使用適當(dāng)?shù)钠脚_(tái)、瀏覽器和測(cè)試腳本，以保證目標(biāo)用戶(hù)的體驗(yàn)將足夠好，就像應(yīng)用程序是專(zhuān)門(mén)為該市場(chǎng)開(kāi)發(fā)的一樣。功能測(cè)試是為了確保程序以期望的方式運(yùn)行而按功能要求對(duì)軟件進(jìn)行的測(cè)試，通過(guò)對(duì)一個(gè)系統(tǒng)的所有的特性和功能都進(jìn)行測(cè)試確保符合需求和規(guī)范。計(jì)算機(jī)多媒體網(wǎng)絡(luò)技術(shù)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的認(rèn)知功能系統(tǒng)測(cè)試，實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)充分考慮計(jì)算機(jī)多媒體技術(shù)的特點(diǎn)，為使其具有良好的網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行特性。較后通過(guò)功能系統(tǒng)測(cè)試，驗(yàn)證了整個(gè)系統(tǒng)的正確性。這種設(shè)計(jì)將傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)多媒體化、網(wǎng)絡(luò)化，可以方便地應(yīng)用于其他功能系統(tǒng)測(cè)試，具有較高的推廣價(jià)值。PCB功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試PCB板的功能和連通性。江蘇變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

測(cè)試儀主要功能，測(cè)試儀采用電路在線測(cè)試技術(shù)，可以用來(lái)在線或離線測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見(jiàn)故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。嘉興測(cè)試系統(tǒng)方**能測(cè)試系統(tǒng)可以確保產(chǎn)品符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)和要求。

技術(shù)特點(diǎn)：1、全自動(dòng)測(cè)試方法，對(duì)操作人員要求低；2、自動(dòng)準(zhǔn)確判斷每個(gè)細(xì)節(jié)，不產(chǎn)生遺漏和誤判；3、自動(dòng)多項(xiàng)目集中測(cè)試和多測(cè)試點(diǎn)同步測(cè)試，減少工位和工時(shí)；4、應(yīng)用優(yōu)越的自校準(zhǔn)技術(shù)，轉(zhuǎn)機(jī)種不需要高素質(zhì)工程人員；5、用戶(hù)界面友好，易于實(shí)現(xiàn)新機(jī)種自動(dòng)測(cè)試之編程和調(diào)試；6、治具結(jié)構(gòu)規(guī)范，利于統(tǒng)一管理和控制成本；7、測(cè)試結(jié)果由PC分析得出PASS或FAIL。8、對(duì)FAIL品可即時(shí)打印出相關(guān)數(shù)據(jù)，對(duì)整個(gè)測(cè)試過(guò)程可生成統(tǒng)計(jì)報(bào)表文件以供日后隨時(shí)調(diào)用，該文件可通過(guò)EXCEL打開(kāi)。

測(cè)試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來(lái)，存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中，然后與同類(lèi)有故障的電路板進(jìn)行比較，從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測(cè)試分析該項(xiàng)測(cè)試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專(zhuān)門(mén)使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測(cè)試。測(cè)試儀通過(guò)測(cè)試探棒或測(cè)試夾自動(dòng)把被測(cè)點(diǎn)的特征曲線提取出來(lái)，顯示在微機(jī)屏幕上，較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí)，將實(shí)測(cè)到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。驗(yàn)收功能測(cè)試系統(tǒng)用于驗(yàn)證產(chǎn)品符合規(guī)格要求。

Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來(lái)越強(qiáng)，封裝越來(lái)越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難，開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。無(wú)線綜合測(cè)試：針對(duì)無(wú)線通信設(shè)備，實(shí)現(xiàn)信號(hào)質(zhì)量、傳輸速率等全方面測(cè)試。嘉興測(cè)試系統(tǒng)方法

通用自動(dòng)功能測(cè)試系統(tǒng)適用于多種設(shè)備的功能性驗(yàn)證。江蘇變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

測(cè)試方式選擇（TMS）用來(lái)加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；較后提出了邊界掃描語(yǔ)言（Boundary Scan Description Language），BSDL語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類(lèi)型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱(chēng)為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來(lái)控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)。江蘇變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商