ZPAT 是一種基于統計學的芯片篩選技術，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產品的可靠性。在實際的應用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應對日益嚴苛的“零缺陷”質量挑戰，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數超出統計控制界限的異常芯片，從而構筑起一道基于動態統計過程控制的智能質量防線。 Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導工藝改進方向。浙江MappingOverInk處理平臺

芯片制造對良率控制的精度要求極高，YMS系統為此提供了從數據采集到根因分析的一站式解決方案。系統兼容多種測試平臺輸出的多格式文件，自動完成數據清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數據一致性。通過關聯WAT、CP、FT等階段的關鍵參數，系統可精確識別導致良率下降的工藝或設計問題，并以圖表形式展現芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報表引擎支持按周期自動生成分析簡報，便于跨部門協同與持續改進。這種精細化的數據治理能力，使企業在激烈競爭中保持質量優勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業軟件能力賦能中國半導體產業，其YMS系統已成為多家客戶提升產品競爭力的重要工具。上海PATMapping Over Ink處理支持結果回溯，便于客戶驗證和審計分析結果。

在智能制造轉型背景下，YMS已不僅是數據分析工具，更是連接測試與工藝優化的中樞系統。系統實時匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺的測試結果，自動完成結構化清洗與整合，消除信息孤島。標準化數據庫支持動態監控良率變化，例如識別某機臺連續三批邊緣區域良率偏低，觸發設備校準預警。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動攔截異常批次，防止不良品流入下一環節。報表引擎支持按產品線、客戶或班次生成定制化報告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預—反饋”的閉環機制，明顯提升了生產過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導體軟件生態為使命，持續完善YMS的集成能力。

車間管理者需要的是能即時反映產線狀態的良率監控工具，而非復雜的數據平臺。YMS車間方案聚焦高頻、高敏場景，自動匯聚來自現場Tester設備的測試結果，并實時進行數據清洗與異常過濾，確保看板展示的信息準確有效。通過標準化數據庫，系統支持按班次、機臺或產品型號動態呈現良率熱力圖與缺陷分布，幫助班組長在交接班前快速識別異常批次。當某區域連續出現低良率時，系統可聯動CP與FT數據判斷是否為共性工藝問題，并觸發預警。日報、周報自動生成并支持多格式導出，減少手工填報負擔。這種“輕部署、快響應、強落地”的設計思路，使良率管理真正融入日常生產節奏。上海偉諾信息科技有限公司基于對封測工廠運作邏輯的深刻洞察，持續優化YMS的車間適用性。上海偉諾信息科技Shot Map功能，可以自定義設定Wafer Mapping上Reticle區域并按規則Ink。

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統性失效模式，便源于光刻環節的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現參數漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產生的特定區域內的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現代高可靠性質量管理中一項極具挑戰性的關鍵任務。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據設定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環節的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠將質量管控的關口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風險區域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規、工規等產品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發問題導致的批次性可靠性風險，為客戶構建起一道應對系統性缺陷的堅固防線。 客戶可復用Mapping Over Ink處理結果進行跨批次對比分析，優化生產工藝。新疆半導體Mapping Inkless服務商

Mapping Over Ink處理嚴格遵循AECQ標準進行風險判定，確保車規級芯片可靠性。浙江MappingOverInk處理平臺

當封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時，每臺設備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導致數據接入困難。YMS內置多協議解析引擎，可自動識別各類測試平臺的數據結構與接口協議，無需定制開發即可完成數據采集與格式轉換。系統同步執行重復性檢測、缺失字段識別和異常值過濾，確保入庫數據準確完整。標準化數據庫對所有來源數據統一分類存儲，為后續良率分析提供一致基礎。這種“即插即用”的兼容能力，明顯降低多設備環境下的集成復雜度與維護成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際設備生態，持續優化YMS的適配廣度與穩定性。浙江MappingOverInk處理平臺

上海偉諾信息科技有限公司在同行業領域中，一直處在一個不斷銳意進取，不斷制造創新的市場高度，多年以來致力于發展富有創新價值理念的產品標準，在上海市等地區的數碼、電腦中始終保持良好的商業口碑，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅強不屈的意志，和諧溫馨的工作環境，富有營養的公司土壤滋養著我們不斷開拓創新，勇于進取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因為取得了一點點成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰的準備，要不畏困難，激流勇進，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！