金相顯微鏡放大倍數通常在50-1000倍，照明系統有透射光和同軸反射光，而體視顯微鏡的放大倍數一般在5-100倍之間， 一般有透射光，斜射光和外部環形光源等照明方式。金相顯微鏡和體視顯微鏡相比放大倍數比較大，但是觀察范圍要小很多，兩種顯微鏡互補能夠滿足絕大多數應用需求。無限遠光學系統確保整體圖像質量和系統拓展性；22mm大視野平場成像；穩定的色溫和度白光LED照明；流線型的機身外觀和特殊的表面處理工藝，基于人體工程學設計，操作更加便捷舒適；落射照明附件配置簡易偏光附件，可實現偏光觀察；保留了明場觀察方法，同時可拓展暗場、專業偏光和熒光等觀察方法；三目觀察，配置數碼相機可對樣本進行拍攝和精細測量。共聚焦顯微鏡是由顯微鏡光學系統、激光光源、掃描器及檢測及處理系統4部分組成；PSM-1000顯微鏡產品介紹
典型的共焦顯微鏡裝置是在被測對象焦平面的共軛面上放置兩個小孔，其中一個放在光源前面，另一個放在探測器前面，如圖1所示。由圖可知，當被測樣品處于準焦平面時，探測端收集到的光強比較大；當被測樣品處于離焦位置時，探測端的光斑發生彌散，光強迅速減小。因此，只有焦平面上的點所發出的光才能透過出射針（zhen）孔，而焦平面以外的點所發出的光線在出射針（zhen）孔平面是離焦的，絕大部分無法通過中心的針（zhen）孔。因此，焦平面上的觀察目標點呈現亮色，而非觀察點則作為背景呈現黑色，反差增加，圖像清晰。在成像過程中，兩針（zhen）孔共焦，共焦點為被探測點，被探測點所在的平面為共焦平面。PSM-1000顯微鏡產品介紹STM和AFM的原理其實就是利用探針與樣品間的距離進行測繪；
掃描透射電子顯微鏡兼具掃描成像與透射分析的特點，其儀器結構可看作SEM與TEM的結合。STEM主要由電子槍、電子光學系統、樣品室、環形探測器與成像設備等組成。STEM與TEM的主要區別在于添加了掃描附件；與SEM的不同在于電子信號探測器安置在樣品下方。
優缺點：
優點：（1）成像質量高，受樣品厚度與儀器干涉小（2）可達到原子分辨率（3）結果分析簡單、直觀（4）能夠快速獲取樣品的綜合信息，成像效率高。
缺點：（1）制樣時間長，對樣品的要求高；（2）一些材料在高能電子束中不穩定；（3）測試成本高，儀器分布稀少。
顯微鏡透射照明的方式有兩種：(1)臨界照明這種照明要求聚光鏡所成的光源像與被觀察物體的物平面重合，如圖1所示，相當于物面上放置一個光源，燈絲的形狀同時出現在像面上，而造成不理想的觀察效果。臨界照明透射照明中，為使物鏡的孔徑角得以充分利用，聚光鏡應有與物鏡相同或稍大的數值孔徑。臨界照明聚光鏡的孔徑光闌常設在聚光鏡的物方焦平面上，如果顯微鏡用的是遠心物鏡，聚光鏡的出射光瞳與物鏡的入射光瞳重合。聚光鏡的光闌做成可變光闌，可任意改變射入聚光鏡的孔徑角，使之與物鏡的數值孔徑匹配。由于臨界照明聚光鏡的出射光瞳和像方視場分別與物鏡的入射光瞳和物方視場重合，所以形成“瞳對瞳，視場對視場”的光管。臨界照明的缺點在于當光源亮度不均勻或者呈現明顯的燈絲結構時,將會反映在物面上，使物面照度不均勻，從而影響觀察效果。為了達到比較均勻的照明，這種照明方式對發光體本身的均勻性要求較高，同時要求被照明物體表面和光源像之間有足夠的離焦量。后續物鏡的孔徑角應該取大一些，如果物鏡的孔徑角過小，焦深會很大，容易反映出發光體本身的不均勻性。 顯微鏡不同的照明方式，觀察成像也不同。
掃描探針顯微鏡是在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導顯微鏡，掃描電化學顯微鏡等)的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器。
掃描探針顯微鏡的基本工作原理是利用探針與樣品表面原子分子的相互作用，即當探針與樣品表面接近至納米尺度時形成的各種相互作用的物理場，通過檢測相應的物理量而獲得樣品表面形貌。掃描探針顯微鏡主要由探針、掃描器、位移傳感器、控制器、檢測系統和圖像系統5部分組成。 共聚焦顯微鏡主要的觀察對象是熒光。安徽顯微鏡廠家供應
共聚焦顯微鏡為什么能比熒光顯微鏡拍的效果更好呢？PSM-1000顯微鏡產品介紹
顯微鏡的觀察方法
明視場觀察：垂直照射測量物表面，適用于金屬、印刷電路板、淺孔的表面觀察。
暗視場觀察：通過對從工件發出的散射光進行觀察，可完成在明視場下觀察不到的劃痕、塵埃、凹凸，以及勝任低反射工件的觀察。
偏光觀察：觀察具有偏光特性的物質，適用于半導體材料、液晶、結晶、金屬組織、礦物等表面觀察。
微分干涉（DIC）觀察：利用Nomarski棱鏡將光線分為兩束，形成明暗和對比度變化，可進行立體觀察。適用于觀察硅片的結晶缺陷、磁頭研磨面的損傷檢查、涂裝面、金屬組織、礦石表面等。 PSM-1000顯微鏡產品介紹
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