AFM液相成像技術的優點在于消除了毛細作用力，針尖粘滯力，更重要的是可以在接近生理條件下考察DNA的單分子行為。DNA分子在緩沖溶液或水溶液中與基底結合不緊密，是液相AFM面臨的主要困難之一。硅烷化試劑,如3-氨丙基三乙氧基硅烷（APTES）和陽離子磷脂雙層修飾的云母基底固定DNA分子，再在緩沖液中利用AFM成像，可以解決這一難題。在氣相條件下陽離子參與DNA的沉積已經發展十分成熟，適于AFM觀察。在液相條件下，APTES修飾的云母基底較常用。DNA的許多構象諸如彎曲，超螺旋，小環結構，三鏈螺旋結構，DNA三通接點構象，DNA復制和重組的中間體構象，分子開關結構和藥物分子插入到DNA鏈中的相互作用都地被AFM考察，獲得了許多新的理解、主要有以下3種操作模式接觸模式（contactmode)，非接觸模式（non-contactmode)和敲擊模式(tappingmode）；上饒原子力顯微鏡測試多少錢
原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性；景德鎮原子力顯微鏡測試價格二極管激光器（LaserDiode）發出的激光束經過光學系統聚焦在微懸臂（Cantilever）背面；
AFM可以用來對細胞進行形態學觀察，并進行圖像的分析；通過觀察細胞表面形態和三維結構，可以獲得細胞的表面積、厚度、寬度和體積等的量化參數等。例如，利用AFM可以對后的細胞表面形態的改變、造骨細胞在加入底物（鈷鉻、鈦、鈦釩等）后細胞形態和細胞彈性的變化、GTP對胰腺外分泌細胞囊泡高度的影響進行研究。利用AFM還可以對自由基損傷的紅細胞膜表面精細結構的研究，直接觀察到自由基損傷，以及加女貞子保護作用后，對紅細胞膜分子形態學的影響。
DNA和蛋白質分子的特定相互作用在分子生物學中起著關鍵作用。蛋白質與DNA結合的精確位點圖譜和不同細胞狀態下結合位點的測定對于了解復雜細胞體系的功能與機理，特別是基因表達的控制都十分關鍵。AFM作為一種高度分辨達0。1nm，寬度分辨率為2nm左右的表面分析技術，已用于表征各類DNA-蛋白質的復合物。低濕度大氣條件下，Rees等利用AFM在接觸模式下考察了λ2PL啟動子在啟動和關閉轉錄過程中對DNA鏈彎曲程度的影響。此外，這個小組還研究了另外一種λ2轉錄因子，Cro-蛋白對DNA彎曲的影響。為了研究Jun蛋白的結合是否會引起DNA鏈的彎曲，Becker等利用AFM研究了包含一個AP21結合位點的線性化質粒DNA與Jun蛋白的復合物。Aizawa小組對DNA蛋白激酶Ku亞結構域和雙鏈DNA斷裂的相關性進行了研究。Kasas等研究了大腸桿菌RNA聚合酶（RNAP)轉錄過程中的動態酶活性。他們的方法是在Zn2+存在的條件下，RNAP能夠松散或緊密地與DNA模板進行結合，通過AFM成像了解其動態過程。并從微懸臂背面反射到由光電二極管構成的光斑位置檢測器（Detector）。
原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contactmode)，非接觸模式（non-contactmode)和敲擊模式(tappingmode）、接觸模式從概念上來理解，接觸模式是AFM直接的成像模式。AFM在整個掃描成像過程之中，探針針尖始終與樣品表面保持緊密的接觸，而相互作用力是排斥力。掃描時，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結構，因此力的大小范圍在10-10～10-6N。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力，便不宜選用接觸模式對樣品表面進行成像。非接觸模式非接觸模式探測試樣表面時懸臂在距離試樣表面上方5～10nm的距離處振蕩。這時，樣品與針尖之間的相互作用由范德華力控制，通常為10-12N，樣品不會被破壞，而且針尖也不會被污染，特別適合于研究柔嫩物體的表面。這種操作模式的不利之處在于要在室溫大氣環境下實現這種模式十分困難。因為樣品表面不可避免地會積聚薄薄的一層水，它會在樣品與針尖之間搭起一小小的毛細橋，將針尖與表面吸在一起，從而增加對表面的壓力。其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。重慶原子力顯微鏡測試公司
微懸臂將隨樣品表面形貌而彎曲起伏，反射光束也將隨之偏移；上饒原子力顯微鏡測試多少錢
橫向力顯微鏡（LFM）是在原子力顯微鏡（AFM）表面形貌成像基礎上發展的新技術之一。工作原理與接觸模式的原子力顯微鏡相似。當微懸臂在樣品上方掃描時，由于針尖與樣品表面的相互作用，導致懸臂擺動，其擺動的方向大致有兩個：垂直與水平方向。一般來說，激光位置探測器所探測到的垂直方向的變化，反映的是樣品表面的形態，而在水平方向上所探測到的信號的變化，由于物質表面材料特性的不同，其摩擦系數也不同，所以在掃描的過程中，導致微懸臂左右扭曲的程度也不同，檢測器根據激光束在四個象限中，（A+C）-（B+D）這個強度差值來檢測微懸臂的扭轉彎曲程度。而微懸臂的扭轉彎曲程度隨表面摩擦特性變化而增減（增加摩擦力導致更大的扭轉）。激光檢測器的四個象限可以實時分別測量并記錄形貌和橫向力數據。上饒原子力顯微鏡測試多少錢