在環(huán)境可靠性測(cè)試的后續(xù)分析中，金相檢測(cè)是評(píng)估材料環(huán)境適應(yīng)性的重要手段。上海擎奧針對(duì)某戶(hù)外照明設(shè)備的金屬殼體進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)后，通過(guò)金相分析觀察腐蝕產(chǎn)物的分布形態(tài)：在涂層破損處，腐蝕深度可達(dá) 50μm，且呈現(xiàn)沿晶界擴(kuò)展的特征；而完好涂層下的基體只出現(xiàn)輕微的氧化。結(jié)合電化學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)，技術(shù)人員確定了殼體的薄弱區(qū)域，并提出了改進(jìn)涂層厚度和預(yù)處理工藝的建議。這種將宏觀環(huán)境測(cè)試與微觀金相分析相結(jié)合的方法，大幅提升了可靠性評(píng)估的準(zhǔn)確性。材料可靠性評(píng)估中，金相分析是擎奧的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。浦東新區(qū)制造金相分析結(jié)構(gòu)圖

上海擎奧的金相分析實(shí)驗(yàn)室配備了從樣品制備到圖像分析的全流程先進(jìn)設(shè)備，為檢測(cè)質(zhì)量提供堅(jiān)實(shí)保障。實(shí)驗(yàn)室擁有全自動(dòng)金相研磨拋光機(jī)，可實(shí)現(xiàn)從粗磨到精拋的無(wú)人化操作，確保樣品表面粗糙度≤0.02μm；蔡司 Axio Scope A1 金相顯微鏡配備 500 萬(wàn)像素相機(jī)，能捕捉細(xì)微的組織特征；Image-Pro Plus 圖像分析軟件可自動(dòng)測(cè)量晶粒尺寸、孔隙率等參數(shù)，誤差控制在 3% 以?xún)?nèi)。30 余名專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員中，有 5 人具備 10 年以上金相分析經(jīng)驗(yàn)，能處理各類(lèi)復(fù)雜材料的檢測(cè)需求，為客戶(hù)提供兼具精度與深度的技術(shù)服務(wù)。浦東新區(qū)工業(yè)金相分析技術(shù)指導(dǎo)芯片材料缺陷的金相分析由擎奧行家團(tuán)隊(duì)精確識(shí)別。

對(duì)于微電子封裝中的金屬互連結(jié)構(gòu)，金相分析是評(píng)估其可靠性的重要手段。擎奧檢測(cè)采用高精度切片技術(shù)，可對(duì) BGA、CSP 等封裝形式的焊點(diǎn)進(jìn)行無(wú)損截面制備，清晰展示焊球與焊盤(pán)的結(jié)合狀態(tài)。通過(guò)測(cè)量焊點(diǎn)的潤(rùn)濕角、焊料蔓延范圍等參數(shù)，結(jié)合 IPC 標(biāo)準(zhǔn)，能客觀評(píng)價(jià)焊接質(zhì)量。當(dāng)遇到焊點(diǎn)開(kāi)裂等失效問(wèn)題時(shí)，還可通過(guò)金相分析追溯裂紋的起源與擴(kuò)展路徑，為判斷是工藝缺陷還是使用環(huán)境導(dǎo)致的失效提供關(guān)鍵證據(jù)。在金屬材料的腐蝕行為研究中，金相分析能幫助揭示腐蝕機(jī)理。上海擎奧的實(shí)驗(yàn)室配備了環(huán)境模擬艙，可先對(duì)樣品進(jìn)行鹽霧、濕熱等加速腐蝕試驗(yàn)，再通過(guò)金相分析觀察腐蝕產(chǎn)物的分布、腐蝕深度等微觀特征。例如在對(duì)海洋工程用鋼的檢測(cè)中，技術(shù)人員通過(guò)對(duì)比不同腐蝕階段的金相組織，能明確點(diǎn)蝕、晶間腐蝕等不同腐蝕形式的發(fā)展規(guī)律，為客戶(hù)開(kāi)發(fā)耐腐蝕材料、優(yōu)化防護(hù)涂層提供重要的理論依據(jù)。

