在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實質(zhì)上構(gòu)成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構(gòu)成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導致的批次性可靠性風險，為客戶構(gòu)建起一道應對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。 Mapping Over Ink處理技術(shù)適用于消費類至車規(guī)級全品類芯片，覆蓋廣泛應用場景。新疆可視化GDBC平臺

面對國產(chǎn)替代需求，選擇具備技術(shù)自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關(guān)重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數(shù)據(jù)格式，實現(xiàn)從采集、解析到異常過濾的全流程自動化。其分析引擎支持時間序列追蹤、晶圓區(qū)域?qū)Ρ燃癢AT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動，精確識別影響良率的關(guān)鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報表導出功能，進一步強化過程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實施與服務體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強大競爭力。偉諾依托多年項目積累，持續(xù)驗證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價值。新疆可視化GDBC平臺高價值芯片生產(chǎn)依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除，保障關(guān)鍵器件可靠性。

當封測廠每日面對來自數(shù)十臺測試機臺的海量異構(gòu)數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)手工匯總方式已難以滿足實時質(zhì)量管控需求。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，即時采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設備輸出的原始測試數(shù)據(jù)，剔除重復、缺失與異常記錄，構(gòu)建高可信度的數(shù)據(jù)底座。標準化數(shù)據(jù)庫支持從時間軸追蹤良率波動，或聚焦晶圓特定區(qū)域識別系統(tǒng)性缺陷，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當某批次FT良率驟降時，系統(tǒng)可聯(lián)動CP數(shù)據(jù)判斷是否為封裝環(huán)節(jié)引入問題，縮短排查周期達數(shù)小時。圖表化界面與日報、周報、月報自動生成機制，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深入理解，將YMS打造為數(shù)據(jù)驅(qū)動質(zhì)量改進的關(guān)鍵工具。

測試數(shù)據(jù)長期累積導致存儲空間迅速膨脹，而大量重復或無效記錄加劇資源浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前自動清洗，剔除重復提交、通信錯誤產(chǎn)生的冗余信息，并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲于標準化數(shù)據(jù)庫。集中式管理不僅提升磁盤利用率，還簡化備份與維護流程。企業(yè)無需為無效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本，也降低了IT運維復雜度。這種“精簡有效”的存儲策略，在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設計，助力客戶在控制成本的同時構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。Mapping Inkless避免油墨標記對先進封裝工藝的干擾，保持晶圓潔凈度。

因測試數(shù)據(jù)錯誤導致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測或錯誤工藝調(diào)整，造成材料與時間雙重浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗，自動剔除異常記錄，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時，系統(tǒng)會標記該記錄而非直接納入統(tǒng)計，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗證，進一步排除孤立異常點。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎上，明顯降低返工率和報廢風險。這種前置質(zhì)量控制機制，將成本節(jié)約從“事后補救”轉(zhuǎn)向“事前預防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴謹?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學性與可執(zhí)行性。上海偉諾信息科技ZPAT功能，通過堆疊Mapping及不同算法幫助用戶剔除潛在質(zhì)量風險的芯片。海南自動化PAT服務

Mapping Over Ink處理方案支持高密度邏輯與模擬芯片應用，覆蓋多品類半導體產(chǎn)品。新疆可視化GDBC平臺

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動采集并解析來自主流測試設備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標準化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點良率的精細化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標，輔助工程師高效決策。同時，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報告，并導出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。新疆可視化GDBC平臺

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導下，全體上下，團結(jié)一致，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！