第二時間點讀點、第三時間點讀點至第n時間點讀點。在每個時間點讀點過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由讀出放大器進行比對判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。具體的，在閃存(例如norflash)產品htol可靠性驗證的階段的測試流程例如依次為：初始(***時間點)讀點、48小時(第二時間點)讀點、168小時(第三時間點)讀點、500小時(第四時間點)讀點、1000小時(第n時間點)讀點。本發明實施例的閃存參考單元未經過編譯和擦除循環而直接進行htol測試時，發現閃存htol可靠性驗證在48小時(hrs)讀點失效。上海頂策科技TH801智能老化系統，擁有智能動態在線實時檢測技術，同時一體化結合ATE與高溫老化爐。靜安區HTOL測試機推薦

提供可靠性測試整體解決方案：可靠性設備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬，數字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設計，原理圖設計，PCBlayout加工制作，老化程序開發調試，可靠性測試實驗，出具可靠性報告等一條龍服務。20年以上的豐富測試技術積累及運營經驗，擁有多項發明專利及軟件著作權，自成立以來，已經為超過500家半導體公司提供高質量，高效率，低成本，一條龍的上等測試解決方案！金山區在線HTOL測試機上海頂策科技TH801智能老化系統，數據異常自動報警，大幅度降低HTOL問題分析難度。

上海頂策科技有限公司，提供可靠性測試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設備，以及測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。自主研發TH801智能一體化HTOL測試機，實時監測并記錄環境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據，確保芯片處于正常HTOL狀態，保證HTOL測試質量。通過監測數據，可實時發現問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本。全程數據記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性；有全程HTOL數據記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。

    技術實現要素：本發明提供了一種閃存htol測試方法，以解決閃存htol測試中讀點失效的問題。本發明提供的閃存htol測試方法，包括：提供待測閃存，所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元；所述閃存參考單元中捕獲有空穴；對所述閃存參考單元循環進行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對所述閃存進行htol測試，所述引入電子在所述htol測試過程中部分丟失，以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。進一步的，所述閃存參考單元包括襯底、位于所述襯底中的導電溝道、位于所述導電溝道兩側的源極和漏極，位于所述導電溝道上方的柵極單元，所述柵極單元從下到上依次包括隧穿氧化層、浮柵、柵間介質層以及控制柵，所述柵極單元的兩側分布有側墻。 上海頂策科技智能HTOL系統，有全程HTOL數據記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。

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    MIL-STD-883K-2016：穩態反向偏置S級**少時間有240h到120h共6個級別；B級**少時間352h到12h共10個級別；K級**少時間從700h到320h共6個級別。S級最低溫度從125℃到150℃共6個級別；B級別最低溫度從100℃到250℃；K級最低溫度從100℃到125℃。電壓大小全部為額定電壓B：穩態正向偏置C：穩態功率反向偏置D：并聯勵磁E：環形振蕩器F：溫度加速試驗————————————————版權聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創文章，遵循，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：blog./qq_36671997/article/details/。 靜安區HTOL測試機推薦