不同封測(cè)廠的設(shè)備組合、工藝路線和管理重點(diǎn)差異明顯，標(biāo)準(zhǔn)化系統(tǒng)難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產(chǎn)良率管理方案，可根據(jù)客戶實(shí)際接入的Tester設(shè)備（如T861、STS8107、MS7000等）和數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，調(diào)整解析邏輯、分析維度與報(bào)表模板。例如，針對(duì)高頻返工場(chǎng)景，可定制缺陷聚類規(guī)則；針對(duì)客戶審計(jì)需求，可開發(fā)合規(guī)性報(bào)告模塊。系統(tǒng)底層保持統(tǒng)一數(shù)據(jù)治理規(guī)范，上層應(yīng)用則靈活適配業(yè)務(wù)流程，確保數(shù)據(jù)質(zhì)量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動(dòng)計(jì)算與多格式報(bào)表導(dǎo)出功能，進(jìn)一步提升質(zhì)量閉環(huán)速度。這種“量體裁衣”式的服務(wù)模式，使系統(tǒng)真正融入客戶日常運(yùn)營(yíng)。上海偉諾信息科技有限公司將定制開發(fā)視為價(jià)值共創(chuàng)過(guò)程，以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，可以將測(cè)試后處理的芯片做降檔處理，降低測(cè)試Cost。寧夏半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)價(jià)格

面對(duì)國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體制造對(duì)自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系統(tǒng)自動(dòng)采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測(cè)試數(shù)據(jù)，通過(guò)內(nèi)置算法識(shí)別重復(fù)項(xiàng)、缺失值并過(guò)濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支撐下，企業(yè)可從時(shí)間維度追蹤良率趨勢(shì)，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝波?dòng)點(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，進(jìn)一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制，強(qiáng)化了過(guò)程質(zhì)量防線。靈活的報(bào)表工具支持按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái)，專注打造適配本土需求的YMS系統(tǒng)，助力構(gòu)建中國(guó)半導(dǎo)體軟件生態(tài)。湖北自動(dòng)化MappingOverInk處理服務(wù)商Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯，便于客戶驗(yàn)證和審計(jì)分析結(jié)果。

每周一上午趕制良率周報(bào)曾是質(zhì)量團(tuán)隊(duì)的固定負(fù)擔(dān)：手動(dòng)匯總Excel、調(diào)整圖表、統(tǒng)一格式，耗時(shí)且易出錯(cuò)。YMS內(nèi)置報(bào)表模板可按日、周、月自動(dòng)生成結(jié)構(gòu)化報(bào)告，內(nèi)容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對(duì)比、時(shí)間趨勢(shì)等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經(jīng)營(yíng)會(huì)議，客戶審計(jì)接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔，工程師則調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動(dòng)化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑，避免信息互相影響。報(bào)表制作時(shí)間從數(shù)小時(shí)降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價(jià)值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)靈活報(bào)表功能，推動(dòng)企業(yè)決策從“經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)”向“數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)”轉(zhuǎn)型。

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動(dòng)直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過(guò)全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動(dòng)采集并解析來(lái)自主流測(cè)試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測(cè)試數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢(shì)曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時(shí)，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。失效Die的空間分布特征是判斷工藝問(wèn)題的關(guān)鍵依據(jù)，指導(dǎo)制程參數(shù)優(yōu)化。

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個(gè)關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場(chǎng)、溫度場(chǎng)及壓力場(chǎng)分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問(wèn)題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此，在晶圓測(cè)試（CP）的制造流程中，對(duì)電性測(cè)試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對(duì)這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測(cè)試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。UPLY處理針對(duì)特定層間關(guān)聯(lián)缺陷，通過(guò)垂直面算法判定單顆Die失效概率。天津自動(dòng)化Mapping Inkless解決方案

Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，降低客戶投訴率。寧夏半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)價(jià)格

在晶圓測(cè)試（CP）過(guò)程中，ProbeMapping（探針測(cè)試圖譜）作為記錄每一顆芯片測(cè)試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實(shí)際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問(wèn)題時(shí)有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會(huì)導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測(cè)試結(jié)果無(wú)法被正確解析，更會(huì)中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對(duì)整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對(duì)這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實(shí)際測(cè)試場(chǎng)景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無(wú)縫銜接。該功能支持將CP測(cè)試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺(tái)可直接識(shí)別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過(guò)這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問(wèn)題而“失效”的測(cè)試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測(cè)試帶來(lái)的成本與時(shí)間損失，更能構(gòu)建起一條從測(cè)試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動(dòng)化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基石。 寧夏半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)價(jià)格

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來(lái)、有夢(mèng)想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來(lái)的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來(lái)公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績(jī)，一直以來(lái)，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針，員工精誠(chéng)努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來(lái)贏得市場(chǎng)，我們一直在路上！