首先，通過一個電子槍生成一個高能電子束。電子槍一般包括一個發射電子的熱陰極（通常是加熱的鎢絲）和一個加速電子的陽極。電子槍的工作是通過電場和磁場將電子束引導并加速到目標材料。電子束撞擊目標材料，將其能量轉化為熱能，使目標材料加熱到蒸發溫度。蒸發的材料原子或分子在真空中飛行到基板表面，并在那里冷凝，形成薄膜。因為這個過程在真空中進行，所以蒸發的原子或分子在飛行過程中基本不會與其他氣體分子相互作用，這有助于形成高質量的薄膜。與其他低成本的PVD工藝相比，電子束蒸發還具有非常高的材料利用效率。電子束系統加熱目標源材料，而不是整個坩堝，從而降低了坩堝的污染程度。通過將能量集中在目標而不是整個真空室上，它有助于減少對基板造成熱損壞的可能性。可以使用多坩堝電子束蒸發器在不破壞真空的情況下應用來自不同目標材料的幾層不同涂層，使其很容易適應各種剝離掩模技術。鍍膜層能有效提升產品的化學穩定性。電子束蒸發真空鍍膜平臺

LPCVD設備的設備構造主要包括以下幾個部分：真空系統、氣體輸送系統、反應室、加熱系統、溫度控制系統、壓力控制系統、流量控制系統等。LPCVD設備的發展趨勢主要有以下幾點：（1）為了降低襯底材料的熱損傷和熱預算，提高沉積速率和產能，開發新型的低溫LPCVD方法，如等離子體增強LPCVD（PE-LPCVD）、激光輔助LPCVD（LA-LPCVD）、熱輻射輔助LPCVD（RA-LPCVD）等；（2）為了提高薄膜材料的質量和性能，開發新型的高純度和高結晶度的LPCVD方法，如超高真空LPCVD（UHV-LPCVD）、分子束外延LPCVD（MBE-LPCVD）、原子層沉積LPCVD（ALD-LPCVD）等；（3）為了拓展薄膜材料的種類和功能，開發新型的復合和異質的LPCVD方法，如多元化合物LPCVD、納米結構LPCVD、量子點LPCVD等。中山新型真空鍍膜真空鍍膜在航空航天領域有重要應用。

柵極氧化介電層除了純二氧化硅薄膜，也會用到氮氧化硅作為介質層，之所以用氮氧化硅來作為柵極氧化介電層，一方面是因為跟二氧化硅比，氮氧化硅具有較高的介電常數，在相同的等效二氧化硅厚度下，其柵極漏電流會降低；另一方面，氮氧化硅中的氮對PMOS多晶硅中硼元素有較好的阻擋作用，它可以防止離子注入和隨后的熱處理過程中，硼元素穿過柵極氧化層到溝道，引起溝道摻雜濃度的變化，從而影響閾值電壓的控制。作為柵極氧化介電層的氮氧化硅必須要有比較好的薄膜特性及工藝可控性，所以一般的工藝是先形成一層致密的、很薄的、高質量的二氧化硅層，然后通過對二氧化硅的氮化來實現的。

熱氧化是在一定的溫度和氣體條件下，使硅片表面氧化一定厚度的氧化硅的。主要有干法氧化和濕法氧化，干法氧化是在硅片表面通入氧氣，硅片與氧化反應生成氧化硅，氧化速率比較慢，氧化膜厚容易控制。濕法氧化在爐管當中通入氧氣和氫氣，兩者反應生長水蒸氣，水蒸氣與硅片表面反應生長氧化硅，濕法氧化，速率比較快，可以生長比較厚的薄膜。直流（DC）磁控濺射與氣壓的關系-在一定范圍內提高離化率（盡量小的壓強下維持高的離化率）、提高均勻性要增加壓強和保證薄膜純度、提高薄膜附著力要減小壓強的矛盾，產生一個平衡。提供一個額外的電子源，而不是從靶陰極獲得電子。實現低壓濺射（壓強小于0.1帕）。射頻（RF）磁控濺射特點-射頻方法可以被用來產生濺射效應的原因是它可以在靶材上產生自偏壓效應。在射頻濺射裝置中，擊穿電壓和放電電壓明顯降低。不必再要求靶材一定要是導電體。LPCVD設備可以沉積多種類型的薄膜材料，如多晶硅、氮化硅、氧化硅、碳化硅等。

磁控濺射方向性要優于電子束蒸發，但薄膜質量，表面粗糙度等方面不如電子束蒸發。但磁控濺射可用于多種材料，適用性廣，電子束蒸發則只能用于金屬材料蒸鍍，且高熔點金屬，如W，Mo等的蒸鍍較為困難。所以磁控濺射常用于新型氧化物，陶瓷材料的鍍膜，電子束則用于對薄膜質量較高的金屬材料沉積源是真空鍍膜技術中另一個必不可少的設備。襯底支架是用于在沉積過程中將襯底固定到位的裝置。基板支架可以有不同的配置，例如行星式、旋轉式或線性平移，具體取決于應用要求。沉積源的選擇取決于涂層應用的具體要求，例如涂層材料、沉積速率和涂層質量。鍍膜后的零件具有優異的導電性能。中山LPCVD真空鍍膜

化學氣相沉積技術是把含有構成薄膜元素的單質氣體或化合物供給基體。電子束蒸發真空鍍膜平臺

LPCVD設備中的薄膜材料的質量和性能可以通過多種方法進行表征和評價。常見的表征和評價方法有以下幾種：（1）厚度測量法，是指通過光學或電子手段來測量薄膜的厚度，如橢圓偏振儀、納米壓痕儀、電子顯微鏡等；（2）成分分析法，是指通過光譜或質譜手段來分析薄膜的化學成分，如X射線光電子能譜（XPS）、二次離子質譜（SIMS）、原子發射光譜（AES）等；（3）結構表征法，是指通過衍射或散射手段來表征薄膜的晶體結構，如X射線衍射（XRD）、拉曼光譜（Raman）、透射電子顯微鏡（TEM）等；（4）性能測試法，是指通過電學或力學手段來測試薄膜的物理性能，如電阻率、介電常數、硬度、應力等。電子束蒸發真空鍍膜平臺