粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，常常被用于耐火材料的粒度分析。對耐火材料的性能而言，粒度的選擇極為重要。粒度的正確選擇直接影響耐火材料的質(zhì)量，微粉及超微粉技術(shù)的引入，大幅提高耐火材料制品的致密度，促進樣品的燒成，提高制品強度，改善耐火材料的耐用性和抗沖刷性。對于不定性耐火材料，尤其對于低水泥、較低水泥澆注料和自流澆注料，超微粉起著一定的結(jié)合劑作用，并且有減水效果。微粉的粒度及分布對試樣的加水量和流動性以及材料的性能影響也很大。麥奇克S3500系列激光粒度分析儀可以實時監(jiān)測并量化樣品中混入的雜質(zhì)。深圳納米激光粒度儀市場價

激光粒度儀的應用：基于光散射理論的激光粒度儀己經(jīng)普遍用于粉末冶金、薄膜、膜片料、催化劑、絕緣材料、潤滑油、超導體、無線電技術(shù)等行業(yè)，涉及化學、制藥、食品、建材等工業(yè)領(lǐng)域并發(fā)揮著越來越大的作用。激光粒度儀可以直接測定大氣中煙塵與灰塵在不同時間、不同位置的含量，從而得出大氣中煙塵灰塵時間-空間分布圖，為解決環(huán)境污染和全球性氣候預測起到一定的指導作用。近年來，大氣污染、金屬氧化物和水力部門對江河的檢測等都是激光粒度儀應用的新焦點。廣州納米粒度儀授權(quán)代理商正確地使用激光粒度儀可以穩(wěn)定產(chǎn)品質(zhì)量，提高產(chǎn)品性能，降低能源和產(chǎn)線消耗，提高生產(chǎn)效率。

HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀技術(shù)參數(shù)：粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）；粒徑測定范圍：0.3nm ～10μm；粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標準粒子100nm）；Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法；Zeta 電位測量范圍：-500 mV ～ +500 mV；分子量測量原理：Debye plot；分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da；測量角度：90° 和173°（可自動或手動選擇）；樣品量：12μL ～ 1000μL。HORIBA 科學儀器事業(yè)部為您提供HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀產(chǎn)地為日本、品牌為HORIBA科學儀器事業(yè)部，型號為SZ-100 V2，價格為40萬-50萬RMB，更多相關(guān)信息可來電咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務。

使用激光粒度儀檢測過程中，需注意保證待測顆粒處于良好的分散狀態(tài)。當前市面上的主流激光粒度儀，基本上都帶有離心循環(huán)分散和超聲分散兩種分散模式，所以對于這種類型儀器的用戶，不建議測試前的機外分散，因為在用燒杯將分散后的溶液導入循環(huán)槽的過程中極易在杯底殘留部分大顆粒，導致測試結(jié)果產(chǎn)生誤差。在儀器中分散樣品時，應注意根據(jù)物料性質(zhì)調(diào)整超聲和離心循環(huán)分散的功率，太大容易導致氣泡的產(chǎn)生，太小則容易導致分散效果變差和大顆粒沉底。激光粒度儀主要分為整體式和分體式。

粒度儀分離顆粒的能力與粒度測試技術(shù)選擇：依據(jù)對顆粒的分離能力.可將測量顆粒的技術(shù)分為單顆粒計數(shù)、顆粒分級和整體平均結(jié)果三類。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術(shù)方法；分級方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等；整體平均的粒度分析方法，從收集到的所有測量顆粒產(chǎn)生信號的總和計算粒度分析，即測量結(jié)果由解析得到，是被測顆粒整體的平均，因此易于實現(xiàn)自動化和在線分析，但分辨率較低。用于催化劑工業(yè)生產(chǎn)的顆粒分析儀選擇整體平均的方法，實驗室研究多數(shù)情況希望獲得單顆粒技術(shù)與外貌信息，分級方法的選擇，應當結(jié)合測量顆粒性質(zhì)與測量方式考慮。LA-350-緊湊型激光粒度儀特點：緊湊的尺寸。Zeta電位粒度儀現(xiàn)價

激光粒度分析儀依據(jù)分散系統(tǒng)分為濕法測試儀器，干法測試儀器。深圳納米激光粒度儀市場價

激光粒度儀的日常維護有以下幾點注意事項：1、清潔維護。每次做完實驗后，一定要及時清洗，避免污染實驗內(nèi)部系統(tǒng)，影響試驗結(jié)果。使用一段時間后，也要定期清洗樣品窗。2、儀器硬件是否正常，能不能和電腦正常連接，能做出基準為正常；超聲攪拌循環(huán)系統(tǒng)是否能夠正常工作。循環(huán)主要是儀器內(nèi)水泵為動力，樣品池上方圓孔有水流出且沒有明顯氣泡為正常。3、光路是否正常。首先，激光管是不是可以正常工作，能出光；其次，光路是不是有偏光現(xiàn)象，可以在樣品窗前遮擋，近似圓為正常；后，光線能不能從正面向儀器右手邊綠色探測器出來，出來光近似圓為正常。深圳納米激光粒度儀市場價

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