為什么說XRD測試要求薄膜（塊體）樣品尺寸要合適？因為放置薄膜（塊體）樣品的樣品臺尺寸是固定的，用橡皮泥來固定樣品，樣品太大放不進去，樣品臺小不好固定。XRD設備支持所有基于X射線衍射和散射的材料研究應用，包括定性和定量相分析、結構分析、高分辨率X射線衍射、反射率測量、倒易空間掃描、掠入射衍射（面內GID）、掠入射小角X射線散射（GISAXS）、應力分析和織構分析以及微區衍射，具體取決于使用的附件。無論面對何種應用，XRD設備都會指引用戶選擇較佳的儀器配置。XRD 特別適用于晶態物質的物相分析。深圳便攜式D2 Phaser廠家電話
X射線衍射儀采用創造性的設計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領域的不同應用之間切換，包括：反射率測量（XRR）、高分辨測量（HRXRD）、掠入射（GID）、面內掠入射（IP-GID）、小角散射（SAXS）以及殘余應力和織構分析。主要應用：高分辨XRD（HRXRD），外延多層膜厚度，晶胞參數，晶格錯配，組份，應變及弛豫過程，橫向結構，鑲嵌度，X射線反射率（XRR），薄膜厚度，組份，密度，粗造度，孔隙度。深圳進口德國D2 Phaser工作原理XRD（X 射線衍射）是研究晶體結構有力的方法。
XRD，X射線衍射儀：X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡寫為XPD或是XRD。有時會把它叫做X射線多晶體衍射儀，英文名稱是X-raypolycrystallinediffractometer簡寫仍為XPD或XRD。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，主要部件包括4部分。（1）高穩定度X射線源，提供測量所需的X射線，改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長，調節陽極電壓可控制X射線源的強度。（2）樣品及樣品位置取向的調整機構系統，樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測器，檢測衍射強度或同時檢測衍射方向，通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。（4）衍射圖的處理分析系統，現代X射線衍射儀都附帶安裝有專門使用衍射圖處理分析軟件的計算機系統，它們的特點是自動化和智能化。
XRD儀器操作規程如下：制樣：1.粉末樣品制樣方法：粉末樣品應干燥，粒度一般要求約10~80μm，應過200目篩子（約0.08mm），且避免顆粒不均勻。用藥勺取適量樣品于玻璃樣品架中間的槽里，另取一塊載玻片，用載玻片輕輕將樣品壓緊，并將高出樣品架表面的多余粉末刮去，如此重復幾次使樣品表面平整。將樣品架邊緣的樣品刮掉，擦干凈即可進行測試。注意事項：玻璃樣品架易碎、數量有限，使用要千萬小心，如有損壞按原價賠償。制樣時用力要均勻，不可力度過大，以免形成粉粒定向排列。樣品一定要刮平，且與樣品架表面高度一致，否則引起測量角度和對應d值偏差。其他樣品：對于不易研碎的樣品，可先將其處理成與窗孔大小一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蠟將其固定在窗孔內，固定時橡皮泥或石蠟等請注意略低于樣品，不要與樣品齊平。片狀、纖維狀或薄膜樣品也可類似固定在樣品架的窗孔內，應注意使樣品表面與樣品架平齊。XRD設備特點：零噪音， 單光子檢測的靈敏度。
XRD設備簡介如下：儀器通過對樣品進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制樣簡單、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點，是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。XRD設備的送樣要求：1）粉末樣品：顆粒度在10微米以下；塊體、薄膜樣品：表面打磨平滑，厚度不超過5毫米；尺寸不超過2厘米（平臺不提供制樣）。2）信息要求：若需樣品成分分析，需提供體系可能含有的全部元素。高分辨率 XRD ，可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應變、摻雜劑水平和誤切。進口德國D8 Discover儀器原理
XRD設備可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定等。深圳便攜式D2 Phaser廠家電話
XRD設備的使用可以為實驗提供便利，提供可自由進行實驗室/野外現場科學研究。集成性：XRD與XRF技術集成，在每次檢測中，能夠同時采集XRD和XRF的X射線光子數據，提供物質成分、物相及結構信息，從而促進檢測結果更加精確。簡便性：儀器一鍵式操作，無需校正，自動檢測，無需額外注意高壓系統和水循環冷卻系統（儀器無額外高壓和水循環冷卻系統）。制樣簡單：單次分析只需要15毫克左右的樣品即可獲得優良的檢測結果，樣品制備無需制片、壓片、刮平等，3分鐘即可完成樣品制樣（粉碎、濾篩、裝樣）。深圳便攜式D2 Phaser廠家電話
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