為滿足日益嚴苛的車規與工規質量要求，在晶圓測試階段引入三溫乃至多溫測試，已成為篩選高可靠性芯片的標準流程。這一測試旨在模擬芯片在極端環境下的工作狀態，通過高溫、常溫、低溫下的全面性能評估，有效剔除對環境敏感、性能不穩定的潛在缺陷品，從而大幅提升產品的質量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測試數據中識別并剔除這些因溫度敏感性過高而存在潛在風險的芯片，已成為業內高度關注并致力解決的關鍵課題。

為應對車規、工規產品在多溫測試中面臨的參數漂移挑戰，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術積累，開發了一套專門用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關鍵在于，超越傳統的、在各個溫度點進行孤立判定的測試模式，轉而通過對同一芯片在不同溫度下的參數表現進行動態追蹤與關聯性分析，從而精確識別并剔除那些對環境過度敏感、性能不穩定的潛在缺陷品。 STACKED算法適用于多層結構失效分析，解析層間關聯缺陷的分布特征。黑龍江晶圓PAT

在晶圓制造過程中，制程偏差是導致良率損失的主要因素之一，其典型表現即為晶圓上Die的區域性集群失效。此類失效并非隨機分布，而是呈現出與特定制程弱點緊密相關的空間模式，例如由光刻熱點、CMP不均勻或熱應力集中所導致的失效環、邊緣帶或局部區塊。然而，一個更為隱蔽且嚴峻的挑戰在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個“受影響區”。該區域內的Die雖然未發生catastrophicfailure，其內部可能已產生參數漂移或輕微損傷，在常規的CP測試中，它們仍能滿足規格下限而呈現出“Pass”的結果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續封裝應力或終端應用的嚴苛環境下，早期失效的風險將明細高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規的良率分析已不足以應對。必須借助特定的空間識別算法，對晶圓測試圖譜進行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據此將失效區周圍一定范圍內的“PassDie”也定義為高風險單元并予以剔除。這一操作是構建高可靠性產品質量防線中至關重要的一環。 可視化MappingOverInk處理流程上海偉諾信息科技ZPAT功能，通過堆疊Mapping及不同算法幫助用戶剔除潛在質量風險的芯片。

在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結果的重要載體，其數據完整性直接決定了良率分析的準確性與生產流程的可追溯性。然而在實際量產環境中，因硬件通信異常、軟件系統故障、產線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數據丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發生。這類數據異常不僅會導致當批晶圓的測試結果無法被正確解析，更會中斷生產信息鏈，使后續的封裝揀選、質量追溯與制程優化喪失依據，對整體產品良率與制程管控構成嚴峻挑戰。

針對這一行業共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實際測試場景出發，開發出一套高效、可靠的Mapping格式轉換解決方案，致力于從根本上保障數據流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統生成的原始Mapping數據，智能、精確地轉換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內的多種設備類型。通過這一轉換流程，用戶不僅能夠有效恢復因格式問題而“失效”的測試數據，避免晶圓重復測試帶來的成本與時間損失，更能構建起一條從測試到封裝的高可靠性數據通道，從而提升整體生產流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優化提供堅實的數據基石。

ZPAT 是一種基于統計學的芯片篩選技術，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產品的可靠性。在實際的應用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應對日益嚴苛的“零缺陷”質量挑戰，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數超出統計控制界限的異常芯片，從而構筑起一道基于動態統計過程控制的智能質量防線。 Mapping Over Ink處理嚴格遵循AECQ標準進行風險判定，確保車規級芯片可靠性。

當企業評估良率管理系統的投入產出比時，功能覆蓋度與服務適配性成為關鍵考量。YMS系統提供從基礎數據采集到深度分析的多級配置選項，可根據企業規模與業務復雜度靈活調整。基礎模塊滿足自動化數據接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監控、異常自動過濾及定制化報表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標準數據格式，確保系統即插即用。價格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時保障長期使用價值。配合完善的售前咨詢、售中方案優化與售后標準化服務，系統全生命周期成本明顯降低。這種高性價比的部署模式，使企業在有限預算下仍能實現良率數據的閉環管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體行業的深刻理解，為客戶提供兼具經濟性與擴展性的YMS解決方案。Mapping Over Ink處理系統在質量事件發生時自動觸發設備維護工單，實現預防性維護。可視化MappingOverInk處理流程

Mapping Over Ink處理推動數據驅動決策，取代經驗式質量判斷。黑龍江晶圓PAT

在智能制造轉型背景下，YMS已不僅是數據分析工具，更是連接測試與工藝優化的中樞系統。系統實時匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺的測試結果，自動完成結構化清洗與整合，消除信息孤島。標準化數據庫支持動態監控良率變化，例如識別某機臺連續三批邊緣區域良率偏低，觸發設備校準預警。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動攔截異常批次，防止不良品流入下一環節。報表引擎支持按產品線、客戶或班次生成定制化報告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預—反饋”的閉環機制，明顯提升了生產過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導體軟件生態為使命，持續完善YMS的集成能力。黑龍江晶圓PAT

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實力背景、信譽可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標，有組織有體系的公司，堅持于帶領員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍圖，在上海市等地區的數碼、電腦行業中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發展奠定的良好的行業基礎，也希望未來公司能成為*****，努力為行業領域的發展奉獻出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態度和不斷的完善創新理念以及自強不息，斗志昂揚的的企業精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創佳績，一直以來，公司貫徹執行科學管理、創新發展、誠實守信的方針，員工精誠努力，協同奮取，以品質、服務來贏得市場，我們一直在路上！