在芯片制造領(lǐng)域，金相分析是把控產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，上海擎奧檢測(cè)技術(shù)有限公司憑借 2500 平米實(shí)驗(yàn)室中配備的先進(jìn)金相分析設(shè)備，為芯片封裝工藝提供精確支持。技術(shù)人員通過(guò)對(duì)芯片內(nèi)部金屬互連結(jié)構(gòu)的切片、研磨與腐蝕處理，清晰呈現(xiàn)焊點(diǎn)形態(tài)、金屬層界面結(jié)合狀態(tài)，可快速識(shí)別微裂紋、空洞等潛在缺陷。依托團(tuán)隊(duì)中 20% 碩士及博士組成的技術(shù)骨干力量，結(jié)合失效物理分析經(jīng)驗(yàn)，能從金相組織特征追溯芯片可靠性問(wèn)題根源，為客戶(hù)優(yōu)化封裝工藝、提升產(chǎn)品壽命提供科學(xué)依據(jù)芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的金相分析由擎奧專(zhuān)業(yè)人員負(fù)責(zé)。

在芯片制造的晶圓級(jí)封裝環(huán)節(jié)，上海擎奧的金相分析技術(shù)為排查封裝缺陷提供了精細(xì)視角。技術(shù)人員對(duì)晶圓切割道進(jìn)行金相切片，通過(guò)高分辨率顯微鏡觀察切割面是否存在微裂紋、殘留應(yīng)力痕跡，這些微觀缺陷可能導(dǎo)致芯片后期使用中的性能衰減。借助圖像分析系統(tǒng)，可量化評(píng)估切割精度對(duì)封裝體強(qiáng)度的影響，配合公司 30 余人技術(shù)團(tuán)隊(duì)的可靠性測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，為芯片封裝工藝優(yōu)化提供從微觀到宏觀的完整數(shù)據(jù)鏈。汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)中的傳感器金屬外殼，長(zhǎng)期承受高溫高壓環(huán)境，其材料性能退化可通過(guò)金相分析提前預(yù)警。上海擎奧的技術(shù)人員會(huì)截取外殼不同使用周期的樣品，制備金相試樣后觀察晶粒長(zhǎng)大趨勢(shì)與氧化層分布，當(dāng)發(fā)現(xiàn)異常的晶界粗化現(xiàn)象時(shí)，可結(jié)合行家團(tuán)隊(duì)的失效數(shù)據(jù)庫(kù)，預(yù)判材料的剩余壽命。這種前瞻性分析幫助車(chē)企在傳感器失效前進(jìn)行針對(duì)性改進(jìn)，降低售后故障率。產(chǎn)品壽命評(píng)估中，金相分析為擎奧提供關(guān)鍵依據(jù)。國(guó)內(nèi)金相分析結(jié)構(gòu)圖

軌道交通部件的金相分析是擎奧的常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目。浦東新區(qū)制造金相分析結(jié)構(gòu)圖

在上海浦東新區(qū)金橋開(kāi)發(fā)區(qū)川橋路1295號(hào)的上海擎奧檢測(cè)技術(shù)有限公司內(nèi)，2500平米的實(shí)驗(yàn)基地里，金相分析設(shè)備正為芯片行業(yè)提供關(guān)鍵技術(shù)支撐。針對(duì)芯片封裝過(guò)程中出現(xiàn)的焊點(diǎn)開(kāi)裂、鍍層缺陷等問(wèn)題，技術(shù)人員通過(guò)金相切片制備、顯微鏡觀察等流程，精確捕捉微觀結(jié)構(gòu)變化。借助先進(jìn)的圖像分析系統(tǒng)，可量化分析金屬間化合物的厚度與分布，為優(yōu)化封裝工藝提供數(shù)據(jù)依據(jù)。這支由30余名可靠性工程與失效分析人員組成的團(tuán)隊(duì)，常與行家團(tuán)隊(duì)協(xié)作，將金相分析結(jié)果與環(huán)境可靠性測(cè)試數(shù)據(jù)交叉驗(yàn)證，讓芯片產(chǎn)品的潛在失效風(fēng)險(xiǎn)無(wú)所遁形。浦東新區(qū)制造金相分析結(jié)構(gòu)圖