高效率HTOL自研設備，高質量HTOL品質保障，低成本HTOL測試方案。上海頂策科技有限公司TH801智能一體化老化測試機，自主研發在線實時單顆監測技術，通過監測數據，可以實時發現問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本，全程數據記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性；有全程HTOL數據記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。可靠性測試事業部提供可靠性測試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設備，以及測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，可以滿足各類芯片可靠性測試需求。上海頂策科技自主研發智能HTOL測試機TH801，實時監測并記錄每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據。松江區HTOL測試機怎么用
上海頂策科技有限公司（Topictest）推出的TH801，智能在線監控動態老化設備，可以監控的參數除了整板的電壓，電流，還可以根據需求，監控到老化中每顆芯片的電壓、電流，寄存器數據，時間，頻率等諸多參數，并實時記錄保存成Excel文檔。這樣不僅可以確保每顆芯片都處于正常的老化狀態，保證老化測試的質量，同時還可以清楚地知道具體失效的參數，以及在什么時間點失效等諸多信息，非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以監控更多芯片參數，這使得免除ATE回測成為可能，這將大幅度提高老化測試效率，節省更多人力成本！這項技術目前已在對芯片質量要求較高的芯片設計公司廣泛應用。寶山區什么是HTOL測試機上海頂策科技的HTOL測試機TH801，自有發明專利的智能HTOL系統，自主研發在線實時單顆監測技術。
1.試驗目的標準試驗目的備注JESD22-A108F-2017確定偏置條件和溫度對于固態器件隨時間的影響。試驗可以加速地模擬器件的運行狀態，主要用于器件的可靠性測試。本實驗在較短時間內對器件施加高溫偏置，通常也被稱為老化或老煉。，這些器件隨著時間和應力變化而產生的失效。GJB548B-2015方法，這些器件隨著時間和應力變化而產生的失效。AEC-Q100參照JESD220-A108F-2017————————————————版權聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創文章，遵循，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。
芯片HTOL測試如何做到省力省心？上海頂策科技有限公司，提供可靠性測試整體解決方案：可靠性設備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬，數字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設計，原理圖設計，PCBlayout加工制作，老化程序開發調試，可靠性測試試驗，出具可靠性報告等全方面服務。自有發明專利的智能HTOL系統，自主研發在線實時單顆監測技術，可靈活配置芯片工作狀態，并施加信號，非常方便HTOLSetup，實時監測并記錄環境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據，確保芯片處于正常HTOL狀態。TH801智能老化系統，實時監測并記錄每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據。
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上海頂策科技TH801智能老化系統，擁有智能動態在線實時檢測技術，同時一體化結合ATE與高溫老化爐。松江區HTOL測試機怎么用
在每個時間點讀點過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由讀出放大器進行比對判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。與現有技術相比，本發明具有如下有益效果：本發明所提供的閃存htol測試方法，對所述閃存參考單元循環進行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對所述閃存進行htol測試，所述引入電子在所述htol測試過程中存在丟失，以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。降低了閃存參考單元的輸出電流iref的偏移量，從而使閃存htol讀“0”通過，解決了閃存htol測試中讀點失效的問題，提高閃存質量。附圖說明圖1為本發明實施例的閃存htol測試方法流程圖；圖2為本發明實施例的閃存參考單元的結構示意圖；圖3為本發明實施例的對閃存參考單元進行編譯示意圖；圖4為本發明實施例的對閃存參考單元進行擦除示意圖；圖5為本發明實施例的閃存參考單元未經過編譯和擦除直接進行htol測試的輸出電流iref分布圖；松江區HTOL測試機怎么用