AFM液相成像技術的優點在于消除了毛細作用力，針尖粘滯力，更重要的是可以在接近生理條件下考察DNA 的單分子行為。DNA 分子在緩沖溶液或水溶液中與基底結合不緊密，是液相AFM面臨的主要困難之一。硅烷化試劑,如3-氨丙基三乙氧基硅烷（APTES）和陽離子磷脂雙層修飾的云母基底固定DNA 分子，再在緩沖液中利用AFM 成像，可以解決這一難題。在氣相條件下陽離子參與DNA的沉積已經發展十分成熟，適于AFM 觀察。在液相條件下，APTES 修飾的云母基底較常用。DNA的許多構象諸如彎曲，超螺旋，小環結構，三鏈螺旋結構，DNA 三通接點構象，DNA 復制和重組的中間體構象，分子開關結構和藥物分子插入到DNA 鏈中的相互作用都地被AFM考察，獲得了許多新的理解。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。南陽原子力顯微鏡測試系統
原子力顯微鏡是在1986年由掃描隧道顯微鏡(ScanningTunnelingMicroscope)的發明者之一的葛賓尼(GerdBinnig)博士在美國斯坦福大學與C.FQuate和C.Gerber等人研制成功的。[1]它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。連云港原子力顯微鏡測試技術其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。
適用于對生物大分子、聚合物等軟樣品進行成像研究特點：對于一些與基底結合不牢固的樣品，輕敲模式與接觸模式相比，很大程度地降低了針尖對表面結構的“搬運效應”。樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸式的更有效。測試優勢：1)低漂移和低噪音水平；2)配置有專有ScanAsys原子成像優化技術，可以簡易快速穩定成像；3)測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；4)溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現出前所未有的高分辨率。；5)全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下提高了掃描速度；6)測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；AFM應用技術舉例：AFM可以在大氣、真空、低溫和高溫、不同氣氛以及溶液等各種環境下工作，且不受樣品導電性質的限制，因此已獲得比STM更為廣泛的應用。
AFM可以用來對細胞進行形態學觀察，并進行圖像的分析。通過觀察細胞表面形態和三維結構，可以獲得細胞的表面積、厚度、寬度和體積等的量化參數等。例如，利用AFM可以對后的細胞表面形態的改變、造骨細胞在加入底物（鈷鉻、鈦、鈦釩等）后細胞形態和細胞彈性的變化、GTP對胰腺外分泌細胞囊泡高度的影響進行研究。利用AFM還可以對自由基損傷的紅細胞膜表面精細結構的研究，直接觀察到自由基損傷，以及加女貞子保護作用后，對紅細胞膜分子形態學的影響。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應；
AFM對RNA的研究還不是很多。結晶的轉運RNA和單鏈病毒RNA以及寡聚Poly(A)的單鏈RNA分子的AFM圖像已經被獲得。因為在于不同的緩沖條件下，單鏈RNA的結構變化十分復雜，所以單鏈RNA分子的圖像不容易采集。（利用AFM成像RNA分子需要對樣品進行特殊和復雜的處理。Bayburt等借鑒Ni2+固定DNA的方法在緩沖條件下獲得了單鏈Pre-mRNA分子的AFM圖像。他們的做法如下：(1)用酸處理被Ni2+修飾的云母基底以增加結合力；(2)RNA分子在70℃退火，慢慢將其冷卻至室溫再滴加在用酸處理過的Ni2+-云母基底上。采用AFM單分子力譜技術，在Mg2+存在的溶液中，Liphardt等研究了形貌多變的RNA分子的機械去折疊過程，發現了從發夾結構到三螺旋連接體這些RNA分子三級結構的過渡態。隨后他們又利用RNA分子證實了可逆非平衡功函和可逆平衡自由能在熱力學上的等效性。）因此，反饋控制是本系統的主要工作機制。聊城原子力顯微鏡測試價錢
微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測；南陽原子力顯微鏡測試系統
原子力顯微鏡是在1986年由掃描隧道顯微鏡(ScanningTunnelingMicroscope)的發明者之一的葛賓尼(GerdBinnig)博士在美國斯坦福大學與C.FQuate和C.Gerber等人研制成功的；[1]它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等；南陽原子力顯微鏡測試系統