對于蛋白質，AFM的出現極大的推動了其研究進展。AFM可以觀察一些常見的蛋白質，諸如白蛋白，血紅蛋白，胰島素及分子馬達和噬菌調理素吸附在圖同固體界面上的行為，對于了解生物相溶性，體外細胞的生長，蛋白質的純化，膜中毒有很大幫助。例如，Dufrene 等利用AFM 考察了吸附在高分子支撐材料表面上的膠原蛋白的組裝行為。結合X-射線光電子能譜技術和輻射標記技術，他們提出了一個定性解釋其層狀結構的幾何模型。AFM 實驗證實了膠原蛋白組裝有時連續，有時不連續的性質，通過形貌圖也提供了膠原蛋白纖維狀結構特征。Quist等利用AFM 研究了白蛋白和豬胰島素在云母基底上的吸附行為，根據AFM 圖上不同尺寸的小丘狀物質推測，蛋白質有時發生聚集，有時分散分布。Epand 等則利用AFM 技術研究了一類感冒病毒的紅血球凝集素，展示了一種膜溶原蛋白自組裝形成病毒折疊蛋白分子外域的實時過程。從而可以獲得樣品表面形貌的信息。濮陽原子力顯微鏡測試公司
AFM可以用來對細胞進行形態學觀察，并進行圖像的分析。通過觀察細胞表面形態和三維結構，可以獲得細胞的表面積、厚度、寬度和體積等的量化參數等。例如，利用AFM可以對后的細胞表面形態的改變、造骨細胞在加入底物（鈷鉻、鈦、鈦釩等）后細胞形態和細胞彈性的變化、GTP對胰腺外分泌細胞囊泡高度的影響進行研究；利用AFM還可以對自由基損傷的紅細胞膜表面精細結構的研究，直接觀察到自由基損傷，以及加女貞子保護作用后，對紅細胞膜分子形態學的影響。濟南原子力顯微鏡測試價格距離太大不能獲得樣品表面的信息，距離太小會損傷探針和被測樣品，反饋回路的作用就是在工作過程中；
原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率；由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性；
在原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）的系統中，可分成三個部分：力檢測部分、位置檢測部分、反饋系統。力檢測部分在原子力顯微鏡（AFM）的系統中，所要檢測的力是原子與原子之間的范德華力。所以在本系統中是使用微小懸臂（cantilever）來檢測原子之間力的變化量。微懸臂通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微懸臂頂端有一個尖銳針尖，用來檢測樣品－針尖間的相互作用力。這微小懸臂有一定的規格，例如：長度、寬度、彈性系數以及針尖的形狀，而這些規格的選擇是依照樣品的特性，以及操作模式的不同，而選擇不同類型的探針。位置檢測部分原子力顯微鏡在原子力顯微鏡（AFM）的系統中，當針尖與樣品之間有了交互作用之后，會使得懸臂cantilever擺動，當激光照射在微懸臂的末端時，其反射光的位置也會因為懸臂擺動而有所改變，這就造成偏移量的產生。在整個系統中是依靠激光光斑位置檢測器將偏移量記錄下并轉換成電的信號，以供SPM控制器作信號處理。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的；
原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contactmode)，非接觸模式（non-contactmode)和敲擊模式(tappingmode）；接觸模式從概念上來理解，接觸模式是AFM直接的成像模式。AFM在整個掃描成像過程之中，探針針尖始終與樣品表面保持緊密的接觸，而相互作用力是排斥力。掃描時，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結構，因此力的大小范圍在10-10～10-6N。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力，便不宜選用接觸模式對樣品表面進行成像。非接觸模式非接觸模式探測試樣表面時懸臂在距離試樣表面上方5～10nm的距離處振蕩。這時，樣品與針尖之間的相互作用由范德華力控制，通常為10-12N，樣品不會被破壞，而且針尖也不會被污染，特別適合于研究柔嫩物體的表面。這種操作模式的不利之處在于要在室溫大氣環境下實現這種模式十分困難。因為樣品表面不可避免地會積聚薄薄的一層水，它會在樣品與針尖之間搭起一小小的毛細橋，將針尖與表面吸在一起，從而增加對表面的壓力。檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。濮陽原子力顯微鏡測試公司
使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。濮陽原子力顯微鏡測試公司
原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性、濮陽原子力顯微鏡測試公司