在上海浦東新區金橋開發區的擎奧檢測實驗室里，先進的材料分析設備正在為 LED 失效分析提供精確的支撐。針對 LED 產品常見的光衰、色溫偏移等問題，實驗室通過掃描電子顯微鏡（SEM）觀察芯片焊點微觀結構，結合能譜儀（EDS）分析金屬遷移現象，可以快速的定位失效根源。2500 平米的檢測空間內，恒溫恒濕箱、冷熱沖擊試驗箱等環境測試設備模擬 LED 在不同工況下的不同工作狀態，配合光譜儀實時監測光參數變化，為失效機理研究提供完整數據鏈。解析 LED 光學性能衰退的失效機理。楊浦區LED失效分析

上海擎奧檢測技術有限公司在 LED 失效分析領域擁有扎實的技術實力，依托 2500 平米的專業實驗室和先進的環境測試、材料分析設備，為客戶提供多維且精細的分析服務。針對 LED 產品在使用過程中出現的各類失效問題，公司的專業團隊會從多個維度開展工作，先通過環境測試設備模擬產品所處的復雜工況，獲取溫度、濕度、振動等關鍵數據，再借助材料分析設備深入觀察 LED 芯片、封裝膠、焊點等部件的微觀變化，從而精細定位失效根源。無論是 LED 光衰、驅動電路故障，還是封裝工藝缺陷導致的失效，團隊都能憑借豐富的經驗和科學的分析方法，為客戶提供詳細的失效模式報告，并給出切實可行的改進建議，助力客戶提升產品質量。金山區國內LED失效分析結合可靠性設計開展 LED 失效預防分析。

針對汽車電子領域的 LED 失效分析，上海擎奧構建了符合 ISO 16750 標準的測試體系。車載 LED 大燈常因振動環境導致焊點脫落，實驗室的三軸向振動臺可模擬發動機啟動時的 10-2000Hz 振動頻率，配合動態電阻測試儀實時監測焊點連接狀態，精確定位虛焊失效點。對于新能源汽車的 LED 儀表盤背光失效，技術人員通過高低溫濕熱箱（-40℃~85℃，濕度 95%）進行 1000 次循環測試，結合紅外熱像儀捕捉局部過熱區域，終發現導光板材料在濕熱環境下的老化開裂是主因。這些針對性測試為汽車 LED 產品的可靠性設計提供了直接依據。

LED 失效的物理機理分析需要深厚的理論功底，上海擎奧的技術團隊在這一領域展現了專業素養。針對 LED 在開關瞬間的擊穿失效，技術人員通過瞬態脈沖測試儀模擬浪涌電壓，結合半導體物理模型分析 PN 結的雪崩擊穿過程，確認是芯片邊緣鈍化層缺陷導致的耐壓不足。對于 LED 長期使用后的色溫偏移問題，團隊利用光譜儀連續監測色溫變化，結合色度學理論分析熒光粉激發效率的衰減規律，發現藍光芯片波長漂移與熒光粉老化的協同作用是主因。這些機理層面的分析為 LED 產品的可靠性提升提供了理論支撐。探究 LED 電流過載引發的失效機制。

擎奧檢測與 LED 企業的合作模式注重從失效分析到解決方案的轉化。當某客戶的戶外照明產品出現批量失效時，技術團隊不僅通過失效物理分析確定是防水膠圈老化導致的水汽侵入，還進一步模擬不同配方膠圈的耐候性能，推薦了更適合戶外環境的氟橡膠材料。這種 “問題診斷 + 方案落地” 的服務模式，依托實驗室 2500 平米的綜合檢測能力，可實現從樣品接收、分析測試到改進驗證的一站式服務，平均為客戶節約 60% 的問題解決時間。在 UV LED 的失效分析中，擎奧檢測突破了傳統光學檢測的局限。為 LED 質量管控提供失效分析檢測服務。徐匯區什么是LED失效分析產業

專業團隊研究 LED 封裝膠老化失效問題。楊浦區LED失效分析

LED 芯片本身的失效分析是上海擎奧的技術強項之一，依托 20% 碩士及博士組成的研發團隊，可實現從芯片級到系統級的全鏈條分析。針對某批 LED 芯片的突然失效，技術人員通過探針臺測試芯片的 I-V 曲線，發現反向漏電流異常增大，結合掃描電鏡觀察到芯片表面的微裂紋，追溯到外延生長過程中的應力集中問題。對于 LED 芯片的光效衰減失效，團隊利用光致發光光譜儀分析量子阱的發光效率變化，配合 X 射線衍射儀檢測晶格失配度，精確定位材料生長缺陷導致的性能退化。這些深入的芯片級分析為上游制造商提供了寶貴的改進方向。楊浦區LED失效分析