XRD儀器操作規程如下：制樣：1.粉末樣品制樣方法：粉末樣品應干燥，粒度一般要求約10~80μm，應過200目篩子（約0.08mm），且避免顆粒不均勻。用藥勺取適量樣品于玻璃樣品架中間的槽里，另取一塊載玻片，用載玻片輕輕將樣品壓緊，并將高出樣品架表面的多余粉末刮去，如此重復幾次使樣品表面平整。將樣品架邊緣的樣品刮掉，擦干凈即可進行測試。注意事項：玻璃樣品架易碎、數量有限，使用要千萬小心，如有損壞按原價賠償。制樣時用力要均勻，不可力度過大，以免形成粉粒定向排列。樣品一定要刮平，且與樣品架表面高度一致，否則引起測量角度和對應d值偏差。其他樣品：對于不易研碎的樣品，可先將其處理成與窗孔大小一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蠟將其固定在窗孔內，固定時橡皮泥或石蠟等請注意略低于樣品，不要與樣品齊平。片狀、纖維狀或薄膜樣品也可類似固定在樣品架的窗孔內，應注意使樣品表面與樣品架平齊。XRD設備是用于材料研究、工藝開發和質量控制的新一代儀器。XRD一臺多少錢

X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中普遍應用。X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質上都屬于電磁波,只是彼此之間占據不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。當X射線照射到晶體物質上,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結構密切相關不同的晶體物質具有自己獨特的衍射樣,這就是X射線衍射的基本原理。XRD一臺多少錢XRD的測試原理是布拉格方程，檢測速度相當快。

XRD設備的主要功能及特色如下：應用于晶體物質定性和定量相分析，結晶學分析，結構解析、織構和殘余應力分析等；可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導體材料、超導材料、納米材料物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現場原位分析物質結構的變化。配備lynxeye超能檢測器，使檢測靈敏度提高一個量級，可以達到或超出旋轉陽極靶的效果。

XRD衍射強度和峰的寬度與樣品顆粒大小，還是與晶體顆粒大小有關？樣品中晶粒越小，衍射峰的峰高的強度越來越低，但是峰越來越寬，實際上利用X射線衍射峰的寬化對樣品的結晶顆粒度分析就是根據這個原理的（Scherrer公式）。晶粒大小和顆粒大小有關系，但是其各自的含義是有區別的。一顆晶粒也可能就是一顆顆粒，但是更可能的情況是晶粒抱到一起，二次聚集，成為顆粒。顆粒不是衍射的基本單位，但是微小的顆粒能產生散射。如果磨的越細，散射就越強。對于晶粒，如果磨過頭了，晶體結構被破壞了，磨成非晶，衍射能力就沒有了。磨得太狠的話，有些峰可能要消失了，而且相鄰較近的衍射峰會由于寬化而相互疊加，會變成1個或幾個"鼓包"。一般晶面間距大的峰受晶粒細化的影響會明顯一些，因為d值大的晶面容易被破壞。XRD設備的注意事項：固體樣品的表面必須平整。

XRD設備是用于材料研究、工藝開發和質量控制的新一代儀器。該系統具有全自動源和檢測器光學元件以及水平樣品安裝，可以在計算機/配方控制下在標準和高分辨率X射線衍射和X射線反射率模式之間切換，而無需手動更改配置。這可確保每次使用佳工具配置，而無需**設置工具以供使用。得益于出色的分辨率、低角度與低背景，XRD設備是從相識別、定量相分析到晶體結構分析的所有粉末衍射應用的理想解決方案。XRD設備能在整個角度范圍內，保證實現精確的儀器對準（精度等于或優于±0.02°2θ）。加上遵循著嚴格的儀器驗證協議，它可為所有應用提供精確數據。為什么XRD數據的峰強度較低，甚至沒有明顯的衍射峰呢？XRD訂購價

XRD設備利用三強峰原則，即可鑒定出樣品中存在的物相。XRD一臺多少錢

X射線衍射儀基本構造中主要部件包括4個部分。（1）高穩定度X射線源，提供測量所需的X射線，改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長，調節陽極電壓可控制X射線源的強度。（2）樣品及樣品位置取向的調整機構系統，樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測器，檢測衍射強度或同時檢測衍射方向，通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。（4）衍射圖的處理分析系統，現代X射線衍射儀都附帶安裝有專門使用衍射圖處理分析軟件的計算機系統，它們的特點是自動化和智能化。XRD一臺多少錢

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