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    HTOL的注意要點高溫工作壽命的測試條件主要遵循JESD22-A108進行，除了給器件合適的偏置與負載外，主要包括溫度應力和電壓應力，這兩者都屬于加速因子。合理設置溫度應力和電壓應力，以便在合理的時間和成本下完成壽命評估。對于硅基產品，溫度應力一般設置在結溫>=125℃，GaAs等其它耐高溫材料則可以設置更高的溫度，具體根據加速要求而定。但無論哪種材料，均需要結溫小于材料的極限工作溫度或者熱關斷（thermalshutdown）溫度。HTOL硬件的散熱設計有利于加速因子的提高，這樣可以節省試驗時間。電壓應力一般采用最高工作電壓進行，如果需要提高加速度，則可以采用更高的電壓進行試驗，但是無論電壓應力還是溫度應力都不允許器件處于過電應力的狀態。

閃存參考單元包括：襯底100，位于所述襯底中的導電溝道、位于所述導電溝道兩側的源極101和漏極102，位于導電溝道上方的柵極單元，所述柵極單元從下到上依次包括隧穿氧化層103、浮柵104、柵間介質層105以及控制柵106,所述柵極單元的兩側分布有側墻107。柵間介質層105例如可以為依次層疊的氧化硅層、氮化硅層和氧化硅層的多層結構，即為ono結構。具體的，閃存在其生產工藝過程中易在閃存參考單元的隧穿氧化層103中捕獲(引入)空**3為本發明實施例的對閃存參考單元進行編譯示意圖，如圖3所示，對所述閃存參考單元進行編譯，包括：在所述源極101上施加***編程電壓vb1，在所述漏極102上施加第二編程電壓vb2，在所述控制柵106上施加第三編程電壓vb3，在所述襯底100上施加第四編程電壓vb4；其中，所述***編程電壓vb1小于所述第二編程電壓vb2；所述第二編程電壓vb2小于所述第三編程電壓vb3。所述***編程電壓的范圍為～0v,所述第二編程電壓的范圍為～，所述第三編程電壓vb3的范圍為8v～10v,所述第四編程電壓vb4的范圍為～-1v，編譯過程中的脈沖寬度為100μs～150μs。編譯通過熱電子注入的方式對所述浮柵104中注入電子。上海頂策科技智能HTOL系統，實時監測并記錄環境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態等數據。

高效率HTOL自研設備，高質量HTOL品質保障，低成本HTOL測試方案。上海頂策科技有限公司TH801智能一體化老化測試機，自主研發在線實時單顆監測技術，通過監測數據，可以實時發現問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本，全程數據記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性；有全程HTOL數據記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。可靠性測試事業部提供可靠性測試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設備，以及測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，可以滿足各類芯片可靠性測試需求。TH801智能老化系統，實時監測并記錄環境溫度，確保芯片處于正常HTOL狀態，保證HTOL測試質量。靜安區本地HTOL測試機

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上海頂策科技有限公司（Topictest）推出的TH801，智能在線監控動態老化設備，可以監控的參數除了整板的電壓，電流，還可以根據需求，監控到老化中每顆芯片的電壓、電流，寄存器數據，時間，頻率等諸多參數，并實時記錄保存成Excel文檔。這樣不僅可以確保每顆芯片都處于正常的老化狀態，保證老化測試的質量，同時還可以清楚地知道具體失效的參數，以及在什么時間點失效等諸多信息，非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以監控更多芯片參數，這使得免除ATE回測成為可能，這將大幅度提高老化測試效率，節省更多人力成本！這項技術目前已在對芯片質量要求較高的芯片設計公司廣泛應用。奉賢區HTOL測試機大概費用

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