可采用以下幾種定位方式根據工件的不同情況以“孔/孔”定位，對于狹長形的UUT，由于其容易變形，使用上述1和2的方式均需要用到電路板的外緣輪廓，因此并不準確，此時應采用雙孔定位。注意對于變形較大的UUT，此孔的位置也不宜選在電路板的兩端，但兩孔間距也不宜過小，設計時定位柱和定位孔的間隙適量放大，一般在0.1mm～0.3mm。綜上可見，電路板的定位對于治具設計極為重要，不同的定位方式直接影響到定位精度及測試設備的結構, 因此定位方式的選擇很重要。綜合考慮以上各種現行方案的優缺點，設計為 “一面兩空”的定位方式，如下如所示，即利用UUT的一個平面和兩個（或多個）定位孔，特點是制取方法容易、夾具結構簡單、制造加工容易,、滿足精度要求。單元功能測試系統用于測試單一功能的設備。電機測試系統設計

零點漂移自校正:測量中較常見的問題就是長期工作時的不穩定性和零點漂移。這主要是由于傳感器和放人器的零漂造成的。在智能儀器中，利用計算機對由于這種零漂而造成的誤差進行自動補償和修正，或對放大器的增益進行自動調整。從而可在不采用高成本的電子元器件的情況上解決零點漂移問題。提高信噪比:利用計算機強大的計算和數據處理功能，用軟件的方法去除噪聲。控制測量過程及對測量數據的自動和實時的處理和分析:通過在智能儀器上的計算機來實現。嘉興電源測試系統定制小型化趨勢：隨著電子產品向小型化發展，功能測試系統也需要適應這一趨勢，實現便攜式、高效測試。

測試方式選擇（TMS）用來加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測試模式，主要有外測試（EXTEST）、內測試（INTEST）、運行測試（RUNTEST）；較后提出了邊界掃描語言（Boundary Scan Description Language），BSDL語言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構成一個移位寄存器鏈，用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務。

測試對象的功能測試應側重于所有可直接追蹤到用例或業務功能和業務規則的測試需求。這種測試的目標是核實數據的接受、處理和檢索是否正確，以及業務規則的實施是否恰當。測試目標 確保測試的業務功能正常，其中包導航性質菜單，數據輸入，處理和檢索等功能。功能系統測試，根據產品特性、操作描述和用戶方案，測試一個產品的特性和可操作行為以確定它們滿足設計需求。本地化軟件的功能測試，用于驗證應用程序或網站對目標用戶能正確工作。各種功能測試系統：涵蓋各類電子設備，為不同領域提供專業測試解決方案。

PCBA通用型自動化測試系統ETE-A100，是針對滯后的手工測試以及為了滿足PCBA測試在操作簡便性上的需求而誕生的 。由于測試系統的強大，可對各種PCBA進行測試，成為通用化測試系統。檢測原理人性化：通過對樣板的參數采集，設定誤差范圍，與被測板進行比較并判斷是否合格。測試操作簡易化：只需手動將針床壓合，系統就會自動化處理，并得出產品好壞結果，免去人為判斷因素，其速度是手動測試無法比擬的。系統由采集、控制板卡及測試軟件組成，外接可編程AC/DC電源和直流負載，高采樣率產品可選配外接示波器。驗收功能測試系統用于驗證產品符合規格要求。上海單元測試系統服務商

功能測試系統有利于產品上市前的全方面驗收。電機測試系統設計

操作系統，可供電路板測試選擇的操作系統很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，選擇操作系統時受限于硬件設備的支持、程序人員的技術水平、操作系統的普及程度和操作系統本身特點等諸多因素，趨于采用廣為普及的Windows操作系統。總線技術，電路板測試技術的發展與儀器控制總線的發展永遠是密切相關的，儀器控制總線的每一次更新都促進電路板測試技術的更新。儀器控制總線有GPIB總線、VXI總線和PXI總線三種，它們是發展過程中依次出現的總線技術，表示著電路板測試技術的發展歷程。GPIB總線是早期出現的儀器接口控制總線，多用于常見的臺式儀器上，采用該總線集成的系統體積大、數據傳輸速率低（較大數據傳輸速率為1MB/s）且同一系統總線上較多可連15臺儀器。電機測試系統設計