在半導體制造的后段工藝流程中，對晶圓測試（CP）階段生成的Mapping圖進行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項常規且至關重要的質量管控手段。該技術的價值在于運用統計方法，識別并剔除那些雖未超出規格界限但表現異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進質量理念的踐行者。該方案嚴格遵循AEC-Q100等車規級認證標準，不僅提供標準PAT功能，更針對高可靠性應用的嚴苛要求，內置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對測試參數進行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提升CP測試的缺陷檢出率，將早期失效風險遏制在封裝之前。這直接帶來了測試質量的飛躍與測試成本的優化，助力客戶輕松滿足車規、工規等產品對質量與可靠性的不懈追求。Mapping Over Ink處理提升產品市場競爭力，降低客戶投訴率。北京晶圓MappingOverInk處理服務

當企業評估良率管理系統的投入產出比時，功能覆蓋度與服務適配性成為關鍵考量。YMS系統提供從基礎數據采集到深度分析的多級配置選項，可根據企業規模與業務復雜度靈活調整。基礎模塊滿足自動化數據接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監控、異常自動過濾及定制化報表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標準數據格式，確保系統即插即用。價格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時保障長期使用價值。配合完善的售前咨詢、售中方案優化與售后標準化服務，系統全生命周期成本明顯降低。這種高性價比的部署模式，使企業在有限預算下仍能實現良率數據的閉環管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體行業的深刻理解，為客戶提供兼具經濟性與擴展性的YMS解決方案。遼寧半導體MappingOverInk處理系統定制上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質量風險芯片。

當測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數據時，傳統人工清洗往往需耗費數小時核對字段、剔除重復記錄。YMS系統通過自動解析引擎識別各類數據結構，檢測重復性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數據統一歸入標準化數據庫，確保后續分析基于一致、干凈的數據源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數據清洗作為YMS的基礎能力，支撐客戶實現高效、可靠的良率管理。

在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數據難以統一管理的挑戰時，YMS良率管理系統提供了一套端到端的解決方案。系統自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數據，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數據庫對數據統一分類，企業可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區域對比缺陷分布，快速定位工藝異常。結合WAT、CP與FT參數的聯動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續打磨YMS系統，助力客戶構建自主可控的良率管理能力。Mapping Over Ink處理系統輸出結構化日志，完整記錄處理過程滿足質量追溯需求。

晶圓邊緣區域良率持續偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統在完成stdf、log等原始數據清洗后，依據晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現中心、過渡區與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區域的表現，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現象是偶發異常還是系統性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優化措施從“整體調整”轉向“精確干預”，明顯提升工藝調試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。Mapping Over Ink處理支持txt與原始Probe格式雙向轉換，滿足多樣化數據需求。安徽自動化Mapping Inkless解決方案

Mapping數據經解析后與Bin信息精確對齊，確保測試結果可追溯。北京晶圓MappingOverInk處理服務

傳統良率卡控依賴人工設定固定閾值，難以適應產品迭代或工藝波動。YMS系統基于歷史測試數據自動計算SYL（良率下限）與SBL（良率控制線），并根據統計規律動態調整控制邊界。當某批次實際良率跌破SBL時，系統立即觸發告警，通知質量人員介入；若連續多批接近SYL，則提示需啟動工藝評審。該機制將質量防線前置，防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環節，有效控制報廢成本。自動計算替代經驗估算，確保卡控標準客觀、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動卡控作為YMS的關鍵功能，支撐客戶實現過程質量的主動管理。北京晶圓MappingOverInk處理服務

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優秀人才，集企業奇思，創經濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區的數碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業的方向，質量是企業的生命，在公司有效方針的領導下，全體上下，團結一致，共同進退，**協力把各方面工作做得更好，努力開創工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結經驗，才能繼續上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！