X系列探針臺：1、基板采用鑄件為基準進行設計，使運動的穩定性得到提升，底板的重量同樣在隔震性能上得到提高。2、運動系統采用的是日系高剛性、高精密的導軌和絲桿；反饋檢測系統采用的是0.1μm分辨率光柵尺配合進口運動控制卡與電機形成整個閉環的反饋檢測，以保證實現高精度高溫度性的運動系統。3、整個四維運動設計成低重心的緊湊結構，保證其速率能到達70mm/s，并能提高運動過程中的加速。4、關鍵零件用導電的表面處理，保證每個位置能進行接地保護。手動或者自動移動晶圓片，并通過探針卡實現這一部分的電子線路連接。上海磁場探針臺公司

錸鎢探針指的是采用含錸3%的錸鎢合金絲打造而成的探針。中鎢在線提供好的錸鎢探針產品。鎢作為一種硬度強、耐高溫的金屬材料，常被用于燈絲、電極、熱電偶或者探測針等等，但鎢本身存在易脆和可塑性低的問題，這減小了其使用過程中的壽命。為降低鎢的脆性以及提高其可塑性，傳統的方法通過在鎢內添加稀有金屬形成鎢基合金增加其性能。在鎢內添加錸，可以發生“錸塑化效應”，增加鎢的可塑性。錸鎢合金具有高熔點、厲害度、高硬度、高塑性、高再結晶溫度、高電阻率，低蒸氣壓、低電子逸出功和低塑性脆性轉變溫度等一系列優良性能。貴州自動探針臺生產上海勤確科技有限公司會為您提供專業培訓，科學管理與運營。

探針臺為研究和工程實驗室在測試運行期間移動通過多個溫度點時，提供前所未有的自動化水平。這種新技術使探針系統能夠感知，學習和反應以多溫度和特征的極其復雜的環境。隨著集成電路產品不斷進入汽車應用等更高發熱量的環境，在越來越寬的溫度范圍內表征器件性能和耐用性變得越來越重要。以前，大多數芯片在兩個溫度點進行晶圓級測試，通常為20?C（室溫）和90?C。現在，該范圍已經擴大到-40?C至125?C，并且可能需要在此范圍內的四個溫度步驟中進行一整套測試。某些情況下需要更普遍的范圍，如-55?C至200?C，晶圓可靠性測試可能要求高達300?C的溫度。

對于當今的多芯片（multi-diepackages）封裝，例如堆疊芯片級封裝(SCSP)或系統級封裝(SiP)–開發用于識別已知測試芯片(KTD)和已知良好芯片(KGD)的非接觸式(RF)探針對提高整體系統產量至關重要。晶圓探針臺還可以在晶圓劃片線上執行任何測試電路。一些公司從這些劃線測試結構中獲得大部分有關器件性能的信息。當特定芯片的所有測試圖案都通過時，它的位置會被記住，以便以后在IC封裝過程中使用。有時，芯片有內部備用資源可用于修復（即閃存IC）；如果它沒有通過某些測試模式，則可以使用這些備用資源。測試完成后，探針卡于芯片分離，如果芯片不合格，則會在其中間做上標記。

電纜安裝探針既可以手動使用，也可以與多軸探針定位器一起使用。與典型的探針臺不同，這些探針足夠大，操作員可以手動使用，非常可靠。探針定位器的位置精度和可重復性更高，而且本身可以放置，便于進行測試。與探針臺不同，同軸電纜安裝探針和定位器可以在工程師或技術人員的典型測試臺上用作網絡分析儀、信號發生器、頻譜分析儀、示波器和其他用于射頻/微波、毫米波和高速數字應用的配件。電纜安裝射頻探針的占位面積小、無損壞，并且具有非侵入式設計，可在高密度應用中進行測試，例如天線陣列、超材料、分形天線、微帶傳輸線、緊湊組件以及具有微小表面安裝包裝組件的印刷電路板。上海勤確科技有限公司秉承專業、科技、快捷、準確、誠信的服務精神。廣東芯片測試探針臺供應商

主要工作是檢測芯片設計的功能是否能夠達到芯片的技術指標。上海磁場探針臺公司

探針臺從操作上來區分有：手動，半自動，全自動。從功能上來區分有：高溫探針臺，低溫探針臺，RF探針臺，LCD平板探針臺，霍爾效應探針臺，表面電阻率探針臺。縱觀國內外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺，可編程承片臺、探卡／探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結構的不同可為兩大類，即：平面電機型x-y工作臺（又叫磁性氣浮工作臺）自動探針測試臺和以采用精密滾珠絲杠副和直線導軌結構的x-y工作臺型自動探針測試臺。由于x-y工作臺的結構差別很大，所以其使用維護保養不可一概而論，應區別對待。上海磁場探針臺公司