智能儀器組成的智能測試系統，在這類測試系統中，往往有多個重復的部件或功能單元。例如，在一個IEEE-488儀器系統中可能包含微機、邏輯分析儀、數字示波器、智能數字多用表、頻譜分析儀和網絡分析儀等多臺帶GPIB接口的單獨式智能儀器。它們都有CRT、鍵盤和存儲器等部件。因此，在利用臺式、便攜式甚至機架疊層式智能儀器組成測試系統時，勢必造成資源浪費、成本過高。PC儀器系統，將傳統式單獨儀器的測量電路部分與接口部分集中在一起制成儀器卡，而儀器所需的鍵盤、GRT和存儲器等均借助PC機的資源，就構成了PC儀器，又稱模塊式儀器。隨著眾多總線系統的電性能不能滿足官方、航天等部門的更高要求，故改善PC儀器系統的性能并便其標準化勢在必行。離線功能測試系統可脫機進行功能驗證。集成測試系統設備
治具，常規的治具設計，大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測試過程中壓板下壓時，如果壓板、載板、針板固定不佳，容易產生晃動，從而使UUT產生翹邊變形，進行而導致測試針和測試點接觸不良或者位置偏移，使得測試針彎曲變形引起誤測甚至導致UUT裂損。上述情況的發生，尤其是在UUT的厚度發生較大變化時更容易產生。治具定位原理，根據電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據工件的不同情況。1、以外緣輪廓定位，對于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板，可采用外輪廓定位方式。長邊用定位板，限制2個自由度；短邊用定位針，限制1個自由度。在另一短邊，還可以增加1只定位針，形成所謂的約束性過定位。這種方式中，兩根定位柱所限位的尺寸應比UUT尺寸略大，在0.3mm～0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在，定位精度會略有降低，但操作方便、制造簡單。2、以“邊/孔”定位，對于面積尺寸較大的電路板，可以采用“邊/孔”定位，這也屬于約束性過定位的一種。定位板限制2個自由度，定位柱限制2個自由度。這種形式中，通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。臺州驗收測試系統多少錢電源功能測試系統用于驗證各類電源的輸出性能。
測試對象的功能測試應側重于所有可直接追蹤到用例或業務功能和業務規則的測試需求。這種測試的目標是核實數據的接受、處理和檢索是否正確，以及業務規則的實施是否恰當。測試目標 確保測試的業務功能正常，其中包導航性質菜單，數據輸入，處理和檢索等功能。功能系統測試，根據產品特性、操作描述和用戶方案，測試一個產品的特性和可操作行為以確定它們滿足設計需求。本地化軟件的功能測試，用于驗證應用程序或網站對目標用戶能正確工作。
印制電路板所使用到的自動測試技術發展迅速，尤其以印制板在線測試系統（ATE）普遍應用于印制板光板及各種產品的印制電路板的生產、檢測和維修等為主，如右圖。ATE 的測試方法可分接觸式測試和非接觸式測試兩大類。其中接觸式測試分為在線測試、功能測試、BIST 和邊界掃描測試等；非接觸式測試又可分為非向量測試、自動視覺測試、紅外熱圖象測試、X 射線和激光測試。隨著計算機技術及VXI 總線技術的應用，各種建立在VXI 測試平臺上的印制電路板的ATE 和功能測試也得到迅速發展。人工智能在功能測試中的應用：利用人工智能技術，實現測試過程的自動化和智能化。
全球主要ICT自動測試設備生產廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國)，Teradyne泰瑞達(美國)、Check Sum（美國）、AEROFLEX（美國）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系新（中國臺灣）、JET(捷智）、Tr(德泰)、SRC星河、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、TTI,NI,APM(全天科技)等等品牌。不同品牌ICT的測試原理相同或相似。功能測試系統可幫助定位產品功能故障和改進設計。浙江在線測試系統有什么用
電路板功能測試：針對電路板上的各個功能模塊進行測試，確保電路板性能穩定。集成測試系統設備
電路中采用負載電阻及差分放大電路LM343對測試點進行電壓跟隨，將測試點的電流值轉換為A/D變換電路可以處理的電壓量。選用AD7574八位逐次比較式高速A/D變換電路。轉換時間為15μS，單+5V電源供電。參考電壓選用VREF=-8V。輸入電壓范圍為0~+|VREF|。程序控制芯片RD端產生一個負脈沖就可啟動A/D轉換。軟件模塊：測試儀由便攜式主控計算機通過串行口進行控制，單片機測試平臺的完成激勵控制、數據采集等工作，所有數據分析處理及命令控制由便攜式主計算機完成。整套測試軟件由主控軟件、數據通信軟件、離線測試軟件、在線功能測試軟件、在線狀態測試軟件、VI特性測試軟件、節點電壓測試軟件、電子手冊、測試開發軟件、系統自檢軟件等幾個主要模塊組成。集成測試系統設備