探針測試臺x-y工作臺的分類縱觀國內外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺，可編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結構的不同可為兩大類，即：以美國EG公司為**的平面電機型x-y工作臺（又叫磁性氣浮工作臺）自動探針測試臺和以日本及歐洲國家生產的采用精密滾珠絲杠副和直線導軌結構的x-y工作臺型自動探針測試臺。由于x-y工作臺的結構差別很大，所以其使用維護保養不可一概而論，應區別對待。探針臺采用高剛性顯微鏡龍門設計。定制探針臺

H系列探針臺是一款配置綜合型手動測試探針臺,該系列探針臺設備配置豐富，基本可以滿足一般實驗室的全部測試要求。其樣品臺可以360度快速移動，便于快速定位樣品位置，提高測試效率。并且具備三段式針座平臺，在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到快速分離。此設備一般適用于大型實驗室或者半導體工廠。產品優勢：卡盤可360度快速移動，便于快速定位樣品位置，提高測試效率大手柄微分頭驅動，省時，省力，省心三段式可升降探針座平臺，在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到快速分離山東定制探針臺各鐘規格國產射頻探針。

低溫探針臺中低電流測量的注意事項：低電流測量（低于 1 nA）是評估成熟和新興半導體器件的設計和制造質量的關鍵工具。在這種情況下，器件材料、生長參數或器件幾何形狀的修改會導致器件中出現不希望的和無關的電流路徑。這些所謂的漏電流可能是由材料缺陷、柵極氧化物形態、襯底選擇和電場分布造成的，并導致器件性能下降——常見的是功耗過大。由于許多這些泄漏路徑背后的物理機制具有眾所周知的溫度依賴性，因此低溫探測測量可以成為識別電流泄漏的精確機制的有用評估工具，特別是對于新材料和器件架構。

    RF/mmW超高頻測試探針臺系統可配合市場主流擴頻模塊進行超高頻測試l大行程高精度探針座，X-Y-Z-Theta四軸控制l顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內移動，擴大了顯微鏡視場l兼容直流與高頻信號l可以定制，可升級性強lFA(失效分析)**激光探針臺系統失效分析實驗室**（芯片去層/線路或Pad切割與熔接電性能測試驗證）l激光鐳射波長1064/532/355nm可選擇性去除特定材料、而不損傷下層或基底l材料/器件（尤其是射頻特征芯片）的IV/PIV/CV電性測試和失效分析。l**小切割線寬：355nm1um;，行程25mm，升降精度1uml卡盤，采用中心吸附孔和多圈吸附環固定樣品l可調節顯微鏡快速傾仰，便于更換物鏡，帶自動鎖定功能。l高功率白色照明光源（亮度可以無級調節）。 2022年探針臺市場規模達到16億美元。

探針臺是半導體(包含集成電路、分立器材、光電器材、傳感器)行業重要的檢測配備之一，其廣泛應用于雜亂、高速器材的ing密電氣測量，旨在保證質量及可靠性，并縮減研發時刻和器材制作工藝的本錢。探計臺用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測驗環節，負責晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針觸模并逐人測驗。在半導體器材與集成電路制作工藝中，從單晶硅棒的制取到ZU終器材制作的完結需經過雜亂的工序，可分為前道工序與后道工序，探針臺是檢測半導體芯片的電參數、光參數的關鍵設備。低溫探針臺集成系統。湖南 IGBT探針臺

探針臺是半導體(包含集成電路、分立器材、光電器材、傳感器)行業的檢測標配。定制探針臺

波銘科儀CH-196高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在極端環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。通過液氮或者壓縮機制冷，可以在防輻射屏內營造一個穩定的測試環境。在特殊材料，半導體器件等研究方向具有***運用。一般用于相關單位實驗室。產品優勢：防輻射屏和熱沉設計降溫速度快，常溫降至77k<25mins，提高測試效率液氮自動控制系統，液氮流量模塊和溫度控制模塊一起聯動共同控制溫度。定制探針臺

上海波銘科學儀器有限公司是我國拉曼光譜儀，電動位移臺，激光器，光電探測器專業化較早的有限責任公司（自然）之一，公司位于望園南路1288弄80號1904、1909室，成立于2013-06-03，迄今已經成長為儀器儀表行業內同類型企業的佼佼者。波銘科儀致力于構建儀器儀表自主創新的競爭力，多年來，已經為我國儀器儀表行業生產、經濟等的發展做出了重要貢獻。