深圳市聯合多層線路板有限公司2025-08-20
雙面板的鍍層厚度測量方法常用 X 射線熒光法(XRF),精度 ±0.01μm,測量點覆蓋鍍層不同區域(邊緣、中心),鎳層測 3 點取平均(≥3μm),金層測 5 點取平均(≥0.05μm),確保符合設計要求和焊接可靠性。?
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