GT600測試機的模塊化16插槽架構支持數字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實現從GPU**到顯示輸出的端到端測試閉環。國磊GT600SoC測試機可選配GT-TMUHA04板卡，提供10ps時間分辨率與0.1%測量精度，用于HBM接口時序對齊測試。

國磊半導體GM8800導電陽極絲（CAF）測試系統是國產**測試儀器實現創新突破的**產品。該系統以其可擴展至256通道的強大并行處理能力、高達10^14Ω的超寬電阻測量范圍和優異的精度（±3%~±10%），為絕緣材料的可靠性評估設立了新的**。GM8800提供精確且穩定的電壓應力源，內置0V~±100V，外接高達3000V，電壓輸出精度高，調節步進小，建立速度快，并可自定義1~600秒的測試電壓穩定時間，確保各種測試條件都能被精確復現。系統具備***的實時監測功能，同步采集電阻、電流、電壓、溫度、濕度數據，并通過專業軟件進行高效管理與深度分析，用戶還可通過網絡實現遠程操作與實時監控。其堅固的硬件平臺輔以多層次的安全保護設計，包括多種故障報警和斷電續航能力，保障系統能夠穩定運行長達9999小時的持續測試任務。與傳統的進口設備如英國GEN3相比，GM8800在提供同等前列測量性能的同時，在采購成本、使用靈活性、維護便利性以及技術服務響應速度上展現出***優勢，正廣泛應用于國內PCB制造、IC封裝、汽車電子、航空航天等領域，成為客戶提升產品質量、進行可靠性驗證和實現進口替代的**裝備。電阻測量范圍10?–101?Ω，滿足高阻值測試需求，數據準確可靠。國產替代絕緣電阻測試系統哪家好

國磊GT600通過SMU或Digitizer監測目標電源域電壓，若在門控關閉后電壓仍維持非零值，表明電源未真正切斷。高性能SIR測試系統供應商

國磊GT600測試機的100ps邊沿精度與10ps分辨率TMU，可精確測量低功耗狀態切換延遲與喚醒時間，確保實時響應性能。此外，GT600支持20/24bitAWG與Digitizer，可用于集成在低功耗SoC中的高精度ADC/DAC、傳感器接口電路的動態參數測試（如SNR、THD）。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜低功耗狀態機的序列測試，而512Sites高并行測試能力則**降低單位測試成本，滿足物聯網、可穿戴設備等高量產場景的需求。綜上所述，現代工藝節點與充足資金確實使低功耗SoC能夠覆蓋更**的用例，但其設計復雜度的提升也對測試設備提出了更高要求。國磊GT600測試機憑借其高精度模擬測量能力、靈活的混合信號支持、高并行架構與開放軟件平臺，不**能夠驗證低功耗SoC的功能正確性，更能深入評估其在先進工藝下的功耗行為與可靠性，成為支撐低功耗SoC從設計到量產落地的關鍵測試基礎設施。高性能SIR測試系統供應商